[發明專利]基于曲面擬合的反射鏡拼接漸暈消除裝置無效
| 申請號: | 201110216522.1 | 申請日: | 2011-07-29 |
| 公開(公告)號: | CN102314672A | 公開(公告)日: | 2012-01-11 |
| 發明(設計)人: | 張星祥;陶明慧;任建岳 | 申請(專利權)人: | 中國科學院長春光學精密機械與物理研究所 |
| 主分類號: | G06T5/00 | 分類號: | G06T5/00 |
| 代理公司: | 長春菁華專利商標代理事務所 22210 | 代理人: | 王淑秋 |
| 地址: | 130033 吉*** | 國省代碼: | 吉林;22 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 基于 曲面 擬合 反射 拼接 消除 裝置 | ||
1.一種基于曲面擬合的反射鏡拼接漸暈消除裝置,其特征在于包括:
根據最大漸暈臨界點位置的橫坐標xend,截取最大漸暈臨界點以內原始圖像的裝置;
對最大漸暈臨界點以內原始圖像進行糾正得到復原圖像的裝置。
2.根據權利要求1所述的基于曲面擬合的反射鏡拼接漸暈消除裝置,其特征在于所述最大漸暈臨界點位置的橫坐標xend通過下述方法得到:
根據光學臨界邊緣的衍射能量分布,經過最小二乘擬合法擬合得到反射鏡拼接漸暈光能量分布圖,然后利用公式I-1<E,求解出最大漸暈臨界點位置的橫坐標xend,其中I為光能量幅值,E為臨界誤差。
3.根據權利要求2所述的基于曲面擬合的反射鏡拼接漸暈消除裝置,其特征在于E≤0.01。
4.根據權利要求1或2所述的基于曲面擬合的反射鏡拼接漸暈消除裝置,其特征在于所述對最大漸暈臨界點以內原始圖像進行糾正得到復原圖像的裝置包括:
圖像灰度值二維擬合曲面運算裝置:利用式(1)、(2)進行迭代運算直至得到圖像灰度值二維擬合曲面;
Xk+1=Xk-tkg(Xk)????(2)
其中
X為與原始圖像上任一像素對應的圖像灰度值二維擬合曲面上的點的灰度值,X=X(x,y);
ε為目標約束函數F(X)的約束精度;
式(3)、(4)中
F=F(X)
為目標約束函數F(X)的梯度;
式(5)中,
其中
式(3)、(4)、(5)、(6)中x,y是圖像上任一像素點的坐標,m×n表示圖像大小(m為圖像像素點的行數,n為圖像像素點的列數);rx和ry表示沿圖像x軸和y軸的光能量衰減率;x0,y0表示參考圖像亮度中心坐標;c表示常偏移量;是歸一化后的任一像素點的坐標,fxy為實測的原始圖像上任一像素點的x,y灰度值;
利用圖像灰度值二維擬合曲面對最大漸暈臨界點內原始圖像進行糾正得到復原圖像的裝置。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于中國科學院長春光學精密機械與物理研究所,未經中國科學院長春光學精密機械與物理研究所許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201110216522.1/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:一種核桃開啟裝置
- 下一篇:一種磁瓦在線檢測裝置、控制系統及其控制方法





