[發(fā)明專利]用于光聲氣體傳感器的增強(qiáng)空腔有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201110218592.0 | 申請日: | 2011-06-29 |
| 公開(公告)號: | CN102331401A | 公開(公告)日: | 2012-01-25 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | B·弗里茨 | 申請(專利權(quán))人: | 霍尼韋爾國際公司 |
| 主分類號: | G01N21/17 | 分類號: | G01N21/17 |
| 代理公司: | 中國專利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 劉春元;蔣駿 |
| 地址: | 美國新*** | 國省代碼: | 美國;US |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 用于 聲氣 傳感器 增強(qiáng) 空腔 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明大體涉及氣體傳感器,并且更具體地涉及光聲氣體傳感器。
背景技術(shù)
氣體傳感器被廣泛應(yīng)用于許多不同的應(yīng)用,包括商業(yè)應(yīng)用、軍事應(yīng)用以及個人應(yīng)用。這些氣體傳感器的靈敏度可以不同,并且用于特殊應(yīng)用的氣體傳感器的類型常常根據(jù)所需的靈敏度和費(fèi)用來選擇。對于許多商業(yè)可獲得的光聲氣體傳感器,靈敏度可以部分地基于光聲傳感器的內(nèi)部光程的長度。增加光程長度可能會影響這樣的傳感器的靈敏度和操作。
發(fā)明內(nèi)容
本公開大體涉及氣體傳感器,并且更具體地涉及光聲氣體傳感器。在一個說明性實(shí)施例中,公開了一種光聲氣體傳感器,其增加了在光聲池中光束的內(nèi)部程長,其可以增加光聲池中待檢測氣體對光的吸收。所述光聲氣體傳感器可以包括被配置為發(fā)射電磁輻射的電磁輻射源,被配置為接收待檢測氣體樣品的光聲池,以及與所述光聲池聲學(xué)耦合的檢測器。所述光聲池可以包括與所述光聲池相鄰的光學(xué)元件。在某些情況下,所述光學(xué)元件的后壁可以限定所述光聲池的第一壁。所述光學(xué)元件可將所述電磁輻射的至少一部分傳輸進(jìn)入所述光聲池。所述光聲池可成形為使得傳輸進(jìn)入所述光聲池的電磁輻射在返回到所述光學(xué)元件的后壁之前從所述光聲池的內(nèi)表面反射至少兩次。在某些情況下,所述光聲池可成形并/或被配置為使得傳輸進(jìn)入所述光聲池的電磁輻射從所述光學(xué)元件的后壁反射最少一次。
提供前述的發(fā)明內(nèi)容以便大體理解本發(fā)明特有的某些創(chuàng)新特征,而并不意圖于全面的描述。通過把整個說明書、權(quán)利要求書、附圖以及摘要作為一個整體可以達(dá)到對本公開的全面評價。
附圖說明
通過結(jié)合附圖對下面本公開的多個說明性實(shí)施例的詳細(xì)描述可以更全面地理解本發(fā)明,其中:
圖1是說明性光聲氣體檢測系統(tǒng)的示意圖;
圖2是另一說明性光聲氣體檢測系統(tǒng)的示意圖;
圖3是示出圖2所示光聲氣體檢測系統(tǒng)中單一光線的光程的示意圖;以及
圖4-6是其它說明性光聲池的示意圖;
具體實(shí)施方式
下面的描述應(yīng)當(dāng)參考圖來閱讀,其中相同的參考標(biāo)記遍及多個視圖指示相同的元件。詳細(xì)的描述和圖示出了用于說明要求保護(hù)的本發(fā)明的多個實(shí)施例。
圖1是可用于檢測環(huán)境中氣體樣品濃度的說明性光聲氣體檢測系統(tǒng)10的示意圖。在說明性實(shí)施例中,所述光聲氣體檢測系統(tǒng)10可以包括被配置為發(fā)射電磁輻射例如光束26的電磁輻射源12,被配置為接收待檢測氣體樣品的光聲池18,以及被配置為檢測電磁輻射與所述氣體樣品之間相互作用(例如吸收)的檢測器22。
在該說明性實(shí)施例中,所述電磁輻射源12(在某些情況下可以是激光器、發(fā)光二極管(LED)、燈或任何其它合適的光源)可以被配置為發(fā)射電磁輻射,例如光束26。在某些情況下,電磁輻射源12可以是準(zhǔn)直光源,例如激光器,或者在其它情況下,可以是非準(zhǔn)直光源。當(dāng)提供非準(zhǔn)直光源時,所述光束26可利用一個或多個光學(xué)元件如透鏡聚焦在所述光聲池18內(nèi)的某個位置,但這并不是必需的。
盡管不需要,但所述電磁輻射源12可調(diào)諧成不同的波長,這有助于識別所述氣體樣品中的特殊氣體種類。當(dāng)如此提供時,所述光束26可被調(diào)諧成待檢測氣體的吸收線或接近其的波長。可替換地,可以使用具有固定波長(即非可調(diào)諧)的電磁輻射源12。在這種情況下,所述電磁輻射源12可選為具有處于待檢測氣體的吸收線或接近吸收線的波長。在某些情況下,可以使用多個電磁輻射源,每個電磁輻射源提供被調(diào)諧成不同氣體的吸收線的光的波長。可以預(yù)期的是,可以使用任何合適的電磁輻射源12。
在該說明性實(shí)施例中,所述光聲池18用于接收氣體樣品以進(jìn)行檢測。在某些情況下,所述光聲池18可以包含允許氣體樣品遷移到所述光聲池18的空腔17內(nèi)的膜。所述光聲池18可由一個或多個壁限定,例如前壁32、后壁30、以及側(cè)壁27和28,在該說明性實(shí)施例中它們共同限定了空腔17。在某些例子中,光聲池18可以被配置為向給定體積的空腔17提供內(nèi)部光束23的增加的內(nèi)部程長。在某些情況中,所述光聲池18可以成形為使得內(nèi)部光束23的至少大部分在返回到所述光學(xué)元件20的后側(cè)之前從所述光聲池18的內(nèi)壁上反射至少兩次。可替換地,或另外,所述光聲池18可成形為使得所述內(nèi)部光束23的至少大部分至少在所述內(nèi)部光束23第一次返回并到達(dá)所述光學(xué)元件20后側(cè)時具有大于閾角的入射角。這些只是一些示例。增加空腔17的體積可以顯著地減少所述空腔17內(nèi)的光聲信號,這可以顯著地減少所述光聲氣體檢測系統(tǒng)10的信噪比。
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G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
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