[發(fā)明專利]一種密封圈回彈速率測試裝置及測試方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201110310847.6
• 申請日: 2011-10-13
• 公開（公告）號: CN102507354A
• 公開（公告）日: 2012-06-20
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 程建彬;王林;劉妍華;謝俊彥;段友勛
• 申請（專利權(quán)）人: 中國航天科技集團(tuán)公司第四研究院四0一所
• 主分類號: G01N3/42
• 分類號: G01N3/42
• 代理公司: 西北工業(yè)大學(xué)專利中心 61204
• 代理人: 王鮮凱

1.一種橡膠密封圈回彈速率測試裝置，其特征在于包括2個(gè)螺桿、2個(gè)壓簧、2只電磁鐵、壓板和基座；在基座兩端設(shè)有相同的機(jī)構(gòu)，每套機(jī)構(gòu)包括螺桿、圓柱型壓簧和電磁鐵；電磁鐵通過螺母緊密安裝在螺帽上，螺帽和基座通過螺紋連接；圓柱型壓簧套入螺桿上，螺桿和基座通過螺紋連接，其結(jié)合部位設(shè)有定位銷；壓板兩端設(shè)有與螺桿吻合的通孔，通過通孔套入兩個(gè)螺桿中。

2.一種采用權(quán)利要求1所述的密封圈回彈速率測試裝置測試密封圈回彈速率的方法，其特征在于步驟如下：

步驟1：通過螺紋調(diào)節(jié)圓柱型壓簧上端面與基座上表面之間的高度等于被檢測橡膠密封圈試樣的高度，使彈簧外漏高度與橡膠試樣高度相差在±0.1mm以內(nèi)，鎖緊定位銷；

步驟2：根據(jù)橡膠密封圈試樣壓縮量或壓縮率計(jì)算確定電磁鐵上表面和基座上表面之間的高度，使電磁鐵外漏高度與橡膠試樣壓縮后高度相差在±0.1mm以內(nèi)；

步驟3：將基座水平安裝在工具臺面上，測量記錄兩個(gè)彈簧的外漏高度、兩個(gè)電磁鐵外漏高度；

步驟4：在基座表面中央放置橡膠試樣，將壓板套入螺桿中，給電磁鐵通電后，將壓板下壓至壓板吸合，記錄當(dāng)前橡膠試樣達(dá)到壓縮量的原始厚度H₁；

步驟5：將電磁鐵斷電，使橡膠試樣進(jìn)入自由釋放狀態(tài)，并利用高速圖像采集設(shè)備采集橡膠試樣自由釋放時(shí)變形回復(fù)過程；

步驟6：從已采集的數(shù)據(jù)中提取出橡膠試樣對應(yīng)t_n時(shí)刻的回彈量H_t；

步驟7：橡膠試樣的回彈速率v_n＝(H_t-H₁)/Δt，其中：Δt等于電磁鐵斷電時(shí)刻與回彈量H_t對應(yīng)t_n時(shí)刻的時(shí)間差值。