[發(fā)明專利]一種數(shù)字集成電路功能測試儀

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201110181692.0
• 申請日: 2011-06-30
• 公開（公告）號: CN102353891A
• 公開（公告）日: 2012-02-15
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 詹惠琴;周建;古軍;徐林;金鳴;郝葉軍;王寅;李旭剛
• 申請（專利權(quán)）人: 電子科技大學(xué)
• 主分類號: G01R31/3181
• 分類號: G01R31/3181
• 代理公司: 成都行之專利代理事務(wù)所(普通合伙) 51220
• 代理人: 溫利平

1.一種數(shù)字集成電路功能測試儀包括矢量存儲器、讀測試矢量模塊、格式化編碼模塊、輸入電平轉(zhuǎn)換模塊、程控電源模塊、輸出電平轉(zhuǎn)換模塊、采集與比較模塊、寫結(jié)果矢量模塊以及結(jié)果存儲器，程控電源模塊為輸入電平轉(zhuǎn)換模塊、輸出電平轉(zhuǎn)換模塊提供電平轉(zhuǎn)換所需的高低電平電壓，其特征在于，還包括一時序控制模塊、地址總線產(chǎn)生模塊；

在時序控制模塊的控制下，在第一個測試周期，地址總線產(chǎn)生模塊地址指針指向第一條測試矢量的地址，地址總線產(chǎn)生模塊輸出第一條測試矢量的地址給矢量存儲器，讀測試矢量模塊從矢量存儲器中讀取第一條測試矢量及其對應(yīng)的測試期望結(jié)果，然后經(jīng)過第一個測試周期后，第一條測試矢量已經(jīng)被穩(wěn)定地被讀取，對應(yīng)的測試期望結(jié)果送入時序控制模塊暫存；

在第二個測試周期，格式化編碼模塊對讀取的第一條測試矢量設(shè)置合適的時鐘建立點和返回點，進行合適的格式化編碼，并輸出給輸入電平轉(zhuǎn)換模塊進行電平轉(zhuǎn)換，接著將格式化編碼后的第一條測試矢量施加到被測數(shù)字集成電路的輸入管腳，經(jīng)過第二個測試周期后，被測數(shù)字集成電路穩(wěn)定輸出；同時，地址總線產(chǎn)生模塊地址指針加1，指向下一條測試矢量的地址，地址總線產(chǎn)生模塊輸出第二條測試矢量的地址給矢量存儲器，讀測試矢量模塊從矢量存儲器中讀取第二條測試矢量及其對應(yīng)的測試期望結(jié)果，然后經(jīng)過第二個測試周期后，第二條測試矢量已經(jīng)被穩(wěn)定地被讀取，對應(yīng)的測試期望結(jié)果送入時序控制模塊暫存；

在第三個測試周期，被測數(shù)字集成電路的輸出經(jīng)輸出電平轉(zhuǎn)換模塊進行電平轉(zhuǎn)換后，由采集與比較模塊采回，并作為第一條測試矢量的測試結(jié)果與時序控制模塊中暫存的第一條測試矢量對應(yīng)的測試期望結(jié)果進行比較；同時，格式化編碼模塊對讀取的第二條測試矢量設(shè)置合適的時鐘建立點和返回點，進行合適的格式化編碼，并輸出給輸入電平轉(zhuǎn)換模塊進行電平轉(zhuǎn)換，接著將格式化編碼后的第二條測試矢量施加到被測數(shù)字集成電路的輸入管腳，經(jīng)過第三個測試周期后，被測數(shù)字集成電路穩(wěn)定輸出；同時，地址總線產(chǎn)生模塊地址指針加1，指向下一條測試矢量的地址，地址總線產(chǎn)生模塊輸出第三條測試矢量的地址給矢量存儲器，讀測試矢量模塊從矢量存儲器中讀取第三條測試矢量及其對應(yīng)的測試期望結(jié)果，然后經(jīng)過第三個測試周期后，第三條測試矢量已經(jīng)被穩(wěn)定地被讀取，對應(yīng)的測試期望結(jié)果送入時序控制模塊暫存；

在第四個測試周期，寫結(jié)果矢量模塊將第一條測試矢量的測試結(jié)果及與其測試期望結(jié)果的比較結(jié)果存入結(jié)果存儲器中；同時，被測數(shù)字集成電路的輸出經(jīng)輸出電平轉(zhuǎn)換模塊進行電平轉(zhuǎn)換后，由采集與比較模塊采回，并作為第二條測試矢量的測試結(jié)果與時序控制模塊期暫存的第二條測試矢量對應(yīng)的測試期望結(jié)果進行比較；同時，格式化編碼模塊對讀取的第三條測試矢量設(shè)置合適的時鐘建立點和返回點，進行合適的格式化編碼，并輸出給輸入電平轉(zhuǎn)換模塊進行電平轉(zhuǎn)換，接著將格式化編碼后的第三條測試矢量施加到被測數(shù)字集成電路的輸入管腳，經(jīng)過第四個測試周期后，被測數(shù)字集成電路穩(wěn)定輸出；同時，地址總線產(chǎn)生模塊地址指針加1，指向下一條測試矢量的地址，地址總線產(chǎn)生模塊輸出第四條測試矢量的地址給矢量存儲器，讀測試矢量模塊從矢量存儲器中讀取第四條測試矢量及其對應(yīng)的測試期望結(jié)果，然后經(jīng)過第四個測試周期后，第四條測試矢量已經(jīng)被穩(wěn)定地被讀取，對應(yīng)的測試期望結(jié)果送入時序控制模塊暫存。

至此，后面的每一個測試周期，對依次讀取下一條測試矢量及其對應(yīng)的測試期望結(jié)果，對讀取的測試矢量進行格式編碼和電平轉(zhuǎn)換并施加到被測數(shù)字集成電路的輸入管腳，對上一條測試矢量的測試結(jié)果采回和比較，對上上一條測試矢量的測試結(jié)果及與其測試期望結(jié)果的比較結(jié)果存入結(jié)果存儲器，從而完成數(shù)字集成電路的功能測試。