[發明專利]一種石墨烯晶體管的制備方法有效
| 申請號: | 201110308804.4 | 申請日: | 2011-10-12 |
| 公開(公告)號: | CN102339735A | 公開(公告)日: | 2012-02-01 |
| 發明(設計)人: | 魏芹芹;崔曉銳;尹金澤;曹宇;魏子鈞;趙華波;傅云義;黃如;張興 | 申請(專利權)人: | 北京大學 |
| 主分類號: | H01L21/04 | 分類號: | H01L21/04;H01L29/49;H01L29/51;H01L29/78;B82Y10/00 |
| 代理公司: | 北京萬象新悅知識產權代理事務所(普通合伙) 11360 | 代理人: | 賈曉玲 |
| 地址: | 100871*** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 石墨 晶體管 制備 方法 | ||
1.一種石墨烯晶體管的制備方法,其步驟包括:
1)在基底上制備單個或若干個放置碳納米管的納米尺度溝槽結構,溝槽中設有碳納米管作為柵電極;
2)通過導電材料將碳納米管引出;
3)將石墨烯轉移至碳納米管所在的溝槽上面,溝槽中碳納米管與石墨烯之間的空氣為柵介質;
4)在石墨烯的兩端淀積導電材料引出。
2.如權利要求1所述的方法,其特征在于,步驟1)具體為:先用微加工的方法在基底上制備出溝槽,然后在溝槽內生長碳納米管或者將已制備出的碳納米管轉移到納米尺度溝槽內。
3.如權利要求1所述的方法,其特征在于,步驟1)中基底為SiO2、石英、砷化鎵或塑料。
4.如權利要求1所述的方法,其特征在于,步驟1)中碳納米管為單壁碳納米管、多壁碳納米管或碳納米管管束。
5.如權利要求1所述的方法,其特征在于,步驟1)中放置于溝槽內的碳納米管為一根或多根。
6.如權利要求1所述的方法,其特征在于,步驟1)中溝槽的間距為2nm~1μm,溝槽寬度<1.5μm,溝槽深度<300nm。
7.如權利要求1所述的方法,其特征在于,步驟3)中石墨烯為單層、兩層或多層。
8.如權利要求1所述的方法,其特征在于,步驟3)中石墨烯橫跨在一個溝槽之上,或同時橫跨在多個溝槽上面,且溝槽中預先放置碳納米管。
9.如權利要求1所述的方法,其特征在于,所述導電材料為金屬材料、高摻雜半導體材料、導電塑料或聚合物材料。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于北京大學,未經北京大學許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201110308804.4/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:用于鋰離子蓄電池的負電極
- 下一篇:一種(-)表沒食子兒茶精的制備方法
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





