[發明專利]電路板測試裝置無效
| 申請號: | 201110237576.6 | 申請日: | 2011-08-18 |
| 公開(公告)號: | CN102955122A | 公開(公告)日: | 2013-03-06 |
| 發明(設計)人: | 潘建純;周海清;涂一新 | 申請(專利權)人: | 鴻富錦精密工業(深圳)有限公司;鴻海精密工業股份有限公司 |
| 主分類號: | G01R31/28 | 分類號: | G01R31/28;G01R1/04 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 518109 廣東省深圳市*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 電路板 測試 裝置 | ||
1.一種電路板測試裝置,用于測試一個電路板;該電路板包括一個背面;該背面包括一個電路區及一個非電路區,該電路區形成有至少一個測量點;該非電路區開設有至少三個貫穿該電路板的通孔;該電路板測試裝置包括一個承載板、至少三個螺柱套、至少三個螺柱及一個測量裝置;該承載板包括一個承載面,該承載面開設有至少三個與該至少三個通孔對應的第一螺孔;該至少三個螺柱與該至少三個通孔、該至少三個螺柱套與該至少三個第一螺孔配合將該電路板固定在該承載板上;該背面與該承載面相對,該螺柱套設置在該背面與該承載面之間;該測量裝置包括一個測量探針;該測量探針分別與該至少一個測量點接觸且與該背面的夾角大于一個臨界值時該測量裝置可以分別測量該至少一個測量點;該背面與該承載面之間的間隙滿足:
,
其中,H為該背面與該承載面之間的間隙,L為該測量探針分別與該至少一個測量點接觸時在該背面上的正投影的最大長度,為該臨界值。
2.如權利要求1所述的電路板測試裝置,其特征在于,每個螺柱套包括一個與對應一個第一螺孔匹配的圓柱部及一個自該圓柱部同軸延伸的圓套部;每個圓柱部的直徑小于對應一個圓套部的外徑,每個圓柱部與對應一個圓套部之間形成一個階梯面;每個圓套部與對應一個圓柱部相背的表面形成有一個與對應一個螺柱套匹配的第二螺孔;每個圓套部的外徑大于對應一個通孔的直徑;每個圓柱部螺入對應一個第一螺孔內直至完全沒入對應一個第一螺孔內,對應一個階梯面抵壓在該承載面上;該至少三個螺柱套分別穿過該至少三個通孔后螺入該至少三個第二螺孔,該至少一個表面抵壓于該背面。
3.如權利要求1所述的電路板測試裝置,其特征在于,該承載板包括一個上蓋及一個底盤;該上蓋采用硬質材料制成,包括一個矩形的承載片及自該承載片的邊緣沿垂直于該承載片的方向延伸的外側壁;該外側壁形成有多個卡口;該底盤采用柔性材料制成,其形成有一個與該上蓋匹配的收容槽;該收容槽形成有一個于該外側壁對應的內側壁;該內側壁形成有多個與該多個卡口對應的卡銷;該多個第一螺孔開設于該承載片上;該上蓋壓入該收容槽,逼使該多個卡銷變形,直至該多個卡銷卡入該多個卡口。
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