[發(fā)明專利]精密伺服系統(tǒng)和方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201110403198.4
• 申請日: 2011-11-30
• 公開（公告）號: CN102486924A
• 公開（公告）日: 2012-06-06
• 發(fā)明（設計）人: 任志遠;史曉蕾;王雪峰
• 申請（專利權）人: 通用電氣公司
• 主分類號: G11B7/0065
• 分類號: G11B7/0065;G11B7/09
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 張金金;朱海煜

1.一種當讀取記錄的全息光盤(10)或在預格式化的全息光盤(10)中記錄時用于伺服的方法，所述方法包括：

檢測從所述全息光盤的目標數(shù)據(jù)層的目標數(shù)據(jù)軌道反射的初級束的初級信號，輻射的所述初級束包括第一波長；

將所述初級信號的功率測量與功率閾值比較；

在所述初級信號的所述功率測量低于所述功率閾值的情況下，檢測從所述全息光盤的參考層反射的跟蹤束的跟蹤信號，輻射的跟蹤束包括第二波長；

基于所述初級信號或所述跟蹤信號產(chǎn)生伺服誤差信號；以及

基于所述初級伺服誤差信號或所述跟蹤伺服誤差信號致動光學子系統(tǒng)使得所述初級束聚焦在所述目標數(shù)據(jù)層上。

2.如權利要求1所述的方法，其中所述檢測初級信號包括檢測來自反射初級束的反射功率分布。

3.如權利要求1所述的方法，其中所述檢測跟蹤信號包括檢測來自反射跟蹤束的反射功率分布。

4.一種當讀取記錄的全息光盤(10)或在預格式化的全息光盤(10)中記錄時用于伺服的系統(tǒng)(80)，所述系統(tǒng)(80)包括：

第一檢測器(84)，其配置成檢測從所述全息光盤的目標數(shù)據(jù)層的目標數(shù)據(jù)軌道反射的初級束的初級信號(86)，所述初級束包括第一波長；

第二檢測器(88)，其配置成檢測從所述全息光盤的參考層反射的跟蹤束的跟蹤信號(90)，所述跟蹤束包括第二波長；

處理子系統(tǒng)(92)，其包括：

配置成將所述初級信號的功率測量與功率閾值比較的比較器；

至少一個伺服誤差發(fā)生器(98)，其配置成基于所述初級信號產(chǎn)生初級伺服誤差信號或基于所述跟蹤信號產(chǎn)生跟蹤伺服誤差信號；和

伺服控制器(104)，其配置成在所述功率測量大于或等于所述閾值的情況下基于所述初級伺服誤差信號產(chǎn)生致動信號，或在所述功率測量小于所述閾值的情況下基于所述跟蹤伺服誤差信號產(chǎn)生致動信號(105)；以及

光學子系統(tǒng)(108)，其配置成基于所述致動信號(105)致動使得所述初級束聚焦在所述目標數(shù)據(jù)層上。

5.如權利要求4所述的系統(tǒng)(80)，其中所述參考層包括部分二向色涂層或部分金屬化涂層中的至少一個。

6.一種當讀取記錄的全息光盤(10)或在預格式化的全息光盤(10)中記錄時用于伺服的方法，所述方法包括：

檢測從所述全息光盤的參考層反射的跟蹤束的跟蹤信號，其中輻射的所述跟蹤束包括第一波長并且所述參考層包括部分二向色涂層或部分金屬化涂層中的至少一個；

基于所述跟蹤信號產(chǎn)生跟蹤伺服誤差信號；

基于所述跟蹤伺服誤差信號獲得跟蹤跑出曲線；

基于所述跟蹤伺服誤差信號致動光學子系統(tǒng)使得所述跟蹤束聚焦在所述參考層上；

檢測從所述全息光盤的目標數(shù)據(jù)層反射的輻射初級束的初級信號，所述輻射初級束包括第二波長；

基于所述初級信號產(chǎn)生初級伺服誤差信號；

基于所述初級伺服誤差信號和獲得的跟蹤跑出曲線致動所述光學子系統(tǒng)以將所述初級束聚焦在所述數(shù)據(jù)層上。

7.如權利要求6所述的方法，其中所述致動所述光學子系統(tǒng)包括基于分別從所述初級伺服誤差信號或所述跟蹤伺服誤差信號產(chǎn)生的初級致動信號或跟蹤致動信號而致動。