[發(fā)明專利]ZnO/納米晶金剛石薄膜異質(zhì)結(jié)光電探測(cè)器的制備方法無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201110359607.5 | 申請(qǐng)日: | 2011-11-15 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN102386281A | 公開(kāi)(公告)日: | 2012-03-21 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 王林軍;潘瀟雨;曾慶鍇;莊曉鳳;劉晟;黃健;唐可;夏義本 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 上海大學(xué) |
| 主分類號(hào): | H01L31/18 | 分類號(hào): | H01L31/18;H01L31/0296;H01L31/0224 |
| 代理公司: | 上海上大專利事務(wù)所(普通合伙) 31205 | 代理人: | 顧勇華 |
| 地址: | 200444*** | 國(guó)省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | zno 納米 金剛石 薄膜 異質(zhì)結(jié) 光電 探測(cè)器 制備 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種基于ZnO/納米晶金剛石薄膜異質(zhì)結(jié)光電探測(cè)器的制造方法,屬于無(wú)機(jī)非金屬材料器件制造工藝領(lǐng)域。
背景技術(shù)
金剛石薄膜是近年來(lái)得到廣泛重視和迅速發(fā)展的新型電子材料之一,由于其具有良好的透光性、耐磨性和耐化學(xué)腐蝕性,使得金剛石薄膜成為最理想的光學(xué)窗口材料、掩膜材料和光學(xué)部件涂層材料之一。
金剛石具有最高的熱導(dǎo)率(20?W/?(cm?·K)?)?,約為Cu?的5?倍,是理想的熱交換材料,禁帶寬度大,介電常數(shù)低,擊穿電壓高,常溫下具有很高的電阻率,結(jié)合(以及)高的抗輻射能力及良好的化學(xué)及熱穩(wěn)定性,因此常用于高溫、高輻射通量等惡劣的環(huán)境中。ZnO?是一種很重要的II-VI?族半導(dǎo)體材料,具有許多卓越的性能。ZnO?在聲表面波濾波器(SAW)?、氣敏傳感器、透明導(dǎo)電層、發(fā)光二極管,尤其在紫外光探測(cè)上有著廣泛的應(yīng)用。紫外探測(cè)技術(shù)是繼紅外和激光探測(cè)技術(shù)之后發(fā)展起來(lái)的又一軍民兩用光電探測(cè)技術(shù)。紫外探測(cè)器大都工作在極其惡劣的環(huán)境下,像火焰燃燒監(jiān)視器、導(dǎo)彈羽煙探測(cè)器等,在工業(yè)上像航空、汽車、石油等工業(yè)都要求能夠耐受高溫和惡劣環(huán)境的光探測(cè)器。
到目前為止,關(guān)于紫外光電探測(cè)器的報(bào)道多基于多晶金剛石薄膜和氧化鋅薄膜,而納米晶薄膜的晶粒可以小到幾個(gè)納米,表面光滑平整,摩擦系數(shù)小,易于干法刻蝕,其缺陷、晶界尺度以及表面粗糙度遠(yuǎn)低于常規(guī)微米金剛石薄膜,同時(shí)它的硬度比常規(guī)金剛石薄膜低的多,有利于薄膜進(jìn)行后續(xù)拋光,進(jìn)而降低制備成本。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的內(nèi)容是在氫終端納米晶金剛石薄膜上,生長(zhǎng)摻鋁ZnO薄膜,制備紫外光電探測(cè)器。
本發(fā)明的主要目的在于采用高電導(dǎo)率的氫終端納米晶金剛石薄膜作為p型層,并在此層上制備高質(zhì)量n型ZnO薄膜,從而獲得ZnO/納米晶金剛石異質(zhì)結(jié)。
為達(dá)到上述目的,本發(fā)明ZnO/納米晶金剛石異質(zhì)結(jié)光電探測(cè)器的制備采用如下技術(shù)方案及步驟。本發(fā)明一種ZnO/納米晶金剛石異質(zhì)結(jié)光電探測(cè)器的制備方法,其特征在于具有以下的過(guò)程和步驟:
一、硅襯底上氫終端納米晶金剛石薄膜的制備
(1)納米晶金剛石薄膜制備過(guò)程:采用(100)鏡面拋光硅片作為沉積襯底;采用氫氟酸(HF)超聲清洗5-15分鐘,以去除表面的氧化硅層。為了增加金剛石薄膜的成核密度,使用100nm粒徑的金剛石粉末對(duì)硅襯底機(jī)械研磨10-15分鐘;將研磨后的硅片放在混有100nm金剛石粉的丙酮溶液中超聲清洗10-20分鐘;最后再將硅片用去離子水和丙酮分別超聲清洗,直至硅片表面潔凈,烘干后放入熱絲輔助化學(xué)化學(xué)氣相沉積(HFCVD)裝置的反應(yīng)室內(nèi);
用真空泵對(duì)HFCVD反應(yīng)室抽真空至5-7Pa,通入丙酮、氫氣的混合反應(yīng)氣體,調(diào)節(jié)丙酮、氫氣的流量分別為40-50標(biāo)準(zhǔn)毫升/分、160-180標(biāo)準(zhǔn)毫升/分;反應(yīng)室的氣壓設(shè)定為0.8-1.5kPa,襯底溫度控制在650-750°C,熱絲電壓設(shè)定10-14V,在熱絲與襯底間加載負(fù)偏壓,偏壓電流2-3A,薄膜生長(zhǎng)時(shí)間3-4小時(shí);在硅襯底上制得納米金剛石薄膜;
(2)氫處理:將上述制備的納米晶金剛石薄膜放入微波等離子體化學(xué)氣相沉積(MPCVD)裝置的反應(yīng)室內(nèi),用真空泵對(duì)MPCVD反應(yīng)室抽真空至5-7Pa,然后用分子泵對(duì)反應(yīng)室抽真空至10-2Pa以下,通入氫氣,調(diào)節(jié)氫氣的流量為100-160標(biāo)準(zhǔn)毫升/分;反應(yīng)室的氣壓設(shè)定為2-3kPa,襯底溫度控制在350-450°C,微波功率設(shè)定為1800-2400W,表面處理時(shí)間0.5-1小時(shí);最終在硅襯底上制得氫終端納米金剛石薄膜;
二、摻鋁?ZnO薄膜的制備:
采用射頻反應(yīng)磁控濺射法在p型納米晶金剛石薄膜上制備摻鋁ZnO薄膜;靶材為摻鋁的高純ZnO陶瓷靶;沉積過(guò)程中,工作氣體是Ar氣;Ar流量為7-10標(biāo)準(zhǔn)毫升/分,工作氣壓0.2-0.7Pa;濺射功率100-250W;
三、電極制備:
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- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對(duì)紅外輻射、光、較短波長(zhǎng)的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或者專門適用于通過(guò)這樣的輻射進(jìn)行電能控制的半導(dǎo)體器件;專門適用于制造或處理這些半導(dǎo)體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導(dǎo)體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉(zhuǎn)換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過(guò)該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個(gè)共用襯底內(nèi)或其上形成的,一個(gè)或多個(gè)電光源,如場(chǎng)致發(fā)光光源在結(jié)構(gòu)上相連的,并與其電光源在電氣上或光學(xué)上相耦合的
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