[發(fā)明專利]一種單元結(jié)構(gòu)的電磁響應(yīng)曲線預(yù)測方法和裝置無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201110111930.0 | 申請日: | 2011-04-30 |
| 公開(公告)號: | CN102479293A | 公開(公告)日: | 2012-05-30 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 劉若鵬;王睿;劉斌;季春霖 | 申請(專利權(quán))人: | 深圳光啟高等理工研究院;深圳光啟創(chuàng)新技術(shù)有限公司 |
| 主分類號: | G06F19/00 | 分類號: | G06F19/00 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 518000 廣東省深圳市*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 單元 結(jié)構(gòu) 電磁 響應(yīng) 曲線 預(yù)測 方法 裝置 | ||
【技術(shù)領(lǐng)域】
本發(fā)明涉及計(jì)算機(jī)領(lǐng)域,特別涉及一種大規(guī)模單元結(jié)構(gòu)的電磁響應(yīng)曲線預(yù)測方法和裝置。?
【背景技術(shù)】
超材料技術(shù)是一個前沿性交叉科技,其設(shè)計(jì)的技術(shù)領(lǐng)域包括了電磁、微波、太赫茲、光子、先進(jìn)的工程設(shè)計(jì)體系、通信、半導(dǎo)體等范疇。其核心思想是利用復(fù)雜的人造微結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)與加工實(shí)現(xiàn)人造“原子”以對電磁場或者聲納進(jìn)行響應(yīng)。其核心理論是描述電磁波軌跡與超材料特性的變形光學(xué)。該技術(shù)的一大核心難點(diǎn)在于如何建模設(shè)計(jì)成千上萬個相互不同的人造微結(jié)構(gòu)并按照合理的排布組成一個具有特殊功能性的超材料器件。這對建模、計(jì)算、理論分析、設(shè)計(jì)、調(diào)試都帶來了極大的困難。?
由于超材料所提供的特殊功能,這都是取決于它異常復(fù)雜的單元微結(jié)構(gòu),每個由微結(jié)構(gòu)所組成的單元結(jié)構(gòu)都可以由一個參數(shù)組來定義,每個參數(shù)組包含多個屬性參數(shù),例如單元微結(jié)構(gòu)的長、寬、高、厚度、介電常數(shù)、材料材質(zhì)等。其電磁響應(yīng)參數(shù)是多維的,每改變一個屬性參數(shù)都將改變其最終的電磁響應(yīng)曲線。?
如果需要一種超材料單元結(jié)構(gòu)體,該單元結(jié)構(gòu)體必須符合預(yù)先設(shè)定的對某一頻率的電磁響應(yīng)曲線,傳統(tǒng)的做法是:通過手動逐一改變?nèi)嗽煳⒔Y(jié)構(gòu)屬性參數(shù),測試某一頻率的電磁波通過該人造微結(jié)構(gòu)后的電磁響應(yīng)函數(shù),并與目標(biāo)電磁響應(yīng)函數(shù)進(jìn)行對比,如此不斷循環(huán),最終找到與目標(biāo)電磁響應(yīng)函數(shù)最為相近的人造微結(jié)構(gòu)屬性參數(shù);或者需要知道設(shè)計(jì)出來的一種材料單元結(jié)構(gòu)體對某一頻率的電磁響應(yīng)曲線是怎么樣的,傳統(tǒng)的做法也只能是通過手動測試?yán)L制。?
可想而知,在現(xiàn)有技術(shù)中,已知超材料單元結(jié)構(gòu)體的參數(shù)求電磁響應(yīng)曲線,或者已知電磁響應(yīng)曲線求超材料單元結(jié)構(gòu)體的參數(shù),工作效率非常低,?不能高效、快速地獲取超材料單元結(jié)構(gòu)體的參數(shù)與對應(yīng)的電磁響應(yīng)曲線的映射關(guān)系,從而阻礙超材料大規(guī)模應(yīng)用。?
【發(fā)明內(nèi)容】
本發(fā)明提供一種單元結(jié)構(gòu)的電磁響應(yīng)曲線預(yù)測方法和裝置,能實(shí)現(xiàn)預(yù)測超材料的單元結(jié)構(gòu)幾何參數(shù)及對應(yīng)的電磁響應(yīng)曲線三次樣條系數(shù)之間的映射關(guān)系。?
一種單元結(jié)構(gòu)的電磁響應(yīng)曲線預(yù)測方法,包括:?
