[發(fā)明專(zhuān)利]一種雙極晶體管選通的阻變存儲(chǔ)器、陣列及其制造方法無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201010602513.1 | 申請(qǐng)日: | 2010-12-23 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN102544076A | 公開(kāi)(公告)日: | 2012-07-04 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 劉明;張康瑋;龍世兵;劉琦;呂杭炳;王艷花 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 中國(guó)科學(xué)院微電子研究所 |
| 主分類(lèi)號(hào): | H01L29/73 | 分類(lèi)號(hào): | H01L29/73;H01L21/331;H01L27/24;H01L45/00 |
| 代理公司: | 北京市立方律師事務(wù)所 11330 | 代理人: | 張磊 |
| 地址: | 100029 *** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 雙極晶體管 存儲(chǔ)器 陣列 及其 制造 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及半導(dǎo)體存儲(chǔ)器技術(shù)領(lǐng)域,特別涉及一種雙極晶體管選通的阻變存儲(chǔ)器及其制造方法。
背景技術(shù)
阻變存儲(chǔ)器(RRAM)由于具有寫(xiě)入操作電壓低、寫(xiě)入擦除時(shí)間短、保持時(shí)間長(zhǎng)、非破壞性讀取、多值存儲(chǔ)、結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單以及所需面積小等優(yōu)點(diǎn),因此逐漸成為目前新型非揮發(fā)性存儲(chǔ)器件中的研究重點(diǎn),而如何提高阻變存儲(chǔ)器的存儲(chǔ)密度更是一個(gè)重要的方向。
RRAM主要包括MOS(metal?oxide?semiconductor)晶體管選通的阻變存儲(chǔ)器和雙極型晶體管(BJT)選通的阻變存儲(chǔ)器,而選通的晶體管的面積是決定存儲(chǔ)單元面積的一個(gè)方面,由于雙極晶體管(BJT)的面積小于場(chǎng)效應(yīng)晶體管(MOSFET),因此用雙極晶體管代替MOSFET選通存儲(chǔ)單元也是一種提高RRAM存儲(chǔ)密度的有效辦法,如圖1所示,為PNP型雙極型晶體管選通的阻變存儲(chǔ)器結(jié)構(gòu)示意圖,基極102位于集電極101和發(fā)射極103之間,在發(fā)射極103之上電連接包括上下電極及阻變層的阻變存儲(chǔ)器104。但為了更好的提高RRAM存儲(chǔ)密度,有必要提出具有更高存儲(chǔ)密度的雙極晶體管選通的阻變存儲(chǔ)器及其制造方法。
發(fā)明內(nèi)容
為了解決上述問(wèn)題,本發(fā)明提供了一種多發(fā)射極的雙極晶體管,所述晶體管包括:集電極;形成于所述集電極上的基極;形成于所述基極上的至少兩個(gè)發(fā)射極,所述發(fā)射極間隔排列;其中,所述基極是所有所述發(fā)射極的共有基極,所述集電極是所有所述發(fā)射極的共有集電極。
根據(jù)本發(fā)明的另一方面,本發(fā)明還提出了基于上述多發(fā)射極晶體管的雙極晶體管選通的阻變存儲(chǔ)器單元,所述阻變存儲(chǔ)單元包括:集電極;形成于所述集電極上的基極;形成于所述基極上的至少兩個(gè)發(fā)射極,所述發(fā)射極由絕緣層分隔開(kāi);形成于每個(gè)所述發(fā)射極上的阻變存儲(chǔ)器;其中,所述基極是所有所述發(fā)射極的共有基極,所述集電極是所有所述發(fā)射極的共有集電極。
此外,本發(fā)明還提供了根據(jù)上述存儲(chǔ)單元形成的雙極晶體管選通的阻變存儲(chǔ)器陣列,包括多個(gè)上述雙極晶體管選通的阻變存儲(chǔ)器單元,其中所述雙極晶體管選通的阻變存儲(chǔ)器單元平行排列且具有共同的集電極,每個(gè)所述阻變存儲(chǔ)器單元間的基極和發(fā)射極由第二絕緣層隔離。
此外,本發(fā)明還提供了形成上述阻變存儲(chǔ)器單元的制造方法,所述方法包括:A、提供具有第一摻雜類(lèi)型的半導(dǎo)體襯底;B、在所述半導(dǎo)體襯底上形成具有第二類(lèi)型摻雜的第一重?fù)诫s層;C、在所述第一重?fù)诫s層上形成具有第一摻雜類(lèi)型的第二重?fù)诫s層,并將所述第二重?fù)诫s層用絕緣層分隔為至少兩個(gè)發(fā)射極,以及在每個(gè)所述發(fā)射極上形成阻變存儲(chǔ)器;其中第一摻雜類(lèi)型的半導(dǎo)體襯底為集電極,第二類(lèi)型摻雜的第一重?fù)诫s層為基極,所述基極是所有所述發(fā)射極的共有基極,所述集電極是所有所述發(fā)射極的共有集電極。
根據(jù)本發(fā)明的多發(fā)射極的雙極晶體管,由于多個(gè)發(fā)射極共用基極和集電極,從而減小雙極晶體管的面積,而采用該多發(fā)射極的雙極晶體管選通的阻變存儲(chǔ)器,由于減小了選通晶體管的面積,進(jìn)而提高了阻變存儲(chǔ)器的存儲(chǔ)密度。
附圖說(shuō)明
本發(fā)明上述的和/或附加的方面和優(yōu)點(diǎn)從下面結(jié)合附圖對(duì)實(shí)施例的描述中將變得明顯和容易理解,其中:
圖1示出了雙極型晶體管選通的阻變存儲(chǔ)器的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖2示出了根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的多發(fā)射極的雙極晶體管的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖3-圖15示出了根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的雙極晶體管選通的阻變存儲(chǔ)器各個(gè)制造階段的示意圖。
具體實(shí)施方式
下文的公開(kāi)提供了許多不同的實(shí)施例或例子用來(lái)實(shí)現(xiàn)本發(fā)明的不同結(jié)構(gòu)。為了簡(jiǎn)化本發(fā)明的公開(kāi),下文中對(duì)特定例子的部件和設(shè)置進(jìn)行描述。當(dāng)然,它們僅僅為示例,并且目的不在于限制本發(fā)明。此外,本發(fā)明可以在不同例子中重復(fù)參考數(shù)字和/或字母。這種重復(fù)是為了簡(jiǎn)化和清楚的目的,其本身不指示所討論各種實(shí)施例和/或設(shè)置之間的關(guān)系。此外,本發(fā)明提供了的各種特定的工藝和材料的例子,但是本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以意識(shí)到其他工藝的可應(yīng)用于性和/或其他材料的使用。另外,以下描述的第一特征在第二特征之“上”的結(jié)構(gòu)可以包括第一和第二特征形成為直接接觸的實(shí)施例,也可以包括另外的特征形成在第一和第二特征之間的實(shí)施例,這樣第一和第二特征可能不是直接接觸。
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H01L29-02 .按其半導(dǎo)體本體的特征區(qū)分的
H01L29-40 .按其電極特征區(qū)分的
H01L29-66 .按半導(dǎo)體器件的類(lèi)型區(qū)分的
H01L29-68 ..只能通過(guò)對(duì)一個(gè)不通有待整流、放大或切換的電流的電極供給電流或施加電位方可進(jìn)行控制的
H01L29-82 ..通過(guò)施加于器件的磁場(chǎng)變化可控的
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