[發(fā)明專利]工程勘察內(nèi)業(yè)數(shù)據(jù)處理方法及裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201110277608.5
• 申請(qǐng)日: 2011-09-19
• 公開（公告）號(hào): CN102446214A
• 公開（公告）日: 2012-05-09
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 金淮;張建旭;劉永勤;馬海志;張建全
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 北京城建勘測(cè)設(shè)計(jì)研究院有限責(zé)任公司
• 主分類號(hào): G06F17/30
• 分類號(hào): G06F17/30
• 代理公司: 北京三友知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11127
• 代理人: 王天堯

1.一種工程勘察內(nèi)業(yè)數(shù)據(jù)處理方法，其特征在于，該方法包括：

采集工程數(shù)據(jù)、班報(bào)數(shù)據(jù)、鉆孔標(biāo)識(shí)和鉆孔數(shù)據(jù)；

將所述工程數(shù)據(jù)、班報(bào)數(shù)據(jù)、鉆孔標(biāo)識(shí)和鉆孔數(shù)據(jù)存入基礎(chǔ)數(shù)據(jù)庫(kù)，在存入所述基礎(chǔ)數(shù)據(jù)庫(kù)的過程中，依次在第一級(jí)菜單存儲(chǔ)所述工程數(shù)據(jù)，在所述工程數(shù)據(jù)的下一級(jí)菜單存儲(chǔ)所述班報(bào)數(shù)據(jù)和鉆孔標(biāo)識(shí)，在所述班報(bào)數(shù)據(jù)的下一級(jí)菜單存儲(chǔ)所述鉆孔標(biāo)識(shí)，在所述鉆孔標(biāo)識(shí)的下一級(jí)菜單存儲(chǔ)所述鉆孔數(shù)據(jù)；

采集剖面分層數(shù)據(jù)、剖面線數(shù)據(jù)、鉆孔標(biāo)識(shí)、剖面鉆孔數(shù)據(jù)、鉆孔剖面分層數(shù)據(jù)和鉆孔土層分層數(shù)據(jù)；

將所述剖面分層數(shù)據(jù)、剖面線數(shù)據(jù)、鉆孔標(biāo)識(shí)、剖面鉆孔數(shù)據(jù)、鉆孔剖面分層數(shù)據(jù)和鉆孔土層分層數(shù)據(jù)存入剖面圖數(shù)據(jù)庫(kù)，在存入所述剖面圖數(shù)據(jù)庫(kù)的過程中，依次在第一級(jí)菜單存儲(chǔ)所述工程數(shù)據(jù)，在所述工程數(shù)據(jù)的下一級(jí)菜單存儲(chǔ)所述剖面分層數(shù)據(jù)、剖面線數(shù)據(jù)、鉆孔標(biāo)識(shí)，在所述剖面線數(shù)據(jù)和鉆孔標(biāo)識(shí)共同的下一級(jí)菜單存儲(chǔ)所述剖面鉆孔數(shù)據(jù)，在所述剖面鉆孔數(shù)據(jù)的下一級(jí)菜單存儲(chǔ)所述鉆孔土層分層數(shù)據(jù)，在所述剖面分層數(shù)據(jù)和鉆孔標(biāo)識(shí)共同的下一級(jí)菜單存儲(chǔ)所述鉆孔剖面分層數(shù)據(jù)。

2.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，還包括：

采集固有類型數(shù)據(jù)、統(tǒng)計(jì)類型數(shù)據(jù)、土試數(shù)據(jù)和統(tǒng)計(jì)結(jié)果數(shù)據(jù)；

將所述固有類型數(shù)據(jù)、統(tǒng)計(jì)類型數(shù)據(jù)、土試數(shù)據(jù)和統(tǒng)計(jì)結(jié)果數(shù)據(jù)存入綜合統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)庫(kù)，在存入所述綜合統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)庫(kù)的過程中，依次在第一級(jí)菜單存儲(chǔ)所述固有類型數(shù)據(jù)、統(tǒng)計(jì)類型數(shù)據(jù)，在所述統(tǒng)計(jì)類型數(shù)據(jù)的下一級(jí)菜單存儲(chǔ)所述土試數(shù)據(jù)和統(tǒng)計(jì)結(jié)果數(shù)據(jù)。

3.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，還包括：

在所述綜合統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)庫(kù)中，根據(jù)所述統(tǒng)計(jì)類型數(shù)據(jù)查詢所述土試數(shù)據(jù)和統(tǒng)計(jì)結(jié)果數(shù)據(jù)。

