[發明專利]用于對電子元件進行分類的設備及其探測單元

無效

• 申請號: 201010624132.3
• 申請日: 2010-12-29
• 公開（公告）號: CN102262195A
• 公開（公告）日: 2011-11-30
• 發明（設計）人: 金潤起;樸埈模
• 申請（專利權）人: 塔工程有限公司
• 主分類號: G01R31/01
• 分類號: G01R31/01;G01R31/26;G01R1/073;B07C5/344;B07C5/342
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 田軍鋒;王婧

1.一種用于對電子元件進行分類的設備的探測單元，所述探測單元包括：

探測模塊，將電力施加至所述探測模塊；

模塊移動裝置，所述模塊移動裝置用于使所述探測模塊朝向電子元件移動；以及

安裝在所述探測模塊中的多個探針，所述探針與所述電子元件的相應接觸點進行接觸，

其中，所述探針彼此分開從而能夠獨立移動。

2.如權利要求1所述的探測單元，所述探測單元進一步包括：

連接于相應的所述探針的彈性構件。

3.如權利要求2所述的探測單元，所述探測單元進一步包括：

對每個所述彈性構件的彈力進行調節的調節構件。

4.如權利要求1所述的探測單元，其中，所述探針穿過形成在所述探測模塊中的孔而突出到所述探測模塊的外側，并且

每個所述探針的外表面都與所述探測模塊的對應孔的內緣間隔開預定距離。

5.一種用于對電子元件進行分類的設備，所述設備包括：

襯墊，所述襯墊上安置有電子元件；

探測模塊，所述探測模塊設置成能夠朝向安置在所述襯墊上的所述電子元件移動；以及

安裝在所述探測模塊中的探針，所述探針與所述電子元件的接觸點進行接觸，

其中，所述襯墊是能夠旋轉的。

6.如權利要求5所述的設備，所述設備進一步包括：

復位裝置，所述復位裝置用于在通過使所述探針與所述電子元件的接觸點進行接觸而使所述襯墊從初始位置旋轉預定角度時，將力施加至所述襯墊以使所述襯墊返回至其初始位置。

7.如權利要求5或6所述的設備，其中，所述探針包括多個探針，所述多個探針彼此分開從而能夠獨立移動。