[發明專利]控制雙偏振正交相移鍵控調制器相位偏置點的方法及系統

有效

• 申請號: 201110299925.7
• 申請日: 2011-10-08
• 公開（公告）號: CN102333056A
• 公開（公告）日: 2012-01-25
• 發明（設計）人: 袁賀;呂書生
• 申請（專利權）人: 中興通訊股份有限公司
• 主分類號: H04L27/20
• 分類號: H04L27/20
• 代理公司: 北京派特恩知識產權代理事務所(普通合伙) 11270
• 代理人: 張穎玲;王黎延

1.一種控制雙偏振正交相移鍵控DP-QPSK調制器相位偏置點的系統，其特征在于，該系統包括：檢測控制設備和DP-QPSK調制器；其中，

檢測控制設備，用于進行差頻信號檢測，檢測結果是無差頻信號時，不做操作；檢測結果不是無差頻信號時，根據檢測結果調整DP-QPSK調制器的相位偏置點；

DP-QPSK調制器，用于接收檢測控制設備的調整。

2.根據權利要求1所述的系統，其特征在于，

所述檢測控制設備，還用于產生導頻信號，將導頻信號發送給DP-QPSK調制器，然后接收DP-QPSK調制器發來的調制后的光信號，將光信號轉換為待測信號；

相應的，所述DP-QPSK調制器，還用于接收檢測控制設備發來的信號，將調制后的光信號發送給檢測控制設備。

3.根據權利要求2所述的系統，其特征在于，

所述檢測控制設備，具體用于根據接收到的待測信號的時長，查到與該待測信號相應時隙的導頻信號；然后利用相應時隙的導頻信號計算待測信號的誤差，如果誤差為零，則檢測結果為無差頻信號；如果誤差不為零，則檢測結果為調整相位偏置點的電壓。

4.根據權利要求3所述的系統，其特征在于，

所述檢測控制設備，具體用于當檢測結果為提升相位偏置點的電壓時，根據已確定的該待測信號來自于DP-QPSK調制器的兩個相位偏置點中的哪個，將直流電壓提升固定的步長值調整DP-QPSK調制器相應的相位偏置點；當檢測結果為降低相位偏置點的電壓，將直流電壓降低固定的步長值調整DP-QPSK調制器相應的相位偏置點，然后重新檢測控制設備進行差頻信號檢測；

相應的，所述DP-QPSK調制器，具體用于接收檢測控制設備的調整。

5.根據權利要求4所述的系統，其特征在于，所述檢測控制設備，包括：差頻信號檢測與處理模塊和驅動電路模塊；其中，

差頻信號檢測與處理模塊，用于進行差頻信號檢測，檢測結果是無差頻信號時，不做操作；檢測結果不是無差頻信號時，根據檢測結果將調整直流電壓的指令發送給驅動電路模塊；

驅動電路模塊，用于接收差頻信號檢測與處理模塊發來的調整直流電壓的指令，根據調整直流電壓的指令進行直流電壓的調整后，將直流電壓發送到DP-QPSK調制器的相位調制點。

6.根據權利要求5所述的系統，其特征在于，所述檢測控制設備，還包括：分光模塊和光電檢測模塊；其中，

所述分光模塊，用于接收DP-QPSK調制器發來的調制后的光信號，將調制后的光信號分為兩部分，其中一部分作為檢測光信號發送給光電檢測模塊，另一部分作為DP-QPSK調制器的正常輸出發往DP-QPSK調制器后端所連接的設備；

相應的，所述光電檢測模塊，用于接收分光模塊發來的檢測光信號，將檢測光信號轉換為電信號，將所得電信號作為待測信號發送給差頻信號檢測與處理模塊；

所述差頻信號檢測與處理模塊，還用于接收光電檢測模塊發來的待測信號。

7.一種控制DP-QPSK調制器相位偏置點的方法，其特征在于，該方法包括：檢測控制設備進行差頻信號檢測，檢測結果是無差頻信號時，不做操作；檢測結果不是無差頻信號時，根據檢測結果調整DP-QPSK調制器的相位偏置點。

8.根據權利要求7所述的方法，其特征在于，所述檢測控制設備進行差頻信號檢測之前，該方法還包括：檢測控制設備產生導頻信號，將導頻信號發送給DP-QPSK調制器；檢測控制設備接收DP-QPSK調制器發來的調制后的光信號，將光信號轉換為待測信號。

9.根據權利要求7所述的方法，其特征在于，所述檢測控制設備進行差頻信號檢測，包括：檢測控制設備根據接收到的待測信號的時長，查到與該待測信號相應時隙的導頻信號；然后利用相應時隙的導頻信號計算待測信號的誤差，如果誤差為零，則檢測結果為無差頻信號；如果誤差不為零，則誤差不為零，則檢測結果為調整相位偏置點的電壓。

10.根據權利要求7所述的方法，其特征在于，所述根據檢測結果調整DP-QPSK調制器的相位偏置點，包括：當檢測結果為提升相位偏置點的電壓時，檢測控制設備根據已確定的該待測信號來自于DP-QPSK調制器的兩個相位偏置點中的哪個，將直流電壓提升固定的步長值調整DP-QPSK調制器相應的相位偏置點；當檢測結果為降低相位偏置點的電壓，檢測控制設備將直流電壓降低固定的步長值調整DP-QPSK調制器相應的相位偏置點，然后重新檢測控制設備進行差頻信號檢測。