[發明專利]半導體集成電路及其控制方法在審
| 申請號: | 201110265437.4 | 申請日: | 2011-09-08 |
| 公開(公告)號: | CN102623068A | 公開(公告)日: | 2012-08-01 |
| 發明(設計)人: | 尹泰植;李康設 | 申請(專利權)人: | 海力士半導體有限公司 |
| 主分類號: | G11C29/44 | 分類號: | G11C29/44;H01L25/065 |
| 代理公司: | 北京弘權知識產權代理事務所(普通合伙) 11363 | 代理人: | 郭放;許偉群 |
| 地址: | 韓國*** | 國省代碼: | 韓國;KR |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 半導體 集成電路 及其 控制 方法 | ||
相關申請的交叉引用
本申請要求2011年1月28日向韓國知識產權局提交的韓國專利申請No.10-2011-0009076的優先權,其全部內容通過引用合并在本文中。
技術領域
本發明的各個實施例涉及半導體集成電路和相關方法。更具體而言,一些實施例涉及一種半導體集成電路及其控制方法。
背景技術
半導體集成電路經常使用包括兩個或更多個芯片的多芯片封裝,以提高半導體集成電路的集成度。
如圖1所示,典型的半導體集成電路1借助于一個或更多個穿通硅通孔(TSV)而具有主芯片(下文,稱之為主芯片)和從芯片(下文稱之為從芯片)的層疊結構。
主芯片包括外圍區、用于信號傳輸的TSV區A、以及用于物理支撐和供電的TSV區B。主芯片沒有存儲區。
從芯片包括外圍區、用于信號傳輸的TSV區A’、用于物理支撐和供電的TSV區B’、以及存儲區。從芯片的存儲區可以使用例如動態隨機存取存儲器(DRAM),并且從芯片的存儲區可以被劃分成8個存儲體(bank)BK0至BK7。
從芯片的每個存儲體包括用于修復操作的冗余單元,所述冗余單元用來替換失效的正常單元。
另外,與修復操作相關的熔絲組、控制邏輯電路和其它電路位于存儲體之間、存儲體與外圍區之間、存儲體與TSV區之間等。
如圖2所示,主芯片包括用于產生行激活信號RACT的電路,其中所述電路可以包括多個與非門ND1和ND2、多個晶體管M1和M2以及多個反相器IV1至IV4。
必須提供與存儲體的數量相對應的行激活信號RACT。因此,圖2所示的電路的數量被提供為與存儲體的數量相對應。
圖2所示的電路響應于激活脈沖ACTP、片(slice)地址信號SLICE、行激活信號RACT和預充電脈沖PREP來產生行激活信號RACT。
如圖3所示,從芯片包括用于驅動字線的字線驅動電路10,其中字線驅動電路10包括多個熔絲塊11、確定單元13、驅動器塊(RMWL?DRV)14、驅動器塊(BAX?DRV)16、驅動器塊(FX?DRV)18、墊(mat)選擇單元15和譯碼器17。
熔絲塊11將行地址信號RA與修復地址信號進行比較以產生信號HITB<0:N>。
修復地址信號是通過選擇性地切斷熔絲塊的熔絲來儲存的。
確定單元13將行激活信號RACT與信號HITB<0:N>進行組合,以產生各個信號XHITB<0:M>、NXEB和RAX2<0:1>。
信號XHITB<0:M>用來規定冗余主字線RMWL<0:M>的激活。信號NXEB用來防止修復地址信號的激活,即熔絲數據所規定的正常字線的激活。信號RAX2<0:1>是用于指定子字線的地址信號,并且與主字線和子字線以1∶4的比例被編碼的例子相對應。
墊選擇單元15產生使能信號EN,所述使能信號EN用于響應于信號XHITB<0:M>和NXEB來防止正常字線的激活,并選擇與單元墊20的冗余單元陣列相對應的子字線。
譯碼器17對行地址信號RA進行譯碼并產生地址信號LAX。
驅動器塊14驅動與信號XHITB<0:M>相對應的冗余主字線RMWL<0:M>。
驅動器塊16驅動地址信號RAX2<0:1>以產生地址信號BAX。
驅動塊18驅動地址信號BAX以產生子字線驅動信號FX。
如圖4所示,確定單元13包括邏輯電路13-1至13-3。
邏輯電路13-1將熔絲塊11的輸出信號HITB<0:N>與行激活信號RACT組合,以產生信號XHITB<0:M>。
圖4僅示出了邏輯電路13-1產生信號XHITB<0>的配置,而提供(M+1)個邏輯電路13-1以便產生信號XHITB<0:M>。
邏輯電路13-2將熔絲塊11的輸出信號HITB<0:N>之中的具有偶數序列的信號與具有奇數序列的信號進行組合,以產生信號HITSUM_EVEN和HITSUM_ODD。
邏輯電路13-3將信號HITSUM_EVEN、HITSUM_ODD和RACT進行組合,以產生地址信號RAX2<0:1>和信號NXEB。
由于在典型的半導體集成電路1中從芯片包括存儲區而主芯片不包括存儲區,所以主芯片和從芯片的芯片尺寸互不相同。
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