[發明專利]一種用于集成電路測試的裝置無效
| 申請號： | 201110412462.0 | 申請日： | 2011-12-12 |
| 公開（公告）號： | CN102495248A | 公開（公告）日： | 2012-06-13 |
| 發明（設計）人： | 段超毅 | 申請（專利權）人： | 段超毅 |
| 主分類號： | G01R1/073 | 分類號： | G01R1/073;G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京英特普羅知識產權代理有限公司 11015 | 代理人： | 齊永紅 |
| 地址： | 266000 山東省青島市黃*** | 國省代碼： | 山東;37 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 用于 集成電路 測試 裝置 | ||
【權利要求書】：
1.一種用于集成電路測試的裝置，包括探針固定裝置，其特征在于：所述探針固定裝置包括側板和至少兩塊探針固定板；其中，
所述探針固定板的上表面和下表面具有平行設置的凹槽，所述凹槽包括與探針主體相匹配的第一凹槽，以及位于直線凹槽兩端的與探針端部相匹配的第二凹槽，第二凹槽的截面形狀為半圓形；并且，
疊放在一起的兩塊探針固定板的相對應的凹槽端部形成圓形孔，疊放在一起的兩塊探針固定板的凹槽端部形成一排圓孔，疊放在一起的多塊探針固定板的凹槽端部形成圓孔陣列。
2.根據權利要求1所述的用于集成電路測試的裝置，其特征在于：多塊探針固定板采用注塑的方式夾固于兩塊所述側板之間。
3.根據權利要求1或2所述的用于集成電路測試的裝置，其特征在于：夾固于兩對應凹槽之間的探針的一端與測試印刷電路板電連接，另一端與被測集成電路電連接。
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