[發明專利]電力絕緣材料在X射線照射下的檢測方法及其裝置無效
| 申請號: | 201110372491.9 | 申請日: | 2011-11-22 |
| 公開(公告)號: | CN102508133A | 公開(公告)日: | 2012-06-20 |
| 發明(設計)人: | 王達達;于虹;趙現平;蔡曉蘭;吳章勤;魏杰;況華;張少泉;薛飛;張微;譚向宇 | 申請(專利權)人: | 云南電力試驗研究院(集團)有限公司電力研究院 |
| 主分類號: | G01R31/12 | 分類號: | G01R31/12 |
| 代理公司: | 昆明大百科專利事務所 53106 | 代理人: | 何健 |
| 地址: | 650217 云南省昆明*** | 國省代碼: | 云南;53 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 電力 絕緣材料 射線 照射 檢測 方法 及其 裝置 | ||
1.電力絕緣材料在X射線照射下的檢測方法,其特征是,方法包括:
1)設置絕緣劃痕缺陷:首先在不帶電情況下取出GIS試驗段內部的盆式絕緣子,再在盆式絕緣子上設置絕緣劃痕缺陷;
2)對絕緣劃痕缺陷利用電子顯微鏡進行測量:利用電子顯微鏡在50-500倍下觀察缺陷的大小和尺寸,并以圖片的形式進行記錄;
3)建立局部放電檢測平臺:把盆式絕緣子重新安裝在GIS試驗段內,GIS試驗段套管的高壓引線與試驗變壓器相連;利用超聲波傳感器緊貼GIS試驗段盆式絕緣子劃痕缺陷位置的外殼上;加壓;利用便攜超聲波工業電腦監測GIS試驗段局部放電起始電壓及擊穿電壓,在略高于起始放電電壓下,使用便攜超聲波工業電腦觀測GIS試驗段絕緣劃痕缺陷的局部放電圖譜;對高頻X射線機進行訓機;通過調整高度以便對準GIS試驗段盆式絕緣子缺陷的位置;利用高頻X射線機對準GIS試驗段盆式絕緣子劃痕缺陷的位置,在最高能量即電壓300kV,電流3mA下進行連續照射并每隔一段時間利用便攜超聲波工業電腦進行局部放電情況的檢測,以此觀察X射線對電力設備固體絕緣材料局部放電的影響;
4)局部放電檢測停止后,再次對絕緣劃痕缺陷進行測量,與之前測量的結果進行比較;
5)根據比較的結果判斷電力設備固體絕緣材料缺陷的變化:停電取出GIS試驗段內部的盆式絕緣子,利用電子顯微鏡在50-500倍下觀察劃痕缺陷的大小和尺寸,并與X射線照射之前記錄的缺陷信息進行對比,以此對電力設備固體絕緣材料缺陷的尺寸進行觀察,并確定該缺陷相關數據是否發生變化。
2.如權利要求1所述的電力絕緣材料在X射線照射下的檢測方法的裝置,其特征為,該裝置由GIS試驗段裝置(1)、X射線成像系統(2)、超聲波局部放電檢測系統(3)構成;?
所述的GIS試驗段裝置包括試驗變壓器(4)、GIS試驗段(5)、盆式絕緣子(6)、高壓引線(7)和套管(8);設置在GIS試驗段(5)套管(8)的高壓引線(7)與試驗變壓器(4)相連,試驗變壓器(4)與GIS試驗段(5)連接;
所述的X射線成像系統(2)包括高頻X射線機(9)、四角支架(10)、高頻X射線機控制箱(11)和X射線發射窗(12);高頻X射線機(9)架設在四角支架(10)上,X射線發射窗(12)對準GIS試驗段裝置(1)的盆式絕緣子(6)缺陷的位置;高頻X射線機(9)與高頻X射線機控制箱(11)相連,高頻X射線機控制箱(11)與高頻X射線機(9)連接;
所述的超聲波局部放電檢測系統(3)包括超聲波傳感器(13)、超聲波檢測前端模塊(14)、便攜超聲波工業電腦(15)、超聲波檢測電源及信號控制線(16)和超聲波檢測數據線(17);超聲波傳感器(13)緊貼GIS試驗段裝置(1)的盆式絕緣子(6)缺陷位置的外殼上;超聲波傳感器(13)另依次與超聲波檢測電源及信號控制線(16)、超聲波檢測前端模塊(14)、超聲波檢測數據線(17)和便攜超聲波工業電腦(15)連接。
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