[發明專利]高純半導體材料的水平真空區熔制備方法有效
| 申請號: | 201110362040.7 | 申請日: | 2011-11-15 |
| 公開(公告)號: | CN102392294A | 公開(公告)日: | 2012-03-28 |
| 發明(設計)人: | 張可鋒;林杏潮;張莉萍;邵秀華;王仍;焦翠靈;陸液;杜云辰;宋坤駿;李向陽 | 申請(專利權)人: | 中國科學院上海技術物理研究所 |
| 主分類號: | C30B13/00 | 分類號: | C30B13/00 |
| 代理公司: | 上海新天專利代理有限公司 31213 | 代理人: | 郭英 |
| 地址: | 200083 *** | 國省代碼: | 上海;31 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 高純 半導體材料 水平 真空 制備 方法 | ||
1.一種高純半導體材料的水平真空區熔制備方法,其特征在于包括以下步驟:
1)將普通純度原材料在保護性氣氛下裝入載料舟(1);
2)將帶有通氣孔(4)和回流接收槽(3)的載料舟蓋(2)扣合在載料舟上;
3)將裝有原材料的載料舟,緩慢推入水平區熔爐石英腔體(5)中;
4)啟動真空泵(8),對水平區熔爐石英腔體抽真空;
5)當石英腔體的真空度低于1Pa時,切斷真空泵與石英腔體的連接;打開高純氮氣與石英腔體的閥門,對石英腔體充氣,待石英腔體的壓強達到1atm時,切斷高純氮氣與石英腔體間的閥門;打開真空泵與石英腔體的閥門,對石英腔體再次抽真空;
6)重復操作工藝步驟5)三到六次,將石英腔體中的氧氣全部排出;最后使石英腔體的真空度低于1Pa;
7)啟動水平區熔爐的加熱爐體(6),溫度設定為稍大于原材料的熔點,溫度由熱電偶(7)監控,使原材料的熔化區域穩定在1.5cm~2.0cm;
8)緩慢移動加熱爐體,使熔區從材料的一端移動到另一端,實現材料的區熔分凝提純。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于中國科學院上海技術物理研究所,未經中國科學院上海技術物理研究所許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201110362040.7/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





