[發(fā)明專利]智能卡掉電保護(hù)功能的測(cè)試系統(tǒng)及方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201110379277.6
• 申請(qǐng)日: 2011-11-24
• 公開（公告）號(hào): CN102520272A
• 公開（公告）日: 2012-06-27
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 金銀軍;丁岳;劉俊;江海朋
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 大唐微電子技術(shù)有限公司
• 主分類號(hào): G01R31/00
• 分類號(hào): G01R31/00
• 代理公司: 北京安信方達(dá)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11262
• 代理人: 栗若木;王漪

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及智能卡性能測(cè)試技術(shù)，尤其涉及智能卡掉電保護(hù)功能的測(cè)試系統(tǒng)及方法。

背景技術(shù)

智能卡又稱為IC卡(Integrated?Circuit?Card/SMART?card)。根據(jù)卡中使用的集成電路的不同可以分為存儲(chǔ)器卡、邏輯加密卡、CPU卡和射頻卡。由于CPU卡中集成了微處理器、存儲(chǔ)單元以及芯片操作系統(tǒng)COS(Chip?Operating?System)，從而構(gòu)成一個(gè)完整的計(jì)算機(jī)系統(tǒng)。

隨著我國(guó)信息化的發(fā)展，智能卡越來(lái)越廣泛地應(yīng)用于金融、交通、電子商務(wù)、電子政務(wù)、通信、醫(yī)療保險(xiǎn)和社會(huì)保險(xiǎn)等行業(yè)，實(shí)現(xiàn)網(wǎng)絡(luò)支付、身份驗(yàn)證、保密存貯和通信等功能。智能卡的掉電保護(hù)功能是智能卡的一項(xiàng)很重要的性能指標(biāo)，它代表一個(gè)智能卡在突然掉電的情況下對(duì)正在進(jìn)行業(yè)務(wù)的數(shù)據(jù)保護(hù)能力的強(qiáng)弱。因此，開發(fā)研制與之配套的智能卡掉電保護(hù)功能的測(cè)試裝置及方法就變得非常迫切。

現(xiàn)有的智能卡掉電保護(hù)功能測(cè)試裝置通過多采用人工插拔智能卡、突拔手機(jī)電池以及采用繼電器通斷操作等方式模擬智能卡突然掉電，從而實(shí)現(xiàn)對(duì)智能卡掉電保護(hù)功能的測(cè)試。這樣的操作方式會(huì)導(dǎo)致出現(xiàn)以下一些問題：

(1)不能精確地模擬智能卡的在任意時(shí)刻的掉電過程，因此不能有效地測(cè)試智能卡突然掉電情況下的數(shù)據(jù)保護(hù)情況；

(2)模擬的掉電過程可能會(huì)產(chǎn)生抖動(dòng)而導(dǎo)致出現(xiàn)其它問題，從而無(wú)法保證智能卡掉電保護(hù)功能的正確測(cè)試；

(3)采用人工或用繼電器實(shí)現(xiàn)斷電操作有很大的隨機(jī)性，為了盡可能覆蓋測(cè)試點(diǎn)，就得進(jìn)行數(shù)萬(wàn)次操作，這樣會(huì)導(dǎo)致完成測(cè)試的時(shí)間周期很長(zhǎng)，且人力成本較高。

綜上所述可知，需要提供一種智能卡掉電保護(hù)功能測(cè)試系統(tǒng)及方法，能夠有效地測(cè)試智能卡在任意時(shí)刻突然掉電情況下的數(shù)據(jù)保護(hù)功能。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是提供一種智能卡掉電保護(hù)功能測(cè)試系統(tǒng)及方法，能夠精確、有效地測(cè)試智能卡突然掉電情況下的數(shù)據(jù)保護(hù)功能。

為了解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明提供了一種智能卡掉電保護(hù)功能測(cè)試系統(tǒng)，除了包括進(jìn)行數(shù)據(jù)通信的讀卡器和智能卡外，還包括一兆赫茲級(jí)的高速電子開關(guān)和一控制裝置，其中：

