[發明專利]一種數字集成電路功能測試儀

有效

• 申請號: 201110181692.0
• 申請日: 2011-06-30
• 公開（公告）號: CN102353891A
• 公開（公告）日: 2012-02-15
• 發明（設計）人: 詹惠琴;周建;古軍;徐林;金鳴;郝葉軍;王寅;李旭剛
• 申請（專利權）人: 電子科技大學
• 主分類號: G01R31/3181
• 分類號: G01R31/3181
• 代理公司: 成都行之專利代理事務所(普通合伙) 51220
• 代理人: 溫利平

技術領域

本發明屬于測試技術領域，更為具體地講，涉及一種數字集成電路功能測試儀。?

背景技術

當今集成電路產業飛速發展，集成電路種類越來越多，而數字集成電路在其中占據了很大的份額。數字集成電路功能繁多，管腳數各異，速度千差萬別。數字集成電路產業的發展為我們追求的數字化生活奠定了堅實的基礎，大量的芯片被生產出來，由于芯片在設計制造封裝使用過程中都有可能出現故障，因而要對其進行測試。?

數字集成電路測試包含功能測試、直流參數測試和交流參數測試。在三種測試中功能測試是基礎，另外兩種測試都是建立在功能測試之上的。測試速度是功能測試儀最重要的指標之一。?

圖1是傳統的數字集成電路測試儀的原理框圖。?

如圖1所示，傳統的數字集成電路測試儀包含：測試矢量存儲器、讀測試矢量模塊、格式化編碼模塊、輸入電平轉換模塊、程控電源模塊、輸出電平轉換模塊，采集測試結果與判斷模塊、寫結果矢量模塊以及結果存儲器。?

傳統的數字集成電路功能測試儀采用了串行的工作方式，測試儀首先讀取存儲在矢量存儲器里面的測試矢量，接著對測試矢量進行格式化編碼，之后在輸入電平轉換模塊中對被測數字集成電路進行激勵，然后通過輸出電平轉換模塊中采集被測數字集成電路的激勵響應并與期望結果進行比較，最后將測試結果寫入結果存儲器。?

圖2是圖1所示的數字集成電路測試儀的功能測試時序圖。?

如圖2所示，一條測試矢量的功能測試包含讀測試矢量、格式化編碼、采集測試結果以及寫測試結果四個工作環節，每個環節都是建立在前面的環節基礎上的，只有當前面的所有環節都執行完成，后面的環節才可以執行。在其整個工作過程中，所有的環節都是在一個測試周期內完成的，測試效率較低，無?法滿足需求。?

傳統的數字集成電路功能測試儀功能測試速度不高，就在于在一個測試周期內要實現四個環節，要在一個測試周期內同時滿足測試矢量的讀取時間、被測試器件的建立時間和返回時間、輸出延遲和寫結果存儲器的時間，這樣能實現的最小測試周期必須大于這四個時間之和，因而限制了測試速度的提高。?

近二十年來數字集成電路的工作速度年均增長30％，而測試儀的速度卻增長緩慢，測試儀的速度已經越來越跟不上數字集成電路的速度。在假設傳統功能測試儀四個環節的時間都是被測數字集成電路的工作周期的情況下，功能測試要達到被測試集成電路的速度，需要其可以提供4倍于被測數字集成電路速度，即使研制出如此高速的功能測試儀，其成本也是非常昂貴的。?

發明內容

本發明的目的在于克服現有技術的不足，提供一種測試速度高的數字集成電路功能測試儀。?

為實現上述目的，本發明的數字集成電路功能測試儀包括矢量存儲器、讀測試矢量模塊、格式化編碼模塊、輸入電平轉換模塊、程控電源模塊、輸出電平轉換模塊、采集與比較模塊、寫結果矢量模塊以及結果存儲器，程控電源模塊為輸入電平轉換模塊、輸出電平轉換模塊提供電平轉換所需的高低電平電壓，其特征在于，還包括一時序控制模塊、地址總線產生模塊；?

在時序控制模塊的控制下，在第一個測試周期，地址總線產生模塊地址指針指向第一條測試矢量的地址，地址總線產生模塊輸出第一條測試矢量的地址給矢量存儲器，讀測試矢量模塊從矢量存儲器中讀取第一條測試矢量及其對應的測試期望結果，然后經過第一個測試周期后，第一條測試矢量已經被穩定地被讀取，對應的測試期望結果送入時序控制模塊暫存；?

在第二個測試周期，格式化編碼模塊對讀取的第一條測試矢量設置合適的時鐘建立點和返回點，進行合適的格式化編碼，并輸出給輸入電平轉換模塊進行電平轉換，接著將格式化編碼后的第一條測試矢量施加到被測數字集成電路的輸入管腳，經過第二個測試周期后，被測數字集成電路穩定輸出；同時，地址總線產生模塊地址指針加1，指向下一條測試矢量的地址，地址總線產生模塊輸出第二條測試矢量的地址給矢量存儲器，讀測試矢量模塊從矢量存儲器中讀取?第二條測試矢量及其對應的測試期望結果，然后經過第二個測試周期后，第二條測試矢量已經被穩定地被讀取，對應的測試期望結果送入時序控制模塊暫存；?