[發明專利]閃爍探測器組件有效
| 申請號: | 201080043844.4 | 申請日: | 2010-08-23 |
| 公開(公告)號: | CN102576086A | 公開(公告)日: | 2012-07-11 |
| 發明(設計)人: | L·皮納 | 申請(專利權)人: | 圣戈本陶瓷及塑料股份有限公司 |
| 主分類號: | G01T1/20 | 分類號: | G01T1/20;A61B6/03;G01V5/04 |
| 代理公司: | 北京泛華偉業知識產權代理有限公司 11280 | 代理人: | 王勇 |
| 地址: | 美國馬*** | 國省代碼: | 美國;US |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 閃爍 探測器 組件 | ||
1.一種閃爍組件,包括:
一個閃爍體,該閃爍體具有一個表面;
一個壓敏粘合劑層,該壓敏粘合劑層接觸了所述表面的至少一部分;以及
一個反射體,該反射體鄰近所述閃爍體的表面并且通過所述壓敏粘合劑層而粘附到所述閃爍體的表面上,其中所述粘合劑層顯示出了0.01mm或更小的TTV。
2.如權利要求1所述的閃爍組件,其中所述粘合劑包括一個粘合劑薄片,該粘合劑薄片包括一個第一側以及一個第二側,其中所述第一側被粘附在所述閃爍體的表面的至少一部分上,并且所述第二側被粘附在所述反射體上。
3.如權利要求1所述的閃爍組件,其中所述粘合劑包括丙烯酸物。
4.如權利要求1所述的閃爍組件,其中所述粘合劑透射了90%的具有的波長是在340nm到800nm范圍內的入射光。
5.如權利要求1所述的閃爍組件,其中所述粘合劑顯示出了在630nm的波長下1.00至1.60的折光率。
6.如權利要求1所述的閃爍組件,其中所述粘合劑顯示出了在340nm至800nm的范圍內的波長下10%或更小的霧度。
7.如權利要求1所述的閃爍組件,其中所述粘合劑具有的厚度為0.1mm或更小。
8.如權利要求1所述的閃爍組件,其中所述反射體包括聚四氟乙烯。
9.如權利要求1所述的閃爍組件,其中所述閃爍體組件存在于一個醫療設備中。
10.如權利要求9所述的閃爍組件,其中所述醫療設備是選自下組,該組由以下各項組成:正電子發射斷層掃描儀、伽瑪射線照相機、以及計算斷層掃描儀。
11.如權利要求1所述的閃爍組件,其中所述閃爍體組件是存在于一個測井探測器中的。
12.如權利要求1所述的閃爍組件,其中所述閃爍體組件存在于一個檢查裝置中。
13.如權利要求12所述的閃爍組件,其中所述檢查裝置是選自下組,該組由以下各項組成:熱中子激活分析探測器、行李掃描儀、厚度計、液面計、有源保安器件、有源貨單校驗器件、無源保安器件、無源貨單校驗器件、有源分光計、無源分光計、有源總數計數器和無源總數計數器。
14.如權利要求1所述的閃爍組件,其中所述閃爍體組件存在于一個研究設備中。
15.如權利要求14所述的閃爍組件,其中所述研究設備是選自下組,該組由以下各項組成:分光計和熱量計。
16.一種形成閃爍裝置的方法,該方法包括:
將一個反射體粘附到一個閃爍體的表面的至少一部分上,其中所述反射體是通過一個粘合劑層而粘附到所述閃爍體的表面上的,其中所述粘合劑層顯示出了0.01mm或更小的TTV。
17.如權利要求16所述的方法,其中所述粘合劑層是一個粘合劑薄片。
18.如權利要求16所述的方法,進一步包括安排一系列的閃爍體,每個閃爍體均具有一個表面,其中所述粘合劑被置于所述閃爍體的所述表面上。
19.如權利要求18所述的方法,其中所述反射體被粘附到所述表面上并且進一步包括將所述粘合劑以及所述反射體進行切割以便形成一個單獨的閃爍體組件。
20.如權利要求16所述的方法,其中所述粘合劑包括丙烯酸物。
21.如權利要求16所述的方法,其中所述粘合劑透射了90%的具有的波長是在340nm到800nm范圍內的入射光。
22.如權利要求16所述的方法,其中所述粘合劑顯示出了在630nm的波長下1.47的折光率。
23.如權利要求16所述的方法,其中所述粘合劑顯示出了在340nm至800nm的范圍內的波長下是10%或更小的霧度。
24.如權利要求16所述的方法,其中所述粘合劑具有的厚度為0.1mm或更小。
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