[發明專利]集成電路器件以及檢測過度電壓狀態的方法

無效

• 申請號: 201080070285.6
• 申請日: 2010-11-22
• 公開（公告）號: CN103221830A
• 公開（公告）日: 2013-07-24
• 發明（設計）人: 阿利斯泰爾·羅伯遜;卡爾·卡肖;阿蘭·迪瓦恩
• 申請（專利權）人: 飛思卡爾半導體公司
• 主分類號: G01R19/165
• 分類號: G01R19/165;H03M1/12
• 代理公司: 中原信達知識產權代理有限責任公司 11219
• 代理人: 李佳;穆德駿

技術領域

本發明涉及集成電路器件以及一種檢測過度電壓狀態的方法，尤其指集成電路器件以及一種給至少一個模擬數字轉換器(ADC)的至少一個輸入檢測過度電壓/輸入注入電流狀態的方法，其中這個輸入狀態可能是永久的或間歇的。

背景技術

在模擬數字轉換器(ADCs)領域，ADC溝道的準確度可以顯著地受到過度焊盤電壓以及因此注入電流的影響。這樣過度焊盤電壓可以通過短路或靜電放電(ESD)事件引起，即使這樣事件發生在相鄰的或附近的溝道。通常，過度焊盤電壓和注入電流受到保護電路的限制，例如ESD箝位二極管、外部串聯電阻器等等。然而，同時這樣的保護電路可以足以提供一定程度的保護以免受由過度焊盤電壓和注入電流引起的損害，這樣的保護電路不能夠完全掩蓋這些事件的影響。因此,當故障狀態，例如至電源電壓的短路發生的時候，或者ESD事件發生的時候，導致了比預期更大的電流被注入ADC引腳，這樣事件將對ADC的輸入信號造成顯著影響。在某些情況下，盡管提供了保護電路，這影響了由ADC輸出的信號精確度。此外，由于局部電源軌下垂/電涌的電位副效應，極為貼近這樣事件的焊盤，特別是相鄰的焊盤，可以受到過度電壓/注入電流的影響。

ESD事件等等往往是短暫的，并且同樣地它們的影響通常相對迅速地消散，在這種場景下使得ADC的正常操作得以重新開始。然而，正如由ESD事件引起的等等，ADC的損壞輸出值將被提供給其它電路例如信號處理邏輯等等，它們依靠ADC輸出的值執行其各自的功能。因此，由于ESD事件等等其它原因，所述ADC提供的損壞值可能引起依靠ADC輸出的值的系統的不恰當功能。

發明內容

正如附屬權利要求中所描述的，本發明提供了集成電路器件以及一種檢測至少一個模擬數字轉換器(ADC)的至少一個輸入的過度電壓狀態的方法。

本發明的具體實施例在附屬權利要求中被陳述。

根據下文中描述的實施例，本發明的這些或其它方面將會很明顯并且被闡述。

附圖說明

根據附圖，僅僅通過舉例的方式，本發明的進一步細節、方面和實施例將被描述。在附圖中，類似的符號被用于指示相同的或功能相似的元素。為了簡便以及清晰，附圖中的元素不一定按比例繪制。

圖1和圖2說明了集成電路器件的例子。

圖3說明了一種給至少一個ADC的至少一個輸入檢測過度電壓狀態的方法的簡化流程圖的例子。

具體實施方式

本發明根據附圖，尤其根據包括單一模擬數字轉換器(ADC)的單一輸入的集成電路器件的示例實施例被描述。然而，在其它例子中，本發明可以同樣應用于集成電路器件以及包括多個ADCs的等等器件，以及應用于包括一個或多個ADCs的集成電路器件，其中所述ADCs包括多于一個的輸入。

首先參照圖1，說明了根據本發明的一些實施例改編的集成電路器件100的例子。所述集成電路器件100包括至少一個模擬數字轉換器(ADC)110，所述至少一個ADC110包括操作地耦合于所述集成電路器件100的至少一個外部接觸105的至少一個輸入115(為清晰起見，只有單一輸入被顯示)，例如輸入/輸出焊盤/引腳。

ADC溝道的準確度可能顯著地受到過度焊盤電壓/注入電流的影響，例如可以通過短路或靜電放電(ESD)事件引起，即使這樣事件發生在相鄰的或附近的溝道。因此，當故障狀態，例如至電源電壓的短路發生的時候，或者ESD事件發生的時候，導致了比預期更大的電流被注入ADC引腳，這樣事件將對ADC的輸入信號造成顯著影響，從而影響了由ADC輸出的信號精確度。

因此，圖1的所述集成電路器件100還包括檢測電路120，所述檢測電路120包括至少一個檢測模塊130。所述檢測模塊130被配置成在第一輸入132處接收在所述至少一個ADC110的所述至少一個輸入115處的電壓水平的指示140。所述檢測模塊130還被配置成將接收到的指示140和閾值145進行比較，以及如果所述接收到的指示140超過所述閾值145，則輸出關于在所述ADC110的所述輸入115處的過度電壓狀態已被檢測的指示。