[實用新型]一種半導體原材料檢測工作臺有效

申請號：	201020647851.2	申請日：	2010-12-08
公開（公告）號：	CN201892689U	公開（公告）日：	2011-07-06
發明（設計）人：	李碩鵬;周志超;左丙辰	申請（專利權）人：	寧晉晶峰電子材料有限公司;晶龍實業集團有限公司
主分類號：	G01R1/04	分類號：	G01R1/04;G01D11/30
代理公司：	石家莊匯科專利商標事務所 13115	代理人：	劉聞鐸
地址：	055550 河北省邢臺***	國省代碼：	河北;13
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摘要：
搜索關鍵詞：	一種半導體原材料檢測工作臺
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【權利要求書】：

1.一種半導體原材料檢測工作臺，包括臺面（1）、支撐臺面的支架（2）和設置在臺面下方支架上的抽屜（3），其特征在于：所述臺面的上方設置有若干個劃分區域的格柵（4）以及用于存放照明用具的凸臺（5）；所述臺面的下方兩端分別設置有兩層抽屜，臺面下方、兩側抽屜的中間設置有導軌槽（6）、以及通過導軌槽連接的多層伸縮板（7）。

2.根據權利要求1所述的半導體原材料檢測工作臺，其特征在于：所述伸縮板設置有三層。

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