[發明專利]改進的輸入設備和相關聯的方法有效
| 申請號: | 201110378639.X | 申請日: | 2011-11-21 |
| 公開(公告)號: | CN102591488A | 公開(公告)日: | 2012-07-18 |
| 發明(設計)人: | L·斯塔克;W·哈利迪 | 申請(專利權)人: | 意法半導體(R&D)有限公司 |
| 主分類號: | G06F3/033 | 分類號: | G06F3/033 |
| 代理公司: | 北京市金杜律師事務所 11256 | 代理人: | 王茂華 |
| 地址: | 英國白*** | 國省代碼: | 英國;GB |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 改進 輸入 設備 相關 方法 | ||
1.一種用于設備的輸入設備,所述輸入設備包含鄰近檢測器和光源,其中所述光源發射光到感測區域,當所述感測區域的鄰近區域中存在物體時,所述光被反射回到所述鄰近檢測器,從而使得所述鄰近檢測器可以產生指示所述物體距所述鄰近檢測器的距離的輸出,以生成用于控制所述設備的控制信號,其中所述鄰近檢測器包括單光子雪崩二極管。
2.根據權利要求1所述的輸入設備,包括彼此遠離定位的至少兩個鄰近檢測器,其中:
第一鄰近檢測器產生指示第一距離的輸出,所述第一距離是所述第一鄰近檢測器與所述物體之間的距離;以及
第二鄰近檢測器產生指示第二距離的輸出,所述第二距離是所述第二鄰近檢測器與所述物體之間的距離。
3.根據權利要求2所述的輸入設備,其中,處理器基于所述第一距離、所述第二距離以及所述第一鄰近檢測器與所述第二鄰近檢測器之間的距離來計算所述物體的二維位置。
4.根據權利要求3所述的輸入設備,其中,處理器將所述物體的所述二維位置提供為具有其原點定位在所述第一鄰近檢測器處的平面的笛卡爾坐標,其中x軸穿過所述第二鄰近檢測器。
5.根據權利要求4所述的輸入設備,其中,所述物體的x坐標由給出,并且所述物體的y坐標由給出,其中r1是所述第一距離,是r2所述第二距離,并且d是兩個光檢測器之間的距離。
6.根據權利要求1所述的輸入設備,其中,所述鄰近檢測器包括單光子雪崩二極管的陣列。
7.根據權利要求6所述的輸入設備,其中,所述單光子雪崩二極管的陣列包括布置成行與列的多個單光子雪崩二極管。
8.根據權利要求6或者7所述的輸入設備,其中,所述單光子雪崩二極管的陣列連接到多工器和計數器,以允許反射照明的測量。
9.根據前述任何一項權利要求所述的輸入設備,其中,來自所述鄰近檢測器的輸出被傳遞到所述設備的操作系統,以實現一個或者多個控制功能。
10.根據前述任何一項權利要求所述的輸入設備,其中,所述鄰近檢測器檢測由所述物體反射的光的相位。
11.根據權利要求2所述的輸入設備,其中,每個鄰近檢測器與光源相關聯,并且每個鄰近檢測器和與其相關聯的光源彼此鄰近定位。
12.根據權利要求11所述的輸入設備,包括用于順序地激活每個鄰近檢測器和與其相關聯的光源的控制裝置。
13.根據前述任何一項權利要求所述的輸入設備,其中,所述鄰近檢測器包括顏色濾波器。
14.根據當權利要求13從屬于權利要求11時所述的輸入設備,其中每個鄰近檢測器和與其相關聯的光源具有波長匹配的顏色濾波器,以用于濾除來自于與其他鄰近檢測器相關聯的光源的波長。
15.根據前述任何一項權利要求所述的輸入設備,其中,所述鄰近檢測器還包括相位板。
16.根據前述任何一項權利要求所述的輸入設備,其中,所述光源適于發射不可見光。
17.一種包括前述任一權利要求所述的輸入設備的設備。
18.根據權利要求17所述的設備,其中所述設備是電話。
19.根據權利要求17所述的設備,其中所述設備是計算機。
20.一種用于控制使用包含鄰近檢測器和光源的輸入設備的設備的方法,其中所述鄰近檢測器包括單光子雪崩二極管,所述方法包括:
將光從光源發射到感測區域;
在所述鄰近檢測器處接收由在所述感測區域的鄰近區域中的物體反射的光;
導出指示所述物體距所述鄰近檢測器的距離的輸出;以及
基于所述輸出向所述設備提供控制信號。
21.根據權利要求20所述的方法,其中所述輸入設備包括彼此遠離定位的至少兩個鄰近檢測器,所述方法還包括:
使用第一鄰近檢測器導出指示第一距離的輸出,所述第一距離是所述第一鄰近檢測器與所述物體之間的距離;以及
使用第二鄰近檢測器導出指示第二距離的輸出,所述第二距離是所述第二鄰近檢測器與所述物體之間的距離。
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