[發(fā)明專利]一種石墨烯場效應(yīng)晶體管的制備方法無效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201110086082.2 | 申請(qǐng)日: | 2011-04-07 |
| 公開(公告)號(hào): | CN102184858A | 公開(公告)日: | 2011-09-14 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 周鵬;孫清清;吳東平;張衛(wèi) | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 復(fù)旦大學(xué) |
| 主分類號(hào): | H01L21/336 | 分類號(hào): | H01L21/336;C23C16/26;C23C16/34 |
| 代理公司: | 上海正旦專利代理有限公司 31200 | 代理人: | 陸飛;盛志范 |
| 地址: | 200433 *** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 石墨 場效應(yīng) 晶體管 制備 方法 | ||
1.一種石墨烯場效應(yīng)晶體管的制備方法,其特征在于,包括以下步驟:
(1)提供紅外線可穿透的襯底;
(2)化學(xué)氣相淀積石墨烯形成石墨烯溝道層;
(3)在所述石墨烯溝道層上構(gòu)圖形成柵介質(zhì)層;以及
(4)在所述柵介質(zhì)層上構(gòu)圖形成柵端;
其中,所述石墨烯溝道層可操作地在紅外線輻射下產(chǎn)生光電導(dǎo)效應(yīng)、以使所述石墨烯場效應(yīng)晶體管的電學(xué)特性發(fā)生變化。
2.如權(quán)利要求1所述的石墨烯場效應(yīng)晶體管的制備方法,其特征在于,所述石墨烯溝道層的石墨層數(shù)為2至10層。
3.如權(quán)利要求1或2所述的石墨烯場效應(yīng)晶體管的制備方法,其特征在于,所述步驟(2)包括以下過程:
(2a)將所述襯底置于化學(xué)氣相淀積裝置的腔體中,通入Ar/H2混合氣體,其中,流量范圍為200sccm至800sccm,壓力為8托至9托;
(2b)在確保所述腔體內(nèi)壓力為300-500毫托的環(huán)境下,通入甲烷與惰性氣體,甲烷與惰性氣體的氣體流量比值范圍約是1:2~1:5,甲烷與惰性氣體的總流量的范圍為280sccm至480sccm;以及
(2c)加熱到化學(xué)氣相淀積的溫度后,在Ar/H2混合氣體環(huán)境下按每分鐘45--55℃的速率降至室溫。
4.如權(quán)利要求1或2所述的石墨烯場效應(yīng)晶體管的制備方法,其特征在于,所述化學(xué)氣相淀積的溫度范圍為300℃-400℃。
5.如權(quán)利要求1或2所述的石墨烯場效應(yīng)晶體管的制備方法,其特征在于,步驟(3)所述柵介質(zhì)層為厚度范圍為10埃至100埃的高κ介質(zhì)層。
6.如權(quán)利要求5所述的石墨烯場效應(yīng)晶體管的制備方法,其特征在于,所述柵介質(zhì)層為原子層淀積生長形成的六方氮化硼,所述步驟(3)包括以下過程:
(3a)利用BBr3作為硼的前驅(qū)體、NH3作為氮的前驅(qū)體、惰性氣體作為載氣,原子層淀積的反應(yīng)腔的溫度為400℃到750℃,原子層淀積的反應(yīng)腔內(nèi)壓力范圍為1-10托;
(3b)先以流速800--1000sccm通入Ar/BBr3?2-3秒鐘后,再通入260--300sccm?Ar氣3--4秒鐘,再以16--20sccm流速通入NH3?2--3秒鐘,最后通入260--300sccm?Ar氣3--4秒鐘,從而完成一個(gè)循環(huán);以及
(3c)?重復(fù)以上步驟(3b),直至六方氮化硼生長達(dá)到的預(yù)定厚度。
7.如權(quán)利要求5所述的石墨烯場效應(yīng)晶體管的制備方法,其特征在于,所述柵介質(zhì)層為原子層淀積生長形成的Al2O3,所述步驟(3)還包括以下步驟:在步驟(3a)之前用NO2對(duì)所述石墨烯溝道層進(jìn)行表面處理。
8.如權(quán)利要求5所述的石墨烯場效應(yīng)晶體管的制備方法,其特征在于,所述柵介質(zhì)層為原子層淀積生長形成的Al2O3,所述步驟(3)還包括以下步驟:在步驟(3a)之前在所述石墨烯溝道層上生長3,4,9,10?-苝四羧酸的聚合物緩沖層。
9.如權(quán)利要求8所述的石墨烯場效應(yīng)晶體管的制備方法,其特征在于,所述生長3,4,9,10?-苝四羧酸的聚合物緩沖層的過程為:將所述石墨烯溝道層置入3,4,9,10?-苝四羧酸溶液中浸泡30--35分鐘。
10.如權(quán)利要求8所述的石墨烯場效應(yīng)晶體管的制備方法,其特征在于,在原子層淀積生長Al2O3時(shí),在50-200℃條件下利用三甲基鋁和水作為前驅(qū)體來生長Al2O3。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





