[發明專利]電子組件接觸器、用于測試電子組件的裝置及方法有效
| 申請號: | 201110070336.1 | 申請日: | 2011-03-18 |
| 公開(公告)號: | CN102221634A | 公開(公告)日: | 2011-10-19 |
| 發明(設計)人: | 鈴木滋;柳原臣吾;小池啟己 | 申請(專利權)人: | 瑞薩電子株式會社 |
| 主分類號: | G01R1/04 | 分類號: | G01R1/04;G01R31/00 |
| 代理公司: | 中原信達知識產權代理有限責任公司 11219 | 代理人: | 孫志湧;穆德駿 |
| 地址: | 日本神*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 電子 組件 接觸器 用于 測試 裝置 方法 | ||
本申請基于日本專利申請No.2010-064426,其內容通過引用結合于此。
技術領域
本發明涉及一種電子組件接觸器、用于測試電子組件的裝置以及用于測試電子組件的方法。
背景技術
當測試半導體器件或者其他電子組件的電特性時,使用中繼電子組件與測試電路板之間的電連接的電子組件接觸器。
日本特開專利公布No.2008-089555公開了電子組件接觸器的示例。日本特開專利公布No.2008-089555所公開的電子組件接觸器(電連接器件)具有多個板狀接觸引腳(接觸器)和外殼,所述多個板狀接觸引腳將在基板上形成的導電部件電連接至電子組件(測試目標對象)的端子(電極),并且接觸引腳被布置在外殼中。另外,日本特開專利公布No.2008-089555所公開的電子組件接觸器具有緩沖構件(橡膠構件),當接觸引腳的尖端被電子組件的端子按壓時,接觸引腳會使緩沖構件彈性地變形。
發明內容
本發明人已認識到如下事項。在日本特開專利公布No.2008-089555所公開的技術中,緩沖構件的橫截面被形成為圓形形狀、方形形狀、三角形形狀等。據此,難以通過使用緩沖構件來穩定地支撐接觸引腳。另外,也難以使每個接觸引腳的姿態穩定并且一致,以及此外,難以使每個接觸引腳與電子組件的端子之間的連接狀態穩定并且一致。
在其中緩沖構件的橫截面具有圓形形狀的情形下,進一步難以通過使用緩沖構件來穩定地支撐接觸引腳。
另外,在其中緩沖構件的橫截面具有方形形狀、三角形形狀等的情形下,緩沖構件在接觸引腳使其產生變形時會發生扭轉或旋轉。據此,更加難以使每個接觸引腳的姿態穩定并且一致,且更加難以使每個接觸引腳與電子組件的端子之間的連接狀態穩定并且一致。
如上,難以充分使電子組件接觸器的每個接觸引腳的姿態穩定并且一致,以及此外,難以充分使每個接觸引腳與電子組件的端子之間的連接狀態穩定并且一致,同時接觸引腳的行為通過緩沖構件而得到緩沖。
在一個實施例中,提供有一種電子組件接觸器,包括:多個接觸引腳,其連接至在基板上形成的多條布線,并且與電子組件的多個端子進行接觸;外殼,其包住多個接觸引腳,并且確定多個接觸引腳的位置;以及緩沖構件,其針對接觸引腳的行為進行緩沖,其中,接觸引腳中的每一個包括基部、伸展部、接觸部和負載接收部,所述基部連接至布線,所述伸展部從基部以弧形狀伸展,所述接觸部形成在伸展部中且與端子進行接觸,并且負載接收部形成在伸展部中且面向緩沖構件,并且其中,外殼包括支撐基座,其中,至少支撐緩沖構件的表面被形成為平坦的并且支撐緩沖構件,其中,緩沖構件被形成為片狀形狀,并且其中,至少緩沖構件的面向負載接收部的部分由支撐基座來支撐。
根據該電子組件接觸器,片狀緩沖構件被設置在外殼中形成的并且面向負載接收部的平坦支撐基座上。另外,至少緩沖構件的面向負載接收部的部分由支撐基座來支撐。據此,即使在緩沖構件由受到負載接收部推擠而彈性地變形時,支撐基座也可以穩定地支撐緩沖構件,并且緩沖構件基本上不會發生扭轉或旋轉。因此,可以使電子組件接觸器的每個接觸引腳的姿態并且進而使每個接觸引腳與電子組件的端子之間的連接狀態充分穩定并且一致,同時接觸引腳的行為通過緩沖構件來緩沖。
在另一實施例中,提供有一種用于測試電子組件的裝置,包括:電子組件接觸器;以及測試信號輸出單元,其中,電子組件接觸器包括多個接觸引腳、外殼和緩沖構件,所述多個接觸引腳連接至形成在基板上的多條布線并與電子組件的多個端子進行接觸,所述外殼包住多個接觸引腳并確定多個接觸引腳的位置,并且所述緩沖構件針對接觸引腳的行為進行緩沖,其中,接觸引腳中的每一個包括基部、伸展部、接觸部和負載接收部,所述基部連接至布線,所述伸展部從基部以弧形狀伸展,所述接觸部形成在伸展部中且與端子進行接觸,并且所述負載接收部形成在伸展部中且面向緩沖構件,其中,外殼包括支撐基座,其中,至少支撐緩沖構件的表面被形成為平坦的并且支撐緩沖構件,其中,緩沖構件被形成為片狀形狀,其中,至少緩沖構件的面向負載接收部的部分由支撐基座來支撐,其中,測試信號輸出單元將測試信號經由布線而輸出至多個接觸引腳之中的預定接觸引腳,其中,通過在其中電子組件的端子與相應的接觸引腳進行接觸的狀態下、將測試信號從測試信號輸出單元經由預定接觸引腳而輸入至電子組件來測試電子組件。
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