[發明專利]靜電電容式輸入裝置和用于計算導體接近位置的計算方法

無效

• 申請號: 201110043903.4
• 申請日: 2011-02-18
• 公開（公告）號: CN102163111A
• 公開（公告）日: 2011-08-24
• 發明（設計）人: 大槻佳之;笠嶋康史
• 申請（專利權）人: 羅姆股份有限公司
• 主分類號: G06F3/044
• 分類號: G06F3/044
• 代理公司: 北京尚誠知識產權代理有限公司 11322
• 代理人: 龍淳

1.一種靜電電容式輸入裝置，其特征在于，包括：

多個第一檢測電極，其沿第一方向排列且各自在與所述第一方向交叉的第二方向上延伸；

多個第二檢測電極，其沿所述第二方向排列且各自在所述第一方向上延伸；

存儲部，其隨著第一導體和各第一檢測電極之間的靜電電容的變化將通過各第一檢測電極得到的值分別作為第一方向檢測值存儲，并且，隨著所述第一導體和各第二檢測電極之間的靜電電容的變化將通過各第二檢測電極得到的值分別作為第二方向檢測值存儲；和

計算部，其中

所述計算部執行

生成多個對第一值和第二值進行運算而得到的第一映射值的處理，其中，第一值是對所述多個第一方向檢測值的至少一個進行運算而得到的值，第二值是對所述多個第二方向檢測值的至少一個進行運算而得到的值；和

使用所述多個第一映射值，對所述第一導體是否接近所述多個第一檢測電極和所述多個第二檢測電極進行判斷的處理。

2.如權利要求1所述的靜電電容式輸入裝置，其特征在于：

所述多個第一映射值，包括所述多個第一映射值之中最大的最大第一映射值，

所述計算部，在判斷所述第一導體是否接近的處理中，對所述最大第一映射值和規定的閾值進行比較。

3.如權利要求1所述的靜電電容式輸入裝置，其特征在于：

所述多個第一值的任意一個，是將所述各第一檢測電極與規定區域的重疊區域的面積作為權重，對所述多個第一方向檢測值的至少一個進行加法運算而得的值，

所述多個第二值的任意一個，是將所述各第二檢測電極與所述規定區域的重疊區域的面積作為權重，對所述多個第二方向檢測值的至少一個進行加法運算而得的值。

4.如權利要求1所述的靜電電容式輸入裝置，其特征在于：

所述各第一映射值，是所述多個第一值的任意一個與所述多個第二值的任意一個之和。

5.如權利要求1所述的靜電電容式輸入裝置，其特征在于：

所述各第一映射值，是對所述多個第一值的任意一個與所述多個第二值的任意一個之和進行乘方運算而得的值。

6.如權利要求1所述的靜電電容式輸入裝置，其特征在于：

所述各第一映射值，與包括一組所述第一方向的一個坐標值和所述第二方向的一個坐標值的二維坐標對應，

所述計算部，使用所述多個第一映射值，執行計算第一接近位置的處理，

所述第一接近位置，是所述第一導體在所述第一方向和所述第二方向上接近所述多個第一檢測電極和所述多個第二檢測電極的位置。

7.如權利要求6所述的靜電電容式輸入裝置，其特征在于：

所述計算部，在計算所述第一接近位置的處理中，僅使用所述多個第一映射值之中的一部分來計算所述第一接近位置。

8.如權利要求7所述的靜電電容式輸入裝置，其特征在于：

所述各第一映射值，是第一矩陣的多個元素的任意一個，

在所述第一矩陣中，行元素分別對應所述第一方向的一個坐標值，且列元素分別對應所述第二方向的一個坐標值，

在所述第一矩陣中，隨著行序號增加，與該行元素對應的所述第一方向的坐標值單調變化，并且，隨著列序號增加，與該列元素對應的所述第二方向的坐標值單調變化，

所述多個第一映射值包括：所述多個第一映射值之中最大的最大第一映射值；和與該最大第一映射值相比行序號相差一個且列序號相同的兩個相鄰的第一映射值，

所述計算部在計算所述第一接近位置的處理中，使用所述最大第一映射值和所述兩個相鄰的第一映射值，計算所述第一接近位置。

9.如權利要求1所述的靜電電容式輸入裝置，其特征在于：

所述多個第一檢測電極，包括所述多個第一檢測電極之中最接近所述第一接近位置的第一接近檢測電極，

所述多個第二檢測電極，包括所述多個第二檢測電極之中最接近所述第一接近位置的第二接近檢測電極，

所述計算部執行準備處理，

在所述準備處理中，將所述存儲部中的、所述多個第一方向檢測值之中與所述第一接近檢測電極對應的值變換小，并且，將所述存儲部中的、所述多個第二方向檢測值之中與所述第二接近檢測電極對應的值變換小。