[發(fā)明專利]一種錐體膜厚測試裝置及其制作方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201110180459.0
• 申請(qǐng)日: 2011-06-30
• 公開（公告）號(hào): CN102853797B
• 公開（公告）日: 2016-11-23
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 吳華夏;劉勁松;胡海城;張曉瑞;何畔;趙傳芳
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 安徽華東光電技術(shù)研究所
• 主分類號(hào): G01B21/08
• 分類號(hào): G01B21/08
• 代理公司: 安徽匯樸律師事務(wù)所 34116
• 代理人: 胡敏

1.一種錐體膜厚測試裝置，其用于固定膜厚測試儀探頭使該膜厚測試儀探頭在固定的狀態(tài)下測試待測錐體的膜層厚度，其特征在于，該錐體膜厚測試裝置包括測試基座以及固定在該測試基座上的探頭固定座，該測試基座包括測試底板以及固定在該測試底板上的側(cè)支板，該探頭固定座包括套筒、固定環(huán)底座、以及固定卡套，該測試底板用于安置該待測錐體，該側(cè)支板用于固定該固定環(huán)底座，該固定卡套固定在該固定環(huán)底座上，該固定卡套與該固定環(huán)底座用于配合固定該套筒，該套筒用于固定該膜厚測試儀探頭以使該膜厚測試儀探頭緊貼該待測錐體表面。

2.如權(quán)利要求1所述的錐體膜厚測試裝置，其特征在于，該測試底板為一平板，并垂直向外延伸一弧形突起，該弧形突起的弧度依據(jù)該待測錐體直徑的大小而定，該弧形突起開口最大位置處的直徑不小于該待測錐體的直徑。

3.如權(quán)利要求1所述的錐體膜厚測試裝置，其特征在于，該側(cè)支板卡合在該測試底板上并采用螺絲固定。

4.如權(quán)利要求1所述的錐體膜厚測試裝置，其特征在于，該固定環(huán)底座開設(shè)有呈半圓弧狀的收容槽，且該收容槽貫穿該固定環(huán)底座的兩個(gè)相對(duì)表面使該固定環(huán)底座大致呈拱門狀，該收容槽底部正中心開設(shè)有階梯孔，該固定環(huán)底座通過該階梯孔采用螺絲鎖付固定在該側(cè)支板上。

5.如權(quán)利要求1所述的錐體膜厚測試裝置，其特征在于，該固定卡套中部呈半圓弧狀以用于卡合在該套筒上，該固定卡套的兩端分別向背垂直延伸形成兩個(gè)固定部，該固定卡套通過該兩個(gè)固定部采用螺絲鎖付固定在該套筒上。

6.一種如權(quán)利要求1所述的錐體膜厚測試裝置的制作方法，其包括以下步驟：

提供測試底板、側(cè)支板、套筒、固定環(huán)底座以及固定卡套；

將該測試底板水平放置在工作臺(tái)上，該側(cè)支板安裝固定在該測試底板上；

取一待測錐體放在該測試底板上；

將該膜厚測試儀探頭卡入該套筒內(nèi)；

將該套筒固定在該固定環(huán)底座上；

將已安裝好的該膜厚測試儀探頭緊貼該待測錐體表面；

調(diào)整該固定環(huán)底座和該側(cè)支板的相對(duì)高度位置并標(biāo)記；

根據(jù)該標(biāo)記將該固定環(huán)底座固定在該側(cè)支板上以形成上述錐體膜厚測試裝置。

7.如權(quán)利要求6所述的錐體膜厚測試裝置的制作方法，其特征在于，在步驟“提供測試底板、側(cè)支板、套筒、固定環(huán)底座以及固定卡套”中還包括以下步驟：

根據(jù)待測錐體的直徑和高度，設(shè)計(jì)并按普通加工等級(jí)加工出測試基座的測試底板以及側(cè)支板；

根據(jù)膜厚測試儀探頭的大小模擬出探頭固定座的套筒的直徑大小和高度，設(shè)計(jì)出尺寸符合要求的套筒；

根據(jù)該套筒的直徑大小和高度，設(shè)計(jì)出該探頭固定座的固定環(huán)底座和固定卡套的尺寸及位置，并按普通加工等級(jí)加工出該固定環(huán)底座和該固定卡套。

8.如權(quán)利要求6所述的錐體膜厚測試裝置的制作方法，其特征在于，該測試底板為一平板，并垂直向外延伸一弧形突起，該弧形突起的弧度依據(jù)該待測錐體直徑的大小而定，該弧形突起開口最大位置處的直徑不小于該待測錐體的直徑，在步驟“取一待測錐體放在該測試底板上”中還包括以下步驟：

取一待測錐體放在該測試底板的上表面，并將該待測錐體沿測試底板上表面水平推入該弧形突起內(nèi)，直至該待測錐體完全卡入該弧形突起內(nèi)。

9.如權(quán)利要求6所述的錐體膜厚測試裝置的制作方法，其特征在于，該固定環(huán)底座開設(shè)有呈半圓弧狀的收容槽，且該收容槽貫穿該固定環(huán)底座的兩個(gè)相對(duì)表面使該固定環(huán)底座大致呈拱門狀，該收容槽底部正中心開設(shè)有階梯孔，該固定環(huán)底座通過該階梯孔采用螺絲鎖付固定在該側(cè)支板上，該制作方法還包括以下步驟：

在該側(cè)支板所標(biāo)記的位置加工出與該固定環(huán)底座底部中心階梯孔配合的螺紋孔，并先用螺絲將該固定環(huán)底座安裝在該側(cè)支板上，旋轉(zhuǎn)該固定環(huán)底座，直至該膜厚測試儀探頭與該待測錐體表面緊密貼合，擰緊該螺絲，將該固定環(huán)底座完全固定在該側(cè)支板上。

10.如權(quán)利要求8所述的錐體膜厚測試裝置的制作方法，其特征在于，該制作方法還包括以下步驟：

用螺絲將該固定卡套和該套筒完全固定在該固定環(huán)底座上，保證測試基準(zhǔn)不變；

打開膜厚測試儀，記錄下該膜厚測試儀基準(zhǔn)值；

將該待測錐體沿該測試底板上表面水平推入該弧形突起內(nèi)，直至錐體完全卡入該弧形突起內(nèi)；

記錄測試結(jié)果，并更換該待測錐體的不同表面按同樣方法測試；

記錄測試結(jié)果并對(duì)比分析得出該待測錐體的膜層厚度是否均勻，所得平均值即為該待測錐體的膜層厚度。