4.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，還包括：

在所述基礎(chǔ)數(shù)據(jù)庫(kù)中，依次根據(jù)所述工程數(shù)據(jù)查詢所述鉆孔標(biāo)識(shí)；根據(jù)所述鉆孔標(biāo)識(shí)查詢所述鉆孔數(shù)據(jù)。

5.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，還包括：

在所述剖面圖數(shù)據(jù)庫(kù)中，依次根據(jù)所述工程數(shù)據(jù)查詢所述剖面分層數(shù)據(jù)、剖面線數(shù)據(jù)、鉆孔標(biāo)識(shí)；根據(jù)所述剖面線數(shù)據(jù)和鉆孔標(biāo)識(shí)查詢所述剖面鉆孔數(shù)據(jù)；根據(jù)所述剖面鉆孔數(shù)據(jù)查詢所述鉆孔土層分層數(shù)據(jù)；根據(jù)所述剖面分層數(shù)據(jù)和鉆孔標(biāo)識(shí)查詢所述鉆孔剖面分層數(shù)據(jù)。

6.如權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，還包括：

在所述鉆孔土層分層數(shù)據(jù)的字段中加入所述鉆孔剖面分層數(shù)據(jù)的標(biāo)識(shí)。

7.如權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于，還包括：

根據(jù)所述鉆孔土層分層數(shù)據(jù)查詢所述鉆孔剖面分層數(shù)據(jù)。

8.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述鉆孔數(shù)據(jù)包括：

野外分層數(shù)據(jù)、釬探數(shù)據(jù)、動(dòng)探數(shù)據(jù)、水位數(shù)據(jù)、鉆孔年代數(shù)據(jù)、波速數(shù)據(jù)、標(biāo)貫數(shù)據(jù)、土樣數(shù)據(jù)和電阻數(shù)據(jù)。

9.一種工程勘察內(nèi)業(yè)數(shù)據(jù)處理裝置，其特征在于，該裝置包括：

基礎(chǔ)數(shù)據(jù)采集模塊，用于采集工程數(shù)據(jù)、班報(bào)數(shù)據(jù)、鉆孔標(biāo)識(shí)和鉆孔數(shù)據(jù)；

基礎(chǔ)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)模塊，用于將所述工程數(shù)據(jù)、班報(bào)數(shù)據(jù)、鉆孔標(biāo)識(shí)和鉆孔數(shù)據(jù)存入基礎(chǔ)數(shù)據(jù)庫(kù)，在存入所述基礎(chǔ)數(shù)據(jù)庫(kù)的過程中，依次在第一級(jí)菜單存儲(chǔ)所述工程數(shù)據(jù)，在所述工程數(shù)據(jù)的下一級(jí)菜單存儲(chǔ)所述班報(bào)數(shù)據(jù)和鉆孔標(biāo)識(shí)，在所述班報(bào)數(shù)據(jù)的下一級(jí)菜單存儲(chǔ)所述鉆孔標(biāo)識(shí)，在所述鉆孔標(biāo)識(shí)的下一級(jí)菜單存儲(chǔ)所述鉆孔數(shù)據(jù)；

剖面圖數(shù)據(jù)采集模塊，用于采集剖面分層數(shù)據(jù)、剖面線數(shù)據(jù)、鉆孔標(biāo)識(shí)、剖面鉆孔數(shù)據(jù)、鉆孔剖面分層數(shù)據(jù)和鉆孔土層分層數(shù)據(jù)；

剖面圖數(shù)據(jù)存儲(chǔ)模塊，用于將所述剖面分層數(shù)據(jù)、剖面線數(shù)據(jù)、鉆孔標(biāo)識(shí)、剖面鉆孔數(shù)據(jù)、鉆孔剖面分層數(shù)據(jù)和鉆孔土層分層數(shù)據(jù)存入剖面圖數(shù)據(jù)庫(kù)，在存入所述剖面圖數(shù)據(jù)庫(kù)的過程中，依次在第一級(jí)菜單存儲(chǔ)所述工程數(shù)據(jù)，在所述工程數(shù)據(jù)的下一級(jí)菜單存儲(chǔ)所述剖面分層數(shù)據(jù)、剖面線數(shù)據(jù)、鉆孔標(biāo)識(shí)，在所述剖面線數(shù)據(jù)和鉆孔標(biāo)識(shí)共同的下一級(jí)菜單存儲(chǔ)所述剖面鉆孔數(shù)據(jù)，在所述剖面鉆孔數(shù)據(jù)的下一級(jí)菜單存儲(chǔ)所述鉆孔土層分層數(shù)據(jù)，在所述剖面分層數(shù)據(jù)和鉆孔標(biāo)識(shí)共同的下一級(jí)菜單存儲(chǔ)所述鉆孔剖面分層數(shù)據(jù)。