[發(fā)明專利]半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)及其制法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201110230893.5 | 申請日: | 2011-08-12 |
| 公開(公告)號: | CN102931184A | 公開(公告)日: | 2013-02-13 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 陳東郁 | 申請(專利權(quán))人: | 聯(lián)華電子股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L27/02 | 分類號: | H01L27/02;H01L27/092;H01L29/06;H01L21/311;H01L21/762;G03F7/00 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律師事務(wù)所 11105 | 代理人: | 彭久云 |
| 地址: | 中國臺灣新竹*** | 國省代碼: | 中國臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 半導(dǎo)體 結(jié)構(gòu) 及其 制法 | ||
1.一種半導(dǎo)體結(jié)構(gòu),包括:
基板,該基板上定義至少有一溝槽區(qū)域,該溝槽區(qū)域具有:
兩個不相鄰的第一區(qū)域,以及
第二區(qū)域,位于該兩個第一區(qū)域之間且與該兩個第一區(qū)域相鄰;
第一物質(zhì)層,設(shè)置于該基板的該溝槽區(qū)域以外的區(qū)域;以及
第二物質(zhì)層,設(shè)置于該第二區(qū)域中,該第二物質(zhì)層與該第一物質(zhì)層齊高。
2.如權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體結(jié)構(gòu),其中該第一物質(zhì)層以及該第二物質(zhì)層包括不同介電材料。
3.如權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體結(jié)構(gòu),其中該第二區(qū)域包括一組彼此平行的對邊。
4.如權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體結(jié)構(gòu),其中該第二物質(zhì)層僅設(shè)置于該第二區(qū)域中。
5.如權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體結(jié)構(gòu),其中該第二物質(zhì)層還設(shè)置于該溝槽區(qū)域以外的區(qū)域,并延伸至另一溝槽區(qū)域的第二區(qū)域。
6.如權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體結(jié)構(gòu),其中該兩個第一區(qū)域為梯形。
7.如權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體結(jié)構(gòu),其中該溝槽區(qū)域為矩形。
8.如權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體結(jié)構(gòu),還包括第三物質(zhì)層,設(shè)置于該兩個第一區(qū)域中,且該第三物質(zhì)層與該第一物質(zhì)層以及該第二物質(zhì)層齊高。
9.如權(quán)利要求8所述的半導(dǎo)體結(jié)構(gòu),其中該第一物質(zhì)層以及該第三物質(zhì)層包括不同介電材料,該第二物質(zhì)層包括外延硅。
10.如權(quán)利要求8所述的半導(dǎo)體結(jié)構(gòu),其中該第一物質(zhì)層以及該第二物質(zhì)層包括不同介電材料,該第三物質(zhì)層包括導(dǎo)電材料。
11.一種形成半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的方法,包括:
提供基板,其中該基板上定義有溝槽區(qū)域,該溝槽具有兩個不相鄰的第一區(qū)域,以及具有位于該兩個第一區(qū)域之間且與該兩個第一區(qū)域相鄰的第二區(qū)域;
于該基板上形成第一物質(zhì)層,接著移除位于該溝槽區(qū)域中的該第一物質(zhì)層以形成第一圖案化物質(zhì)層;以及
于該基板上的該第二區(qū)域中形成第二圖案化物質(zhì)層,其中該第一圖案化物質(zhì)層以及該第二圖案化物質(zhì)層齊高。
12.如權(quán)利要求11所述的形成半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的方法,其中該第二區(qū)域包括一組彼此平行的對邊。
13.如權(quán)利要求11所述的形成半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的方法,其中該第一圖案化物質(zhì)層以及該第二圖案化物質(zhì)層具有蝕刻選擇比。
14.如權(quán)利要求11所述的形成半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的方法,其中先形成該第一圖案化物質(zhì)層,再形成該第二圖案化物質(zhì)層。
15.如權(quán)利要求11所述的形成半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的方法,其中先形成該第二圖案化物質(zhì)層,再形成該第一圖案化物質(zhì)層。
16.如權(quán)利要求11所述的形成半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的方法,在形成該第一圖案化物質(zhì)層以及該第二圖案化物質(zhì)層后,還包括進行蝕刻工藝,以該第一圖案化物質(zhì)層以及該第二圖案化物質(zhì)層為掩模來蝕刻該基板。
17.如權(quán)利要求11所述的形成半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的方法,在形成該第一圖案化物質(zhì)層以及該第二圖案化物質(zhì)層后,還包括形成第三物質(zhì)層于該兩個第一區(qū)域中,其中該第三物質(zhì)層與該第一物質(zhì)層以及該第二物質(zhì)層齊高。
18.如權(quán)利要求17所述的形成半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的方法,其中該第一物質(zhì)層以及該第二物質(zhì)層包括不同介電材料,該第三物質(zhì)層包括導(dǎo)電層。
19.如權(quán)利要求11所述的形成半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的方法,在形成該第一圖案化物質(zhì)層后,以及形成該第二圖案化物質(zhì)層之前,還包括形成第三物質(zhì)層于該兩個第一區(qū)域中,其中該第三物質(zhì)層與該第一物質(zhì)層齊高。
20.如權(quán)利要求19所述的形成半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的方法,其中該第一物質(zhì)層以及該第三物質(zhì)層包括不同介電材料,該第二物質(zhì)層包括外延硅。
21.如權(quán)利要求11所述的形成半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的方法,其中形成該第一圖案化物質(zhì)層包括使用第一光掩模圖形,形成該第二圖案化物質(zhì)層包括使用第二光掩模圖形,該第一光掩模圖形與該第二光掩模圖形垂直。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L27-00 由在一個共用襯底內(nèi)或其上形成的多個半導(dǎo)體或其他固態(tài)組件組成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共絕緣襯底上形成的無源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有專門適用于整流、振蕩、放大或切換的半導(dǎo)體組件并且至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的;包括至少有一個躍變勢壘或者表面勢壘的無源集成電路單元的
H01L27-14 . 包括有對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射或者微粒子輻射并且專門適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或適用于通過這樣的輻射控制電能的半導(dǎo)體組件的
H01L27-15 .包括專門適用于光發(fā)射并且包括至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的半導(dǎo)體組件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料結(jié)點的熱電元件的;包括有熱磁組件的
- 卡片結(jié)構(gòu)、插座結(jié)構(gòu)及其組合結(jié)構(gòu)
- 鋼結(jié)構(gòu)平臺結(jié)構(gòu)
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