[發明專利]一種從版圖圖形自動提取圖形拓撲關系的方法

無效

• 申請號: 201110269674.8
• 申請日: 2011-09-14
• 公開（公告）號: CN102760177A
• 公開（公告）日: 2012-10-31
• 發明（設計）人: 王勇;侯勁松;張萍;李寧
• 申請（專利權）人: 天津藍海微科技有限公司
• 主分類號: G06F17/50
• 分類號: G06F17/50
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本發明涉及集成電路輔助設計軟件工具中版圖驗證領域。?

背景技術

集成電路版圖驗證過程中，設計工程師為了驗證物理規則的正確性，需要開發一組版作為測試向量(Test?Pattern)。測試向量的開發通常有兩種方法，一種是完全靠手工繪制版圖，開發時間長，工作量大；另一種是先開發出可變參數單元(Pcell)，再通過設置參數來產生不同的版圖，這要求設計工程師具有較好的編程能力，因此設計門檻高，開發時間也很長。?

之所以測試向量和可變參數單元的開發需要完全依靠手工，而不能通過軟件程序，是因為版圖圖形是通過精確的坐標位置來表示的，這使軟件程序無法按統一的規則來處理。?

本發明提出了一種從版圖圖形自動提取圖形拓撲關系的方法，可以將原有的坐標表示轉換成圖形間的拓撲關系表示，再通過調整關系間的約束值，就可以自動產生各種拓撲結構相同，但約束值不同的測試向量和可變參數單元。避免了人工的重復勞動。?

本發明提出的自動提取方法，已經通過軟件程序的方式實現，經過實踐，可以將原來1個人月的測試向量開發任務縮短到3人天，大大提高了效率，降低了人力成本。?

發明內容

本發明要解決的技術問題是提供一種從版圖圖形自動提取圖形拓撲關系的方法，從而使版圖驗證測試向量及可變參數單元的生成由原來的手工過程轉為自動化過程。?

版圖圖形為二維圖形，5種基本的拓撲關系是寬度Width(參見附圖1)、間距Spacing(參見附圖2)、重疊Overlap(參見附圖3)、包含Enclosure(參見附圖4)、和對齊Touch(參見附圖5)。這些關系可以通過邊到邊之間的關系來表達。?

本發明的技術方案是從X方向和Y方向分別對版圖圖形的邊對(Edge?Pair)進行檢查，兩個一維方向上5種拓撲關系的總和即描述了整個二維版圖的拓撲結構。根據集成電路版圖的特征，只需要提取正對邊的關系。所謂正對邊，就是在X方向上兩邊在Y軸的投影有重疊(或在Y方向上兩邊在X軸的投影有重疊)。非正對邊不用提取拓撲關系。此外，對于多個對齊(Touch)在一起的邊(例如A和B)，由于它們之間的位置關系是完全確定的，所以只需要考慮其中一條邊(例如A)和其它非Touch組中的邊的拓撲關系，Touch組中的剩余邊(例如B)就不需要繼續檢查了。?

附圖6是一個版圖示例，附圖7是沿X方向提取出的拓撲關系，附圖8是沿X方向提取出的拓撲關系。?

提取出的拓撲關系按如下格式輸出(以Enclosure為例)：?

ConstraintBegin?

Keyword????????ENC?XDir?

CheckLayer1????SHAPE_A?

CheckLayer2????SHAPE_B?

MinValue???????1.0?

ConstraintEnd?

其中ENC表示Enclosure類型的拓撲關系，XDir表示沿X方向，SHAPE_A和SHAPE_B是兩個圖形的標識。本例的含義是X方向SHAPE_A包含SHAPE_B，包含處的長度是1.0。?

按本發明提取出版圖的拓撲結構后，只需要相應改變關系的約束值(例如上例中的長度1.0)，既可以重新構建出拓撲結構相同，但約束值不同的版圖。該過程已由軟件程序實現，自動化了復雜器件物理規則測試向量的構造過程，以及可變參數單元的生成過程。?

附圖說明

圖1是寬度width的示意圖?

圖2是間距spacing的示意圖?

圖3是重疊overlap的示意圖?

圖4是包含enclosure的示意圖?

圖5是對齊touch的示意圖?

圖6是版圖示例的示意圖?

圖7是X方向拓撲關系示例(W、S、O、E、T分別代表寬度、間距、重疊、包含、和對齊)的示意圖?

圖8是Y方向拓撲關系示例(W、S、O、E、T分別代表寬度、間距、重疊、包含、和對齊)的示意圖。?

具體實施方式：

第一步：讀入版圖圖形數據，將多邊形切分成矩形。?

第二步：將所有矩形的垂直邊沿X方向從小到大排序。?

第三步：采用掃描線算法沿X軸掃描所有正對邊邊對，提取5種拓撲關系。?

第四步：將所有矩形的水平邊沿Y方向從小到大排序。?

第五步：采用掃描線算法沿Y軸掃描所有正對邊邊對，提取5種拓撲關系。?

第六步：輸出結果。?

上述步驟已由計算機軟件程序實現自動化提取過程。?