獲取訓(xùn)練樣本,并初始化高斯過程,其中訓(xùn)練樣本包括單元結(jié)構(gòu)幾何參數(shù)及對應(yīng)的電磁響應(yīng)曲線三次樣條系數(shù);?
根據(jù)訓(xùn)練樣本,獲取高斯過程參數(shù)的最大后驗(yàn)概率;?
根據(jù)最大后驗(yàn)概率獲取高斯過程后驗(yàn)概率的中值函數(shù)及核函數(shù);?
根據(jù)外部輸入的單元結(jié)構(gòu)幾何參數(shù)和中值函數(shù)及核函數(shù),獲取該外部輸入的單元結(jié)構(gòu)幾何參數(shù)對應(yīng)的電磁響應(yīng)曲線三次樣條系數(shù)。?
一種單元結(jié)構(gòu)的電磁響應(yīng)曲線預(yù)測裝置,包括:?
第一獲取模塊:用于獲取訓(xùn)練樣本,訓(xùn)練樣本包括單元結(jié)構(gòu)幾何參數(shù)及對應(yīng)的電磁響應(yīng)曲線三次樣條系數(shù);?
初始化模塊,用于初始高斯過程;?
第二獲取模塊:用于根據(jù)訓(xùn)練樣本,獲取高斯過程參數(shù)的最大后驗(yàn)概率;?
第三獲取模塊:用于根據(jù)第二獲取模塊獲取的最大后驗(yàn)概率獲取高斯過程后驗(yàn)概率的中值函數(shù)及核函數(shù);?
第四獲取模塊,用于根據(jù)外部輸入的單元結(jié)構(gòu)幾何參數(shù)和第三獲取模塊獲取的中值函數(shù)及核函數(shù),獲取該外部輸入的單元結(jié)構(gòu)幾何參數(shù)對應(yīng)的電磁響應(yīng)曲線三次樣條系數(shù)。?
在本發(fā)明實(shí)施例中,通過建立單元結(jié)構(gòu)幾何參數(shù)及對應(yīng)的電磁響應(yīng)曲線三次樣條系數(shù)之間關(guān)系的高斯過程非參統(tǒng)計(jì)回歸數(shù)學(xué)模型,通過對訓(xùn)練樣本的學(xué)習(xí)以及大量的數(shù)學(xué)計(jì)算,最后得出最接近真實(shí)的單元結(jié)構(gòu)幾何參數(shù)和對應(yīng)的電磁響應(yīng)曲線三次樣條系數(shù)之間的映射關(guān)系,在具體運(yùn)用時,只要已知單元結(jié)構(gòu)幾何參數(shù),就可以估計(jì)出非常接近的電磁響應(yīng)曲線三次樣條系數(shù),從而可知對應(yīng)的電磁響應(yīng)曲線。?
【附圖說明】
圖1是本發(fā)明實(shí)施例一單元結(jié)構(gòu)的電磁響應(yīng)曲線預(yù)測方法的數(shù)據(jù)流程圖;?
圖2是本發(fā)明實(shí)施例二單元結(jié)構(gòu)的電磁響應(yīng)曲線預(yù)測方法的數(shù)據(jù)流程圖;?
圖3是本發(fā)明實(shí)施例三單元結(jié)構(gòu)的電磁響應(yīng)曲線預(yù)測裝置的邏輯結(jié)構(gòu)示意圖;?
圖4是本發(fā)明實(shí)施例四單元結(jié)構(gòu)的電磁響應(yīng)曲線預(yù)測裝置的邏輯結(jié)構(gòu)示意圖。?
【具體實(shí)施方式】
下面結(jié)合附圖和實(shí)施例對本發(fā)明進(jìn)行詳細(xì)說明。?
請參閱圖1,本發(fā)明實(shí)施例單元結(jié)構(gòu)的電磁響應(yīng)曲線預(yù)測方法第一實(shí)施例包括:?
101、獲取訓(xùn)練樣本,并初始化高斯過程參數(shù),其中訓(xùn)練樣本包括單元結(jié)構(gòu)幾何參數(shù)及對應(yīng)的電磁響應(yīng)曲線三次樣條系數(shù);?
選定高斯過程的非參統(tǒng)計(jì)回歸模型為描述超材料單元結(jié)構(gòu)幾何參數(shù)及對電磁波的響應(yīng)曲線三次樣條系數(shù)之間關(guān)系的數(shù)學(xué)模型;?
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于深圳光啟高等理工研究院;深圳光啟創(chuàng)新技術(shù)有限公司,未經(jīng)深圳光啟高等理工研究院;深圳光啟創(chuàng)新技術(shù)有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
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