高速電子開關(guān)，連接在讀卡器和智能卡之間，并與控制裝置連接，用于在控制裝置的控制下接通或斷開讀卡器和智能卡；

控制裝置，與讀卡器連接，用于在控制高速電子開關(guān)接通時(shí)，跟蹤讀卡器與智能卡的數(shù)據(jù)通信；在控制高速電子開關(guān)斷開時(shí)，測(cè)試智能卡的數(shù)據(jù)保護(hù)狀況。

進(jìn)一步地

高速電子開關(guān)是高速模擬開關(guān)、數(shù)字開關(guān)或數(shù)字-模擬開關(guān)中的任意一種；

所述控制裝置是32位CPU芯片，具有7816接口；在進(jìn)行測(cè)試之前還設(shè)置測(cè)試參數(shù)，包括測(cè)試點(diǎn)、高速電子開關(guān)的通斷頻率以及測(cè)試模式中的一種或多種參數(shù)；根據(jù)設(shè)置的測(cè)試參數(shù)并通過控制通用輸入輸出接口定時(shí)控制高速電子開關(guān)的接通或斷開；當(dāng)控制高速電子開關(guān)接通且監(jiān)測(cè)到讀卡器通過高速電子開關(guān)與智能卡進(jìn)行無(wú)損通信時(shí)，跟蹤讀卡器與智能卡的數(shù)據(jù)通信；當(dāng)控制高速電子開關(guān)斷開時(shí)，根據(jù)提供的測(cè)試腳本對(duì)智能卡的數(shù)據(jù)保護(hù)狀況進(jìn)行測(cè)試。

進(jìn)一步地，在測(cè)試參數(shù)中：

測(cè)試點(diǎn)包括在智能卡的卡內(nèi)文件更新階段、安全數(shù)據(jù)更改階段的測(cè)試；

高速電子開關(guān)的通斷頻率依據(jù)測(cè)試精度的要求確定；

測(cè)試模式包括本裝置測(cè)試腳本語(yǔ)言或高級(jí)測(cè)試腳本語(yǔ)言。

進(jìn)一步地，該系統(tǒng)還包括與讀卡器連接的上位測(cè)試終端，其中：

控制裝置根據(jù)上位測(cè)試終端設(shè)置的測(cè)試參數(shù)及提供的測(cè)試腳本對(duì)智能卡掉電的數(shù)據(jù)保護(hù)狀況進(jìn)行測(cè)試，和/或?qū)y(cè)試結(jié)果返回給上位測(cè)試終端；

上位測(cè)試終端，用于通過讀卡器設(shè)置控制裝置的測(cè)試參數(shù)，將測(cè)試腳本提供給控制裝置，對(duì)下發(fā)到智能卡的測(cè)試指令以界面的形式顯示并記錄，根據(jù)控制裝置返回的測(cè)試結(jié)果顯示測(cè)試報(bào)告，供測(cè)試人員分析。

進(jìn)一步地，

上位測(cè)試終端包括PC機(jī)、平板電腦、手機(jī)或掌上電腦中的任意一種終端。

為了解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明提供了一種智能卡掉電保護(hù)功能測(cè)試方法，除了涉及進(jìn)行數(shù)據(jù)通信的讀卡器和智能卡外，還涉及兆赫茲的高速電子開關(guān)和控制裝置，該方法包括：

將高速電子開關(guān)連接在讀卡器和智能卡之間；

控制裝置在控制高速電子開關(guān)接通時(shí)，跟蹤讀卡器與智能卡的數(shù)據(jù)通信，并在控制高速電子開關(guān)斷開時(shí)，測(cè)試智能卡的數(shù)據(jù)保護(hù)狀況。

進(jìn)一步地，在進(jìn)行測(cè)試之前還包括：