[發(fā)明專利]紫外傳感增強(qiáng)膜變頻效率的測試方法無效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201110297963.9 | 申請(qǐng)日: | 2011-09-30 |
| 公開(公告)號(hào): | CN102507144A | 公開(公告)日: | 2012-06-20 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 陶春先;姜霖;張大偉;黃元申;倪爭技;莊松林 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 上海理工大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G01M11/02 | 分類號(hào): | G01M11/02 |
| 代理公司: | 上海東創(chuàng)專利代理事務(wù)所(普通合伙) 31245 | 代理人: | 寧芝華 |
| 地址: | 200093 *** | 國省代碼: | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 紫外 傳感 增強(qiáng) 變頻 效率 測試 方法 | ||
1.一種紫外傳感增強(qiáng)膜變頻效率的測試方法,其特征在于:
A)首先計(jì)算變頻效率CE
變頻效率是反映熒光粉或熒光粉薄膜發(fā)光效率的一個(gè)物理量,定義為薄膜表面發(fā)生波長轉(zhuǎn)換的紫外光子數(shù)與入射到薄膜的紫外光子數(shù)之比:
CE表示為變頻效率,Photonsemitted表示入射到薄膜表面的紫外光子數(shù),Photonsincident表示薄膜表面發(fā)射出的可見光子數(shù);
B)計(jì)算薄膜表面入射紫外修正光子數(shù)Photonsincident
其中Pin為光功率計(jì)示數(shù),λUV為紫外光波長,h為普朗克常量,c為光速;
C)計(jì)算出立體角修正數(shù)SA
但是對(duì)于出射光子數(shù),由于受激發(fā)射的光子具有各向同性特性,即發(fā)射光并不循著入射光的方向,而只是部分地進(jìn)入光功率計(jì),所以在計(jì)算薄膜表面發(fā)射出的可見光子數(shù)時(shí),需要考慮未被光功率計(jì)測量到的那部分光子數(shù),有很多未探測到的光子,故引入立體角修正因子SAcorrection
其中θ為薄膜發(fā)光點(diǎn)發(fā)射光線中垂直于光功率計(jì)探測面的光線與被光功率計(jì)探測面邊緣接收的光線的夾角,r為發(fā)射點(diǎn)光源到光功率計(jì)的距離,φ為方位角;
經(jīng)公式(3)計(jì)算,得到立體角修正數(shù):SA=2πr(1-cosθ)????(4)
D)計(jì)算出樣品表面發(fā)生波長轉(zhuǎn)換的紫外光子數(shù)Photonsemitted
其中:Pem為光功率計(jì)測得的出射光功率,λvis為發(fā)射出的可見光波長,h為普朗克常量,c為光速,SA為薄膜表面發(fā)射點(diǎn)到光功率計(jì)測試面的立體角修正數(shù),T為薄膜透過率;
E)將Photonsemitted和Photonsincident代入公式(1)中求得變頻效率CE。
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