[發(fā)明專利]不規(guī)則單全息聲壓測(cè)量面分離非自由聲場(chǎng)的方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201110049761.2 | 申請(qǐng)日: | 2011-03-02 |
| 公開(公告)號(hào): | CN102183298A | 公開(公告)日: | 2011-09-14 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 盧奐采 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 浙江工業(yè)大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G01H17/00 | 分類號(hào): | G01H17/00 |
| 代理公司: | 杭州天正專利事務(wù)所有限公司 33201 | 代理人: | 王兵;黃美娟 |
| 地址: | 310014 *** | 國(guó)省代碼: | 浙江;33 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 不規(guī)則 全息 聲壓 測(cè)量 分離 自由 聲場(chǎng) 方法 | ||
1.不規(guī)則單全息聲壓測(cè)量面分離非自由聲場(chǎng)的方法,其特征在于:按如下步驟進(jìn)行:
a、測(cè)量全息測(cè)量面上的聲壓值,在由目標(biāo)聲源和背景噪聲源構(gòu)成的聲場(chǎng)中布置全息測(cè)量面,在全息測(cè)量面節(jié)點(diǎn)上放置傳聲器;
b、選取全息測(cè)量面部分測(cè)點(diǎn)的聲壓值重構(gòu)其余測(cè)點(diǎn)的聲壓值,確定最優(yōu)展開項(xiàng)數(shù);
把波動(dòng)方程在球坐標(biāo)下的完全解為:
在全息測(cè)量面上選出部分測(cè)點(diǎn),選取方法是每間隔一點(diǎn)選擇一點(diǎn),共選擇N點(diǎn),把選出點(diǎn)對(duì)應(yīng)的聲壓按球坐標(biāo)下聲波方程行波解從低階到高階分別展開得式(2):
簡(jiǎn)記為:
其中:p1?p2...pN代表選取點(diǎn)上測(cè)得的聲壓值;代表當(dāng)目標(biāo)聲源產(chǎn)生去波時(shí),第N點(diǎn)坐標(biāo)值按球坐標(biāo)下聲波方程行波解展開M項(xiàng)的表達(dá);代表當(dāng)背景噪聲源產(chǎn)生來(lái)波時(shí),第N點(diǎn)坐標(biāo)值按球坐標(biāo)下聲波方程行波解展開M項(xiàng)的表達(dá);c1?c2...cM代表選取的N個(gè)點(diǎn)上對(duì)應(yīng)的聲壓去波展開系數(shù);d1?d2...dM代表選取的N個(gè)點(diǎn)上對(duì)應(yīng)的聲壓來(lái)波展開系數(shù);
系數(shù)向量:
其中:右上角“+”代表求偽逆運(yùn)算;
把其余測(cè)點(diǎn)的測(cè)得聲壓向量記為pL,重構(gòu)出其余測(cè)點(diǎn)的聲壓向量記為把展開項(xiàng)數(shù)的最大值Mmax作為上限,展開項(xiàng)數(shù)從1~Mmax依次選取,根據(jù)展開項(xiàng)數(shù)的不同分別重構(gòu)其余測(cè)點(diǎn)的聲壓值:
把每次的重構(gòu)結(jié)果與真實(shí)測(cè)量值做誤差運(yùn)算,求出重構(gòu)誤差Δ:
獲得展開項(xiàng)數(shù)-誤差值(M-Δ)曲線,由此可以找出最小誤差對(duì)應(yīng)的展開項(xiàng)數(shù),即為最優(yōu)展開項(xiàng)數(shù)Mopti;
c、分離由目標(biāo)聲源和背景噪聲源組成的聲場(chǎng);
把最優(yōu)展開項(xiàng)數(shù)帶入式(2)可以確定系數(shù)向量,目標(biāo)聲源產(chǎn)生的聲波是去波,由此可以獲得目標(biāo)聲源在空間任意點(diǎn)的聲壓值,故分離出的目標(biāo)聲源聲壓輻射為:
其中:代表當(dāng)目標(biāo)聲源產(chǎn)生去波時(shí),空間任意點(diǎn)坐標(biāo)值按球坐標(biāo)下聲波方程行波解展開M項(xiàng)的表達(dá);p1?p2...pall代表空間任意點(diǎn)分離后目標(biāo)聲源的聲壓。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于浙江工業(yè)大學(xué),未經(jīng)浙江工業(yè)大學(xué)許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201110049761.2/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 測(cè)量設(shè)備、測(cè)量系統(tǒng)及測(cè)量方法
- 測(cè)量裝置、測(cè)量配件和測(cè)量方法
- 測(cè)量尺的測(cè)量組件及測(cè)量尺
- 測(cè)量輔助裝置、測(cè)量裝置和測(cè)量系統(tǒng)
- 測(cè)量觸頭、測(cè)量組件和測(cè)量裝置
- 測(cè)量觸頭、測(cè)量組件和測(cè)量裝置
- 測(cè)量容器、測(cè)量系統(tǒng)及測(cè)量方法
- 測(cè)量裝置、測(cè)量系統(tǒng)、測(cè)量程序以及測(cè)量方法
- 測(cè)量裝置、測(cè)量系統(tǒng)及測(cè)量方法
- 測(cè)量電路、測(cè)量方法及測(cè)量設(shè)備





