[發(fā)明專利]檢體分析裝置及分析控制方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201110054466.6 | 申請日: | 2011-03-07 |
| 公開(公告)號: | CN102221621A | 公開(公告)日: | 2011-10-19 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 渡邊彰 | 申請(專利權(quán))人: | 古野電氣株式會社 |
| 主分類號: | G01N35/00 | 分類號: | G01N35/00;G01N35/02 |
| 代理公司: | 永新專利商標(biāo)代理有限公司 72002 | 代理人: | 陳萍 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 分析 裝置 控制 方法 | ||
1.一種檢體分析裝置,其特征在于,具備:
檢體管設(shè)置部,能夠設(shè)置收容有檢體的多個檢體管;
分析指令設(shè)定部,設(shè)定分析指令,該分析指令包括收容著檢體的上述檢體管的位置和上述檢體的分析內(nèi)容;
分析指令信息登錄部,登錄將上述分析指令和適用條件建立關(guān)聯(lián)而得到的分析指令信息;
當(dāng)前值取得部,取得對應(yīng)于上述適用條件的當(dāng)前值;以及
分析指令信息選擇部,選擇上述適用條件與上述當(dāng)前值相符的上述分析指令信息。
2.如權(quán)利要求1所述的檢體分析裝置,其特征在于,
該檢體分析裝置具備分析指令信息適用部,該分析指令信息適用部根據(jù)上述分析指令信息選擇部所選擇的分析指令信息,生成上述分析指令。
3.如權(quán)利要求1所述的檢體分析裝置,其特征在于,
上述檢體的分析內(nèi)容包含上述檢體的種類和對應(yīng)該檢體的種類的檢查項目。
4.如權(quán)利要求3所述的檢體分析裝置,其特征在于,
至少能夠從校準(zhǔn)用的標(biāo)準(zhǔn)檢體、精度管理用的控制檢體中指定某一個來作為上述檢體的種類。
5.如權(quán)利要求4所述的檢體分析裝置,其特征在于,
在根據(jù)包含被指定為上述標(biāo)準(zhǔn)檢體的檢體的信息的分析指令信息來進(jìn)行分析指令的生成,并根據(jù)該分析指令實施校準(zhǔn)的情況下,
如果該校準(zhǔn)失敗,則在下次生成分析指令時,無論上述適用條件是否與上述當(dāng)前值相符,上述分析指令信息選擇部都選擇該分析指令信息。
6.如權(quán)利要求4所述的檢體分析裝置,其特征在于,
在根據(jù)包含指定為上述控制檢體的檢體的信息的分析指令信息來進(jìn)行分析指令的生成,并根據(jù)該分析指令實施精度管理的情況下,
如果該精度管理失敗,則在下次生成分析指令時,無論上述適用條件是否與上述當(dāng)前值相符,上述分析指令信息選擇部都選擇該分析指令信息。
7.如權(quán)利要求2至6中任一項所述的檢體分析裝置,其特征在于,
該檢體分析裝置具備分析指令信息適用確認(rèn)部,在上述分析指令信息適用部中根據(jù)分析指令信息進(jìn)行上述分析指令的生成之前,該分析指令信息適用確認(rèn)部向用戶詢問是否根據(jù)該分析指令信息進(jìn)行分析指令的生成。
8.如權(quán)利要求7所述的檢體分析裝置,其特征在于,
該檢體分析裝置具備顯示部;
在該顯示部上能夠顯示用于進(jìn)行上述分析指令的編輯的分析指令編輯畫面;
并且,在上述顯示部上顯示分析指令編輯畫面調(diào)出部,該分析指令編輯畫面調(diào)出部用于通過用戶操作調(diào)出上述分析指令編輯畫面;
若上述分析指令編輯畫面調(diào)出部被操作,
則由上述當(dāng)前值取得部取得上述當(dāng)前值,
由上述分析指令信息選擇部選擇適用條件與上述當(dāng)前值相符的分析指令信息,
上述分析指令信息適用確認(rèn)部將是否根據(jù)上述分析指令信息進(jìn)行分析指令的生成的確認(rèn)消息顯示在上述顯示部上。
9.如權(quán)利要求1至6中任一項所述的檢體分析裝置,其特征在于,
上述適用條件能夠指定日期、星期幾、時刻或分析次數(shù)中的至少某一個。
10.如權(quán)利要求1至9中任一項所述的檢體分析裝置,其特征在于,
預(yù)先準(zhǔn)備元分析指令信息,根據(jù)上述元分析指令信息,能夠生成上述分析指令信息。
11.如權(quán)利要求10所述的檢體分析裝置,其特征在于,
在生成上述分析指令信息時,若用戶輸入規(guī)定期間內(nèi)的分析次數(shù),則選擇并提示最佳的分析指令信息或元分析指令信息。
12.一種分析控制方法,用于控制檢體分析裝置,
該檢體分析裝置具備檢體管設(shè)置部,該檢體管設(shè)置部能夠設(shè)置收容有檢體的多個檢體管;
該分析控制方法的特征在于,包括:
分析指令設(shè)定步驟,設(shè)定分析指令,該分析指令包括收容著檢體的上述檢體管的位置和上述檢體的分析內(nèi)容;
分析指令信息登錄步驟,登錄將上述分析指令和適用條件建立關(guān)聯(lián)而得到的分析指令信息;
當(dāng)前值取得步驟,取得對應(yīng)于上述適用條件的當(dāng)前值;以及
分析指令信息選擇步驟,選擇上述適用條件與上述當(dāng)前值相符的上述分析指令信息。
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