[發明專利]上壓式發光二極管測試方案無效
| 申請號： | 201110274030.8 | 申請日： | 2011-09-15 |
| 公開（公告）號： | CN102435419A | 公開（公告）日： | 2012-05-02 |
| 發明（設計）人： | 劉駿;卓維煌 | 申請（專利權）人： | 深圳市華騰半導體設備有限公司 |
| 主分類號： | G01M11/02 | 分類號： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 518055 廣東省深圳市南*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 上壓式 發光二極管 測試 方案 | ||
【權利要求書】：
1.一種發光二極管立式測試方案，該方案包括：
首先，使用相應的震動盤，對側發光型貼片發光二極管進行篩選，使所有側發光型貼片發光二極管均以引腳朝上平躺的方式進入震動盤最前端；
然后通過專門的上料結構，將發光二極管放到轉動工作盤的吸嘴上，吸嘴通過真空將發光二極管無引腳的一面吸附在吸嘴上端面上，發光二極管發光面朝外；
當發光二極管隨轉動工作盤轉動到測試工作站時，測試探針從上向下壓，接觸發光二極管的引腳，使其通電發光，檢測裝置從外側對其進行檢測。
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