[發明專利]通信設備測試裝置無效
| 申請號: | 201110261799.6 | 申請日: | 2011-09-06 |
| 公開(公告)號: | CN102437885A | 公開(公告)日: | 2012-05-02 |
| 發明(設計)人: | 薛海皋;倪峰;李曉剛;陸建棟;李海濤;方志國 | 申請(專利權)人: | 飛創(蘇州)電訊產品有限公司 |
| 主分類號: | H04B17/00 | 分類號: | H04B17/00 |
| 代理公司: | 蘇州創元專利商標事務所有限公司 32103 | 代理人: | 孫仿衛 |
| 地址: | 215009 江*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 通信 設備 測試 裝置 | ||
技術領域
本發明涉及一種對通訊設備的各項指標進行自動測試的測試裝置。
背景技術
對于一個雙工通訊設備,例如雙工濾波器,在投入到基站使用前一定要對其各項指標進行測試,比如S-Parameter(S參數)、VSWR(駐波比)、IMD(互調失真)、IIP3(輸入三階交調)、Noise?Figure(噪聲系數)等,當這些指標全部合格以后,產品才可以出貨。
S參數就是建立在入射波、反射波關系基礎上的網絡參數,適于微波電路分析,以器件端口的反射信號以及從該端口傳向另一端口的信號來描述電路網絡。
駐波比(VSWR,Voltage?Standing?Wave?Ratio)是射頻的一個重要參數。所謂駐波是由于傳輸途徑中的阻抗不匹配導致的,當傳輸途徑中阻抗出現不匹配時,會有一部分信號功率被反射回來,該反射信號同發射信號疊加形成駐波。駐波比較大意味著信號反射比較厲害,也就是說傳輸途徑上的匹配效果比較差。
IM(Inter?Modulation)是正常輸入被測件信號的諧波分量交調的產物,它們常常會對有用信號造成干擾。IMD(Inter?Modulation?Distortion)是指干擾信號相對于有用信號被被測件抑制的幅度,單位常用dB表示。
IP3(Input?Third-order?Intercept?Point)三階交調點是非線性器件(例如線性放大器,混相器以及接收器)的一種測量方式。它是一次諧波以及IM3的線性交點,反映了器件的線性度,也就是三次諧波對主波的影響程度。IP3越大,系統的線性度越好。IIP3(Input?Third-order?Intercept?Point)是指輸入端的三階交調,雙工濾波器一般用這個指標檢測其性能。
噪聲系數(Noise?Figure)常被用來衡量放大器本身的噪聲水平,由于放大器本身就有噪聲,輸出端的信噪比和輸入端信噪比是不一樣的。
在實際生產測試過程中,被測件可能有幾個、十幾個端口都需要測試相同的技術指標,比如S參數。這樣以來,測試人員就需要把網絡分析儀的兩根RF電纜先后分別連接到那十幾個被測件的端口上。在生產線大規模量產時,這樣的方法會耗費很多的時間而且容易產生錯誤。同理,在進行其它技術指標的測試過程中,也會產生同樣的問題。
發明內容
本發明的目的是提供一種測試快捷、可靠性好的通信設備測試裝置,以在測試過程中降低人力成本、時間成本、測試設備成本。
為達到上述目的,本發明采用的技術方案是:
一種通信設備測試裝置,包括
計算機,所述的計算機上運行測試控制軟件用于發出端口控制信號來控制通信設備的測試;
高低電平控制器,所述的高低電平控制器具有輸入端和輸出端,其輸入端與所述的計算機相連接并接收所述的端口控制信號,所述的高低電平控制器根據所述的端口控制信號產生相應的電平信號;
待測端口選擇核心模塊,所述的待測端口選擇核心模塊與所述的高低電平控制器相連接,其具有若干個測試輸入端口及若干個測試輸出端口,每個所述的測試輸入端口分別與每個所述的測試輸出端口相連接,當對被測件進行測試時,所述的測試輸入端口與所述的被測件的各管腳相連接;所述的待測端口選擇核心模塊接收所述的端口控制信號并根據其選通相應的測試輸入端口;
測試模塊,所述的測試模塊包括對所述的被測件的各參數進行測試的測試器件;
可變微波組件模塊,所述的可變微波組件模塊包括多種與所述的測試器件相配合的微波器件。
優選的,所述的待測端口選擇核心模塊還具有兩個與所述的測試輸出端口相連接的旁路擴展端口,當所述的待測端口需擴展時,多級所述的待測端口選擇核心模塊相連接,下一級所述的待測端口選擇核心模塊的測試輸出端口與上一級所述的待測端口選擇核心模塊的旁路擴展端口相連接。
優選的,所述的待測端口選擇核心模塊為用于功率較高情況下進行測試的高功率核心模塊或用于功率較低情況下進行測試的低功率核心模塊。
優選的,所述的高低電平控制器為通用接口總線高低電平控制器或通用串行總線高低電平控制器。
優選的,所述的測試模塊還包括為各測試器件提供所述的測試器件接入或不接入測試的選件器件,各所述的選件器件整合為可變選件模塊。
優選的,所述的測試器件包括用于測試S參數的網絡分析儀、用于測試駐波比的駐波比測試器、用于測試三階交調點的三階交調點測試器、用于測試射頻通路功率的功率測試器、用于測試噪聲系數的噪聲儀、頻譜分析儀中的任意一種或幾種。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于飛創(蘇州)電訊產品有限公司,未經飛創(蘇州)電訊產品有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201110261799.6/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





