[發明專利]用于校正興趣點POI位置的方法和設備

無效

• 申請號: 201110305482.8
• 申請日: 2011-09-30
• 公開（公告）號: CN103037303A
• 公開（公告）日: 2013-04-10
• 發明（設計）人: 孫楊楊;劉昕明
• 申請（專利權）人: 北京千橡網景科技發展有限公司
• 主分類號: H04W4/02
• 分類號: H04W4/02
• 代理公司: 北京市金杜律師事務所 11256
• 代理人: 吳立明

1.一種用于校正興趣點POI位置的方法，包括：

收集由用戶提供的所述POI位置；以及

基于所收集的所述POI位置，將所述POI位置的覆蓋范圍由點擴展到面。

2.如權利要求1的方法，進一步包括：

對所收集的所述POI位置執行離群點檢測與剔除操作。

3.如權利要求1或2的方法，其中將所述POI的覆蓋區域由點擴展到面包括：

確定覆蓋所收集的所述POI位置的基本形狀；

計算所述基本形狀的質心坐標，以作為所述經擴展的POI位置的質心坐標；以及

計算覆蓋所述基本形狀的最終形狀的面積，以作為所述經擴展的POI位置的覆蓋范圍。

4.如權利要求3的方法，其中所述基本形狀為最小凸多邊形的最小面積外接矩形，該最小凸邊形包含所收集的所述POI位置，并且由所收集的所述POI位置中最外圍的POI位置之間的連線限定。

5.如權利要求4的方法，其中所述最終形狀為所述最小面積外接矩形；以及

所述經擴展的POI位置至少包括屬性：POI標識、POI名稱、POI類型、質心坐標、所述最小面積外接矩形的四個頂點的坐標及作為覆蓋范圍的所述最小面積外接矩形面積。

6.如權利要求4的方法，其中所述最終形狀為所述最小面積外接矩形的最小外接圓；以及

所述經擴展的POI位置至少包括屬性：POI標識、POI名稱、POI類型、質心坐標以及作為覆蓋范圍的所述最小外接圓面積。

7.一種用于校正興趣點POI位置的設備，包括：

收集裝置，配置用于收集由用戶提供的所述POI位置；以及

擴展裝置，配置用于基于所收集的所述POI位置，將所述POI位置的覆蓋范圍由點擴展到面。

8.如權利要求7的設備，進一步包括：

檢測與剔除裝置，配置用于對所收集的所述POI位置執行離群點檢測與剔除操作。

9.如權利要求7或8的設備，其中將所述擴展裝置進一步包括：

用于確定覆蓋所收集的所述POI位置的基本形狀的裝置；

用于計算所述基本形狀的質心坐標，以作為所述經擴展的POI位置的質心坐標的裝置；以及

用于計算覆蓋所述基本形狀的最終形狀的面積，以作為所述經擴展的POI位置的覆蓋范圍的裝置。

10.如權利要求9的設備，其中所述基本形狀為最小凸多邊形的最小面積外接矩形，該最小凸邊形包含所收集的所述POI位置，并且由所收集的所述POI位置中最外圍的POI位置之間的連線限定。

11.如權利要求10的設備，其中所述最終形狀為所述最小面積外接矩形；以及

所述經擴展的POI位置至少包括屬性：POI標識、POI名稱、POI類型、質心坐標、所述最小面積外接矩形的四個頂點的坐標及作為覆蓋范圍的所述最小面積外接矩形面積。

12.如權利要求10的設備，其中所述最終形狀為所述最小面積外接矩形的最小外接圓；以及

所述經擴展的POI位置至少包括屬性：POI標識、POI名稱、POI類型、質心坐標以及作為覆蓋范圍的所述最小外接圓面積。