[發明專利]光學信息記錄方法、光學信息記錄裝置、光學信息再生方法、光學信息再生裝置以及光學信息記錄介質

有效

• 申請號: 201080056565.1
• 申請日: 2010-12-16
• 公開（公告）號: CN102656634A
• 公開（公告）日: 2012-09-05
• 發明（設計）人: 高岡友康;古宮成;中村敦史
• 申請（專利權）人: 松下電器產業株式會社
• 主分類號: G11B7/0045
• 分類號: G11B7/0045;G11B7/126
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司 11021
• 代理人: 汪惠民

1.一種光學信息記錄方法，通過對光學信息記錄介質照射與在多個功率之間調制的記錄脈沖串相對應的激光光束形成標記，并利用所述標記以及所述標記間的間隔的邊緣位置記錄信息，其中，所述光學信息記錄介質具備N層具有因激光光束的聚光引起的局部溫度變化而產生物理狀態變化的記錄層的信息層，其中N為2以上的整數，該光學信息記錄方法的特征在于包括：

根據所述標記的標記長、所述標記之前的第一間隔的第一間隔長、所述標記之后的第二間隔的第二間隔長的組合，選擇用于形成所述標記的記錄脈沖串的控制參數的工序；以及

利用基于所選擇的所述控制參數的記錄脈沖串記錄標記的工序，其中，

在選擇所述記錄脈沖串的控制參數的工序中，所述第一間隔長被分類為m種，所述第二間隔長被分類為n種，其中，m、n為整數，所述m與所述n的至少其中之一為2以上，

所述控制參數包括分別對應于所述第一間隔長和所述第二間隔長的各種組合的m×n個控制參數，

在對所述N層信息層中與指定的第一信息層相比位于所述激光光束入射側的第二信息層進行記錄時選擇的所述m×n個控制參數中指定的兩個控制參數之差的絕對值，大于或等于對所述第一信息層進行記錄時選擇的所述m×n個控制參數中指定的兩個控制參數之差的絕對值。

2.根據權利要求1所述的光學信息記錄方法，其特征在于：

在選擇所述記錄脈沖串的控制參數的工序中，當最短的間隔長為k時，所述第一間隔長被分類為k以及k+1以上的至少兩種，所述第二間隔長被分類為k以及k+1以上的至少兩種，

將所述第一間隔長為k且所述第二間隔長比k大時的記錄脈沖串的控制參數作為第一控制參數，將所述第一間隔長比k大且所述第二間隔長為k時的記錄脈沖串的控制參數作為第二控制參數，

對所述第二信息層進行記錄時選擇的所述第一控制參數與所述第二控制參數之差的絕對值大于對所述第一信息層進行記錄時選擇的所述第一控制參數與所述第二控制參數之差的絕對值。

3.根據權利要求1或2所述的光學信息記錄方法，其特征在于：

所述控制參數，是所述記錄脈沖串的起始端的脈沖邊緣的位置、所述記錄脈沖串的從起始端起第二個脈沖邊緣的位置、所述記錄脈沖串的終端的脈沖邊緣的位置、以及所述記錄脈沖串的從終端起倒數第二個脈沖邊緣的位置的至少其中之一。

4.根據權利要求1至3中任一項所述的光學信息記錄方法，其特征在于：所述記錄脈沖串，通過以三值以上的功率切換激光光束的強度而被調制。

5.根據權利要求1至4中任一項所述的光學信息記錄方法，其特征在于：在選擇所述記錄脈沖串的控制參數的工序中，當最短的標記長為k時，所述標記長被分類為k以及k+1以上的至少兩種。

6.根據權利要求1至4中任一項所述的光學信息記錄方法，其特征在于：在選擇所述記錄脈沖串的控制參數的工序中，當最短的標記長為k時，所述標記長被分類為k、k+1、以及k+2以上的至少三種。

7.根據權利要求1至4中任一項所述的光學信息記錄方法，其特征在于：在選擇所述記錄脈沖串的控制參數的工序中，當最短的標記長為k時，所述標記長被分類為k、k+1、k+2、以及k+3以上的至少四種。

8.根據權利要求1至7中任一項所述的光學信息記錄方法，其特征在于：在選擇所述記錄脈沖串的控制參數的工序中，當最短的標記長為k時，所述第一間隔長和所述第二間隔長分別被分類為k以及k+1以上的至少兩種。

9.根據權利要求1至7中任一項所述的光學信息記錄方法，其特征在于：在選擇所述記錄脈沖串的控制參數的工序中，當最短的標記長為k時，所述第一間隔長和所述第二間隔長分別被分類為k、k+1、k+2、以及k+3以上的至少四種。

10.根據權利要求1至9中任一項所述的光學信息記錄方法，其特征在于：在選擇所述記錄脈沖串的控制參數的工序中，參照將所述標記長和所述第一間隔長及所述第二間隔長的組合與控制參數對應起來的記錄補償表，控制所述記錄脈沖串。