[發明專利]對金屬熔體進行測量和采樣的測量探針

有效

• 申請號: 201110151250.1
• 申請日: 2011-06-02
• 公開（公告）號: CN102288740A
• 公開（公告）日: 2011-12-21
• 發明（設計）人: D·拜恩斯;D·-J·奈葉恩斯
• 申請（專利權）人: 賀利氏電子耐特國際股份公司
• 主分類號: G01N33/20
• 分類號: G01N33/20;G01N1/10
• 代理公司: 北京天昊聯合知識產權代理有限公司 11112
• 代理人: 顧紅霞;彭會

1.一種在金屬熔體中進行測量和采樣的測量探針，所述測量探針具有布置在吹管上的測量頭，所述測量頭帶有至少一個溫度傳感器和采樣室，所述采樣室至少部分被所述測量頭包圍并且包括延伸穿過所述測量頭的吸入管道，所述吸入管道包括在所述測量頭內延伸的內部部分并且至少在位于所述內部部分中的一個位置處具有長度L和最小直徑D，其特征在于，

比值L/D²小于0.6mm^-1。

2.根據權利要求1所述的測量探針，其特征在于，

所述比值L/D²小于0.45mm^-1。

3.根據權利要求2所述的測量探針，其特征在于，

所述比值L/D²小于0.3mm^-1。

4.一種用于在金屬熔體中進行測量和采樣的測量探針，所述測量探針具有布置在吹管上的測量頭，所述測量頭帶有至少一個溫度傳感器和采樣室，所述采樣室至少部分被所述測量頭包圍并且包括吸入管道，所述吸入管道延伸穿過所述測量頭，其特征在于，

所述測量頭具有小于20毫巴的壓差P_g，所述壓差是按照如下方法確定的：首先，引導基準氣流通過帶有兩個開口端的管并測量所述管內的壓力P₁，然后將所述管的一端插入到所述測量頭的吸入管道內，引導同一基準氣流通過所述管并測量所述管內的壓力P₂，從差值P₂-P₁確定所述測量頭的壓差P_g。

5.根據權利要求4所述的測量探針，其特征在于，

所述測量頭的壓差P_g小于15毫巴。

6.根據權利要求1或4所述的測量探針，其特征在于，

所述比值L/D²小于0.6mm^-1，并且所述測量頭的壓差P_g小于20毫巴。

7.根據權利要求1或4所述的測量探針，其特征在于，

所述比值L/D²小于0.45mm^-1，并且所述測量頭的壓差P_g小于20毫巴。

8.根據權利要求1或4所述的測量探針，其特征在于，

所述比值L/D²小于0.3mm^-1，并且所述測量頭的壓差P_g小于20毫巴。

9.根據權利要求1至8中任一項所述的測量探針，其特征在于，

所述測量頭由從如下群組中選擇的材料制成：陶瓷材料，水泥，鋼，鑄造用砂。

10.根據權利要求1至9中任一項所述的測量探針，其特征在于，

所述吸入管道是用石英玻璃管制成的。

11.根據權利要求1至10中任一項所述的測量探針，其特征在于，

所述采樣室至少部分被由鑄造用砂制成的砂體包圍。

12.根據權利要求1至11中任一項所述的測量探針，其特征在于，

所述采樣室在相互垂直的第一方向和第二方向上的長度大于在與所述第一方向和第二方向都垂直的第三方向上的長度，并且所述吸入管道與所述第三方向垂直地通入所述采樣室。

13.根據權利要求1至12中任一項所述的測量探針，其特征在于，

所述測量頭還帶有至少一個電化學傳感器。

14.根據權利要求1至13中任一項所述的測量探針在吹煉過程期間在用于煉鋼的轉爐中的金屬熔體中進行測量和采樣的應用。

15.根據權利要求1至13中任一項所述的測量探針在電弧爐中的金屬熔體中進行測量和采樣的應用。