[實用新型]太陽能晶片無接觸式表面線痕自動檢測系統

無效

• 申請號: 201020546870.6
• 申請日: 2010-09-29
• 公開（公告）號: CN201859125U
• 公開（公告）日: 2011-06-08
• 發明（設計）人: 李福榮;鄧超明
• 申請（專利權）人: 上海星納電子科技有限公司
• 主分類號: G01N21/892
• 分類號: G01N21/892;G01B11/04;G01B11/22
• 代理公司: 上海新天專利代理有限公司 31213
• 代理人: 王敏杰

1.一種太陽能晶片無接觸式表面線痕自動檢測系統，其特征在于，包括：

自動傳送模塊，用于傳輸太陽能晶片，其包括電機驅動電路，主動輪，從動輪，同步帶，其中，電機驅動電路連接至主動輪，同步帶設置在主動輪和從動輪上；

測量模塊，其包括第一探頭，第二探頭，光電傳感器和探頭移動裝置，其中，第一探頭設置于同步帶的上方，用于測量太陽能晶片上表面到第一探頭的第一距離，第二探頭設置于同步帶的下方，用于測量太陽能晶片下表面到第二探頭的第二距離，光電傳感器，用于探測太陽能晶片的位置，探頭移動裝置，用于移動第一探頭和第二探頭以改變測量晶片表面的對應位置；

信號處理模塊，包括第一信號處理單元和第二信號處理單元，分別用于對第一探頭和第二探頭檢測的信號進行放大和濾波處理，對光電傳感器檢測的信號進行電壓轉換；

控制模塊，包括模數轉換單元，通訊單元，計算及數據處理單元，用于對整個系統操作進行控制；

其中，測量模塊連接至自動傳送模塊和信號處理模塊，控制模塊又分別連接至自動傳送模塊和信號處理模塊。

2.如權利要求1所述的太陽能晶片無接觸式表面線痕自動檢測系統，其特征在于，所述第一探頭和第二探頭均為激光探頭。

3.如權利要求1所述的太陽能晶片無接觸式表面線痕自動檢測系統，其特征在于，所述第一探頭和第二探頭均為無接觸式位移探頭。

4.如權利要求1所述的太陽能晶片無接觸式表面線痕自動檢測系統，其特征在于，所述探頭移動裝置由連接支架，步進電機和兩根絲桿組成，其中，步進電機與連接支架相連，兩根絲桿分別置于連接支架的兩端。

5.如權利要求1所述的太陽能晶片無接觸式表面線痕自動檢測系統，其特征在于，所述控制模塊連接有顯示器，用于同時顯示晶片上、下表面線痕數量，線痕寬度，線痕深度極差值，及線痕在晶片的具體位置。