[實用新型]一種針對FPGA芯片的通用測試裝置有效
| 申請號： | 201020241716.8 | 申請日： | 2010-06-29 |
| 公開（公告）號： | CN201698002U | 公開（公告）日： | 2011-01-05 |
| 發明（設計）人： | 李杰;馮建科;張東 | 申請（專利權）人： | 北京自動測試技術研究所 |
| 主分類號： | G01R31/3185 | 分類號： | G01R31/3185 |
| 代理公司： | 北京北新智誠知識產權代理有限公司 11100 | 代理人： | 陳曦 |
| 地址： | 100088*** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 針對 fpga 芯片 通用 測試 裝置 | ||
【權利要求書】：
1.一種針對FPGA芯片的通用測試裝置，其特征在于：
所述通用測試裝置包括主控制器、配置存儲器、繼電器矩陣、芯片固定卡座和轉接卡座；其中，
所述主控制器一方面連接集成電路測試儀，另一方面分別連接所述配置存儲器和所述繼電器矩陣；
所述配置存儲器連接在所述主控制器和所述繼電器矩陣之間，用于存儲各種FPGA芯片的配置文件；
所述繼電器矩陣一方面連接集成電路測試儀，另一方面連接固定在所述芯片固定卡座上的被測FPGA芯片。
2.如權利要求1所述的針對FPGA芯片的通用測試裝置，其特征在于：
所述通用測試裝置中還包括JTAG接口，所述JTAG接口一方面連接所述主控制器，另一方面連接被測FPGA芯片。
3.如權利要求1所述的針對FPGA芯片的通用測試裝置，其特征在于：
所述芯片固定卡座為QPF208卡座。
4.如權利要求1所述的針對FPGA芯片的通用測試裝置，其特征在于：
所述繼電器矩陣由所述主控制器進行控制，根據不同的配置需要把配置存取器或者集成電路測試儀的資源鏈接到被測FPGA芯片的不同管腳上。
5.如權利要求1所述的針對FPGA芯片的通用測試裝置，其特征在于：
所述配置存儲器為E2PROM或者FLASH。
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