[發明專利]SRAM型FPGA電離總劑量輻照試驗偏置裝置

無效

• 申請號: 201110409667.3
• 申請日: 2011-12-09
• 公開（公告）號: CN102540061A
• 公開（公告）日: 2012-07-04
• 發明（設計）人: 孟猛;寧永成;于慶奎;陳旭東;唐民
• 申請（專利權）人: 中國空間技術研究院
• 主分類號: G01R31/3185
• 分類號: G01R31/3185
• 代理公司: 北京泛華偉業知識產權代理有限公司 11280
• 代理人: 王勇

1.一種SRAM型FPGA電離總劑量輻照試驗偏置裝置，包括：

偏置測試板；

偏置測試板上的轉接板，用于承載被測FPGA；

偏置測試板上的配置狀態檢測單元；

偏置測試板上的程控電源；

配置管理單元。

2.根據權利要求1所述的偏置裝置，其中配置管理單元包括偏置測試板上存儲器配置管理單元，由可擦寫只讀存儲器PROM構成。

3.根據權利要求2所述的偏置裝置，其中配置管理單元還包括計算機配置管理單元，通過被測FPGA的JTAG端口對被測FPGA進行配置。

4.根據權利要求3所述的偏置裝置，其中計算機配置管理單元的優先級別高于存儲器配置管理單元。

5.根據權利要求1所述的偏置裝置，其中配置狀態檢測單元由發光管和電阻器組成。

6.根據權利要求1的偏置裝置，其中當偏置裝置加電后，被測FPGA和PROM被加電，存放在PROM中的程序通過被測器件的配置端口對被測FPGA自動配置。

7.一種SRAM型FPGA電離總劑量輻照試驗偏置裝置操作方法，包括：

1)將被測器件裝上輻照試驗板；

2)開啟程控電源，對輻照偏置板加電，使裝在輻照試驗板上的被測FPGA、PROM同時被加電；

3)使配置管理單元完成對被測器件的配置；

4)配置狀態管理單元檢測器件是否配置成功。

8.根據權利要求7所述的操作方法，其中步驟3)包括使存儲器配置管理單元完成對被測器件的配置。

9.根據權利要求7所述的操作方法，其中步驟3)包括使計算機配置管理單元完成對被測器件的配置。

10.根據權利要求7所述的操作方法，其中還包括將FPGA配置后進行電離總劑量輻照試驗。