[實用新型]二維電掃描透鏡天線無效

申請號：	201020022513.X	申請日：	2010-01-13
公開（公告）號：	CN201584497U	公開（公告）日：	2010-09-15
發明（設計）人：	王宗新;尤立志	申請（專利權）人：	東南大學
主分類號：	H01Q3/46	分類號：	H01Q3/46
代理公司：	南京經緯專利商標代理有限公司 32200	代理人：	黃雪蘭
地址：	210096***	國省代碼：	江蘇;32
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摘要：
搜索關鍵詞：	二維掃描透鏡天線
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【權利要求書】：

1.一種二維電掃描透鏡天線，包括：鐵電體透鏡天線(1)和一維線陣饋源(3)，鐵電體透鏡天線(1)包括導體平板(11)，在相鄰的導體平板(11)之間夾有鐵電體介質板(12)，其特征在于，在鐵電體透鏡天線(1)上設有二元衍射透鏡(2)，且二元衍射透鏡(2)位于一維線陣饋源(3)與鐵電體透鏡天線(1)之間，在一維線陣饋源(3)上連接有N路通道選擇開關(4)，一維線陣饋源(3)發射或接收的電磁波的極化方向與所述導體平板(11)的長邊方向垂直。

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