[發明專利]一種檢測鐵調素的方法和試劑盒有效
| 申請號: | 201110149663.6 | 申請日: | 2011-06-03 |
| 公開(公告)號: | CN102809599A | 公開(公告)日: | 2012-12-05 |
| 發明(設計)人: | 聶廣軍;T·胡;范佳;趙宇亮;M·弗拉里 | 申請(專利權)人: | 國家納米科學中心 |
| 主分類號: | G01N27/62 | 分類號: | G01N27/62 |
| 代理公司: | 北京潤平知識產權代理有限公司 11283 | 代理人: | 陳小蓮;王鳳桐 |
| 地址: | 100190 北*** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 檢測 鐵調素 方法 試劑盒 | ||
技術領域
本發明涉及一種檢測生物分子的方法和試劑盒,具體地,涉及一種檢測鐵調素的方法和一種檢測鐵調素的試劑盒。
背景技術
鐵調素(hepcidin)是一種具有廣譜殺菌抑菌作用的抗菌肽,屬于防御性蛋白家族。鐵調素基因在肝臟翻譯時,首先產生一種早期多肽,當其信號肽被酶切去除后,形成鐵調素前體(pro-hepcidin),并通過轉運進入血液循環,最后由前肽轉化酶(propeptide?convertase)剪接得到成熟的鐵調素。
鐵調素與遺傳性血色病、貧血、鐵代謝失調疾病、慢性腎臟疾病和炎癥反應等疾病存在一定的相關性,但由于個體差異等影響因素的存在,上述疾病的診斷結果還需要依賴于其它影響因素進行判斷,因此,對鐵調素進行定性和/或定量檢測,可以為上述疾病的診斷提供中間信息。
建立簡單快速的對鐵調素進行定性和/或定量檢測的方法是十分重要的。但是,具有臨床檢測意義的鐵調素只有25個氨基酸,其免疫原性非常低,對應的抗體很難得到,而目前已有的基于抗體檢測方法在檢測時大多無法區分鐵調素前體(pro-hepcidin)和鐵調素(hepcidin)。此外,已有的基于質譜的鐵調素檢測方法通常為:將疑似含有鐵調素的樣品,例如血清和/或血漿樣品,經過色譜分離或納米芯片富集等質譜樣品前處理后用于質譜檢測,而后根據質譜檢測結果確定樣品中是否含有鐵調素或者確定樣品中鐵調素的含量。由于色譜分離或納米芯片富集等質譜樣品前處理后用于質譜進樣的樣品質量仍然較差,已有的基于質譜的鐵調素檢測方法靈敏度較低且準確度較差。
發明內容
為了克服已有的基于質譜的鐵調素檢測方法靈敏度較低且準確度較差的缺陷,本發明提供了一種檢測鐵調素的方法和一種檢測鐵調素的試劑盒。
本發明的發明人發現,通過一種具有特定表面涂層結構的納米芯片能特異性地富集鐵調素,提高基于質譜的鐵調素方法的靈敏度和準確度,由此得到了本發明。
本發明提供了一種檢測鐵調素的方法,其中,所述方法包括如下步驟:
(1)將樣品液體與納米芯片接觸后,去除樣品液體,得到接觸樣品后的納米芯片;所述樣品液體含有鐵調素或不含有鐵調素;
(2)用洗脫液洗脫接觸樣品液體后的納米芯片,得到洗脫產物;所述洗脫液能夠溶解鐵調素;
(3)獲取步驟(2)得到的洗脫產物的質譜檢測結果;
(4)根據所述質譜檢測結果,確定洗脫產物中是否含有鐵調素,或者確定洗脫產物中鐵調素的含量;
步驟(1)中,所述納米芯片包括基片和附著在所述基片上的多孔氧化硅涂層,所述多孔氧化硅涂層的平均孔徑為3.65-3.75nm,所述多孔氧化硅涂層的比表面積為1050-1200m2/g,所述多孔氧化硅涂層具有軸向平行的多個孔道,且所述多個孔道中的7個孔道形成一個孔道組,每個孔道組包括一個中心孔道和與該中心孔道相鄰并圍繞該中心孔道的6個周邊孔道,該6個周邊孔道的截面中心連線形成正六邊形。
本發明的發明人進一步發現,通過將含有乙腈和三氟乙酸的樣品稀釋液與樣品混合,能夠進一步提高鐵調素檢測方法的靈敏度和準確度。
因此,本發明還提供了一種檢測鐵調素的試劑盒,其中,該試劑盒包括:
(i)樣品稀釋液,所述樣品稀釋液含有三氟乙酸和乙腈;
(ii)納米芯片,所述納米芯片包括基片和附著在所述基片上的多孔氧化硅涂層,所述多孔氧化硅涂層的平均孔徑為3.65-3.75nm,所述多孔氧化硅涂層的比表面積為1050-1200m2/g,所述多孔氧化硅涂層具有軸向平行的多個孔道,且所述多個孔道中的7個孔道形成一個孔道組,每個孔道組包括一個中心孔道和與該中心孔道相鄰并圍繞該中心孔道的6個周邊孔道,該6個周邊孔道的截面中心連線形成正六邊形。
本發明提供的檢測鐵調素的方法,顯著地提高了基于質譜的鐵調素檢測方法的靈敏度和準確度,特別是提高了復雜樣品(如血清)中鐵調素檢測效果,例如,以檢測人鐵調素為例,以含有2.5nM人鐵調素的兔血清為樣品,本發明提供的檢測鐵調素的方法能夠獲得大于3的信噪比和小于15%的變異系數,優于已有的基于質譜的鐵調素檢測方法,例如,應用多孔氧化硅涂層的平均孔徑為3.9nm,孔呈球形,孔與孔之間互相連通,孔的排列呈三維立體狀的納米芯片進行質譜樣品前處理的基于質譜的鐵調素檢測方法信噪比低至1.5,變異系數為高達25%。
本發明的其他特征和優點將在隨后的具體實施方式部分予以詳細說明。
附圖說明
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于國家納米科學中心,未經國家納米科學中心許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201110149663.6/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





