[發(fā)明專利]光電元件及其制造方法無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201110307537.9 | 申請日: | 2011-10-08 |
| 公開(公告)號: | CN103035756A | 公開(公告)日: | 2013-04-10 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 周邦彥;任忠琦;袁文浩;杜彥良;黃久恭;邱俊憲;林作英;李卓澔 | 申請(專利權(quán))人: | 威奈聯(lián)合科技股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L31/032 | 分類號: | H01L31/032;H01L31/06;H01L31/18 |
| 代理公司: | 北京中原華和知識產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11019 | 代理人: | 壽寧;張華輝 |
| 地址: | 中國臺灣高*** | 國省代碼: | 中國臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 光電 元件 及其 制造 方法 | ||
1.一種光電元件,其特征在于其包含:
一背電極;
一透明前電極;
一p-型半導(dǎo)體層,設(shè)于該背電極與該透明前電極之間,且由一第一半導(dǎo)體化合物所構(gòu)成,該第一半導(dǎo)體化合物包括M1、M2及A1,該M1是選自于Cu、Au、Ag、Na、Li、K或此等的一組合,該M2是選自于In、Ga、Al、Ti、Zn、Cd、Sn、Mg或此等的一組合,及該A1是選自于S、Se、Te或此等的一組合,該p-型半導(dǎo)體層具有一在其厚度方向上均勻的M1/M2原子比;及
一n-型層結(jié)構(gòu),設(shè)于該p-型半導(dǎo)體層與該透明前電極之間,與該p-型半導(dǎo)體層共同形成一p-n接面,且具有一n-型半導(dǎo)體層;
該n-型半導(dǎo)體層是由一第二半導(dǎo)體化合物所構(gòu)成,該第二半導(dǎo)體化合物包括M3、M4及A2,該M3是選自于Cu、Au、Ag、Na、Li、K或此等的一組合,該M4是選自于In、Ga、Al、Ti、Zn、Cd、Sn、Mg或此等的一組合,及該A2是選自于S、Se、Te或此等的一組合,該n-型半導(dǎo)體層具有一在其厚度方向上均勻的M3/M4原子比,該M3/M4原子比小于M1/M2原子比且大于0.1而小于0.9。
2.如權(quán)利要求1所述的光電元件,其特征在于:該M1/M2原子比大于0.9。
3.如權(quán)利要求1所述的光電元件,其特征在于:該M1/M2原子比介于0.91與1.3之間。
4.如權(quán)利要求1所述的光電元件,其特征在于:該M3/M4原子比介于0.4與0.7之間。
5.如權(quán)利要求1所述的光電元件,其特征在于:該p-型半導(dǎo)體層具有一介于0.2至2μm的厚度。
6.如權(quán)利要求1所述的光電元件,其特征在于:該n-型半導(dǎo)體層具有一介于0.02至0.7μm的厚度。
7.如權(quán)利要求1所述的光電元件,其特征在于:該n-型層結(jié)構(gòu)還包括一緩沖層,該n-型半導(dǎo)體層形成在該p-型半導(dǎo)體層上,該緩沖層形成在該n-型半導(dǎo)體層上。
8.如權(quán)利要求7所述的光電元件,其特征在于:該緩沖層的材料是選自CdS、ZnS、In2Se3、CdZnS或此等的一組合。
9.如權(quán)利要求7所述的光電元件,其特征在于:該n-型層結(jié)構(gòu)還包括一形成在該緩沖層上的窗口層。
10.如權(quán)利要求9所述的光電元件,其特征在于:該窗口層的材料是選自ZnO、ZnS、AZO或此等的一組合。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進(jìn)行電能控制的半導(dǎo)體器件;專門適用于制造或處理這些半導(dǎo)體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導(dǎo)體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉(zhuǎn)換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個(gè)共用襯底內(nèi)或其上形成的,一個(gè)或多個(gè)電光源,如場致發(fā)光光源在結(jié)構(gòu)上相連的,并與其電光源在電氣上或光學(xué)上相耦合的





