[發(fā)明專利]一種檢測(cè)駐波比的方法和裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201110281929.2
• 申請(qǐng)日: 2011-09-21
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN102510311A
• 公開(kāi)（公告）日: 2012-06-20
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 李凡龍
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 中興通訊股份有限公司
• 主分類號(hào): H04B17/00
• 分類號(hào): H04B17/00
• 代理公司: 北京同達(dá)信恒知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11291
• 代理人: 黃志華

1.一種確定反射信號(hào)對(duì)應(yīng)部件的方法，其特征在于，包括：

確定第一發(fā)射信號(hào)及與所述第一發(fā)射信號(hào)對(duì)應(yīng)的第一入射信號(hào)間的第一延遲；

確定所述第一發(fā)射信號(hào)與所述第一發(fā)射信號(hào)對(duì)應(yīng)的第一反射信號(hào)間的第二延遲；

基于所述第二延遲與所述第一延遲，獲得所述第一入射信號(hào)及所述第一反射信號(hào)間的第三延遲；

根據(jù)所述第三延遲與N個(gè)部件中每個(gè)部件的部件延遲，確定所述反射信號(hào)對(duì)應(yīng)的部件，所述部件為所述N個(gè)部件中的一個(gè)，其中，N為大于或等于1的整數(shù)。

2.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述確定第一發(fā)射信號(hào)及與所述第一發(fā)射信號(hào)對(duì)應(yīng)的第一入射信號(hào)間的第一延遲，具體包括：

同時(shí)采集由信號(hào)源產(chǎn)生的第一發(fā)射信號(hào)及經(jīng)過(guò)傳輸?shù)呐c所述第一發(fā)射信號(hào)對(duì)應(yīng)的第一入射信號(hào)；

在所述第一發(fā)射信號(hào)與所述第一入射信號(hào)存在相關(guān)峰值時(shí)，獲取所述第一發(fā)射信號(hào)及所述第一入射信號(hào)間的第一延遲。

3.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述確定第一發(fā)射信號(hào)及與所述第一發(fā)射信號(hào)對(duì)應(yīng)的第一入射信號(hào)間的第一延遲，具體包括：

同時(shí)采集由信號(hào)源產(chǎn)生的第一發(fā)射信號(hào)及經(jīng)過(guò)傳輸?shù)呐c所述第一發(fā)射信號(hào)對(duì)應(yīng)的第一入射信號(hào)；

在所述第一發(fā)射信號(hào)與所述第一入射信號(hào)不存在相關(guān)峰值時(shí)，增加入射信號(hào)的采樣長(zhǎng)度，獲取與所述第一發(fā)射信號(hào)對(duì)應(yīng)的第二入射信號(hào)；

在所述第一發(fā)射信號(hào)與所述第二入射信號(hào)存在相關(guān)峰值時(shí)，獲取所述第一發(fā)射信號(hào)及所述第二入射信號(hào)間的延遲作為所述第一延遲。

4.如權(quán)利要求1，2或3所述的方法，其特征在于，所述確定所述第一發(fā)射信號(hào)與所述第一發(fā)射信號(hào)對(duì)應(yīng)的第一反射信號(hào)間的第二延遲，具體包括：

同時(shí)采集由信號(hào)源產(chǎn)生的第一發(fā)射信號(hào)及所述第一反射信號(hào)；

在所述第一發(fā)射信號(hào)與所述第一反射信號(hào)存在相關(guān)峰值時(shí)，獲取所述第一發(fā)射信號(hào)及所述第一反射信號(hào)號(hào)間的第二延遲。

5.如權(quán)利要求1，2或3所述的方法，其特征在于，所述確定所述第一發(fā)射信號(hào)與所述第一發(fā)射信號(hào)對(duì)應(yīng)的第一反射信號(hào)間的第二延遲，具體包括：

同時(shí)采集由信號(hào)源產(chǎn)生的第一發(fā)射信號(hào)及所述第一反射信號(hào)；

在所述第一發(fā)射信號(hào)與所述第一反射信號(hào)不存在相關(guān)峰值時(shí)，增加反射信號(hào)的采樣長(zhǎng)度，獲取第二反射信號(hào)；

在所述第一發(fā)射信號(hào)與所述第二反射信號(hào)存在相關(guān)峰值時(shí)，獲取所述第一發(fā)射信號(hào)及所述第二反射信號(hào)間的延遲作為所述第二延遲。

6.如權(quán)利要求1，2或3所述的方法，其特征在于，所述基于所述第二延遲與所述第一延遲，獲得所述第一入射信號(hào)及所述第一反射信號(hào)間的第三延遲，具體為：

求所述第二延遲與所述第一延遲間的差，獲得所述第三延遲。

7.如權(quán)利要求1，2或3所述的方法，其特征在于，所述根據(jù)所述第三延遲與N個(gè)部件中每個(gè)部件的部件延遲，確定所述反射信號(hào)對(duì)應(yīng)的部件，具體為：

將所述第三延遲和所述N個(gè)部件中每個(gè)部件的部件延遲進(jìn)行比較，確定與所述第三延遲相同的部件延遲對(duì)應(yīng)的部件為所述反射信號(hào)對(duì)應(yīng)的部件。

8.一種檢測(cè)駐波比的方法，其特征在于，包括：

基于發(fā)射信號(hào)及與所述發(fā)射信號(hào)對(duì)應(yīng)的入射信號(hào)間的第一延遲，及所述發(fā)射信號(hào)及與所述發(fā)射信號(hào)對(duì)應(yīng)的反射信號(hào)間的第二延遲，獲得所述入射信號(hào)及所述反射信號(hào)間的第三延遲；

基于所述第三延遲及多個(gè)部件的每個(gè)部件的部件延遲，從所述多個(gè)部件中確定所述反射信號(hào)對(duì)應(yīng)的部件為第N個(gè)部件，并獲取與所述第N個(gè)部件對(duì)應(yīng)的反射系數(shù)，其中，所述N為大于1的整數(shù)；

基于所述反射系數(shù)，獲得所述第N個(gè)部件的駐波比。

9.如權(quán)利要求8所述的方法，其特征在于，所述基于發(fā)射信號(hào)及與所述發(fā)射信號(hào)對(duì)應(yīng)的入射信號(hào)間的第一延遲，及所述發(fā)射信號(hào)及反射信號(hào)間的第二延遲，獲得所述入射信號(hào)及所述反射信號(hào)間的第三延遲，具體包括：

確定發(fā)射信號(hào)及與所述發(fā)射信號(hào)對(duì)應(yīng)的入射信號(hào)間的第一延遲；

確定所述發(fā)射信號(hào)與所述反射信號(hào)間的第二延遲；

基于所述第二延遲與所述第一延遲，獲得所述入射信號(hào)及所述反射信號(hào)間的第三延遲。