[發明專利]用于圖像辨識的描述符小塊的快速子空間投影

無效

• 申請號: 201080054401.5
• 申請日: 2010-12-02
• 公開（公告）號: CN102782708A
• 公開（公告）日: 2012-11-14
• 發明（設計）人: 奧努爾·C·哈姆西奇;尤里婭·列茲尼克;約翰·H·洪;桑迪普·瓦達迪;重·U·李
• 申請（專利權）人: 高通股份有限公司
• 主分類號: G06K9/46
• 分類號: G06K9/46
• 代理公司: 北京律盟知識產權代理有限責任公司 11287
• 代理人: 宋獻濤

1.一種用于產生特征描述符的方法，其包括：

獲得一組預產生的稀疏投影向量；

獲得用于圖像的尺度空間，所述尺度空間具有多個尺度層級；以及

基于所述稀疏投影向量與用于跨越所述多個尺度層級的多個像素的稀疏取樣像素信息的組合產生用于所述尺度空間中的關鍵點的描述符。

2.根據權利要求1所述的方法，其中獨立于所述圖像而產生所述稀疏投影向量。

3.根據權利要求1所述的方法，其中將每個稀疏投影向量約束于用于所述圖像的平滑核的尺度。

4.根據權利要求1所述的方法，其中所述稀疏投影向量中的每一者使目標函數最大化或最小化。

5.根據權利要求4所述的方法，其中所述目標函數是用于跨越一組訓練圖像的多個尺度層級的像素信息的自相關矩陣的最大化。

6.根據權利要求1所述的方法，其中稀疏投影向量包含大部分零元素和多個非零元素。

7.根據權利要求6所述的方法，其中通過方差最大化程序獲得所述非零元素。

8.根據權利要求1所述的方法，其中所述像素信息包含用于與所述關鍵點相關聯的小塊內的每個像素的梯度信息。

9.根據權利要求1所述的方法，其中所述多個像素與用于所述關鍵點的小塊相關聯。

10.根據權利要求1所述的方法，其中在對應于用于所述稀疏投影向量的非零系數的預定位置處選擇所述多個像素。

11.根據權利要求1所述的方法，其進一步包括：

從用于所述圖像的所述尺度空間獲得關鍵點；以及

獲得用于所述關鍵點的小塊，其中所述小塊包含所述多個像素。

12.根據權利要求11所述的方法，其中所述多個稀疏投影向量定義一組非零縮放系數，每個非零縮放系數與所述小塊內的對應像素位置相關聯。

13.根據權利要求12所述的方法，其中通過組合多個描述符分量而產生所述描述符，每個描述符分量通過以下步驟產生：

基于用于第一稀疏投影向量的所述非零縮放系數位置來識別像素位置；

將來自所述小塊的所述像素位置的值與用于所述第一稀疏投影向量的所述對應非零縮放系數相乘且將所述所得值加在一起以獲得第一描述符分量。

14.根據權利要求13所述的方法，其進一步包括：

獲得用于多個剩余稀疏投影向量的額外描述符分量以獲得額外描述符分量，其中所述第一描述符分量與額外描述符分量組合為用以獲得所述關鍵點描述符的向量。

15.根據權利要求9所述的方法，其中所述小塊具有m個像素乘n個像素的尺寸，且

所述關鍵點描述符相比于所述小塊的所述m*n尺寸以較少操作產生。

16.一種裝置，其包括：

存儲裝置，其用于存儲一組預產生的稀疏投影向量；以及

處理電路，其耦合到所述存儲裝置，所述處理電路適合于：

獲得用于圖像的尺度空間，所述尺度空間具有多個尺度層級；以及

基于所述稀疏投影向量與用于跨越所述多個尺度層級的多個像素的稀疏取樣像素信息的組合來產生用于所述尺度空間中的關鍵點的描述符。

17.根據權利要求16所述的裝置，其中所述稀疏投影向量獨立于所述圖像而產生。

18.根據權利要求16所述的裝置，其中每個稀疏投影向量被約束于用于所述圖像的平滑核的尺度。

19.根據權利要求16所述的裝置，其中所述稀疏投影向量中的每一者使目標函數最大化或最小化。

20.根據權利要求19所述的裝置，其中所述目標函數是用于跨越一組訓練圖像的多個尺度層級的像素信息的自相關矩陣的最大化。

21.根據權利要求16所述的裝置，其中稀疏投影向量包含大部分零元素和多個非零元素。

22.根據權利要求21所述的裝置，其中所述非零元素通過方差最大化程序獲得。

23.根據權利要求16所述的裝置，其中所述像素信息包含用于與所述關鍵點相關聯的小塊內的每個像素的梯度信息。