[發(fā)明專利]分光測量裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201110262087.6 | 申請日： | 2011-09-06 |
| 公開（公告）號： | CN102478429A | 公開（公告）日： | 2012-05-30 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 舟本達昭 | 申請（專利權(quán)）人： | 精工愛普生株式會社 |
| 主分類號： | G01J3/00 | 分類號： | G01J3/00;G01J3/10 |
| 代理公司： | 北京康信知識產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11240 | 代理人： | 吳孟秋;梁韜 |
| 地址： | 日本*** | 國省代碼： | 日本;JP |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 分光 測量 裝置 | ||
【權(quán)利要求書】：
1.一種分光測量裝置，其特征在于，該分光測量裝置將可見光波長區(qū)域的光分光，并且包括：
第一光源，發(fā)射在所述可見光波長區(qū)域中無峰值波長、并且隨著波長由短波向長波的增大光量增大的光；
第二光源，發(fā)射在所述可見光波長區(qū)域中具有峰值波長的光；
光混合器，將從所述第一光源和所述第二光源發(fā)射的光混合；
波長可變干涉濾波器，所述光混合器混合的光入射至所述波長可變干涉濾波器，并且，所述混合的光的入射光中的特定波長的光透過所述波長可變干涉濾波器；
光接收部，接收透過所述波長可變干涉濾波器的光；以及
測量控制部，轉(zhuǎn)換透過所述波長可變干涉濾波器的光的波長，并基于所述光接收部接收到的光來測量透過所述波長可變干涉濾波器的光的分光特性。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的分光測量裝置，其特征在于，
所述第二光源在385nm以上、450nm以下的范圍內(nèi)具有峰值波長。
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