[發(fā)明專利]雙探測(cè)器分段γ掃描測(cè)量裝置及其掃描方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201010597029.4
• 申請(qǐng)日: 2010-12-21
• 公開（公告）號(hào): CN102135625A
• 公開（公告）日: 2011-07-27
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 王德忠;劉誠(chéng);錢楠;白云飛;顧衛(wèi)國(guó)
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 上海交通大學(xué)
• 主分類號(hào): G01T1/167
• 分類號(hào): G01T1/167
• 代理公司: 上海交達(dá)專利事務(wù)所 31201
• 代理人: 王錫麟;王桂忠

1.一種基于等效半徑修正的雙探測(cè)器分段γ掃描測(cè)量裝置，其特征在于，包括：旋轉(zhuǎn)臺(tái)、探測(cè)器平臺(tái)組件、透射源平臺(tái)組件、平臺(tái)升降驅(qū)動(dòng)組件、兩個(gè)相同的具有準(zhǔn)直器的高純鍺探測(cè)器、透射源及其屏蔽部件和分析模塊，其中：被測(cè)廢物桶置于旋轉(zhuǎn)臺(tái)上，兩個(gè)相同的具有準(zhǔn)直器的高純鍺探測(cè)器置于探測(cè)器平臺(tái)上，透射源及其屏蔽部件置于透射源平臺(tái)上，探測(cè)器平臺(tái)和透射源平臺(tái)分別置于旋轉(zhuǎn)臺(tái)的兩側(cè)，高純鍺探測(cè)器內(nèi)置的晶體與γ射線相互作用產(chǎn)生電信號(hào)并與分析模塊相連并輸出γ射線能譜以獲得全能峰計(jì)數(shù)率，通過控制系統(tǒng)與平臺(tái)升降驅(qū)動(dòng)組件實(shí)現(xiàn)探測(cè)器與透射源的同步升降以及水平高度的準(zhǔn)確定位。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于等效半徑修正的雙探測(cè)器分段γ掃描測(cè)量裝置，其特征是，所述的旋轉(zhuǎn)臺(tái)包括：第一減速電機(jī)、旋轉(zhuǎn)臺(tái)主軸、旋轉(zhuǎn)臺(tái)軸套、旋轉(zhuǎn)臺(tái)平板、旋轉(zhuǎn)臺(tái)聯(lián)軸器和旋轉(zhuǎn)臺(tái)支腳，其中：第一減速電機(jī)通過旋轉(zhuǎn)臺(tái)聯(lián)軸器與旋轉(zhuǎn)臺(tái)主軸聯(lián)接，旋轉(zhuǎn)臺(tái)主軸與旋轉(zhuǎn)臺(tái)平板連接，通過第一減速電機(jī)帶動(dòng)旋轉(zhuǎn)臺(tái)平板轉(zhuǎn)動(dòng)并驅(qū)動(dòng)被測(cè)物體轉(zhuǎn)動(dòng)。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于等效半徑修正的雙探測(cè)器分段γ掃描測(cè)量裝置，其特征是，所述的探測(cè)器平臺(tái)組件包括：探測(cè)器平臺(tái)、第一導(dǎo)軌和第一支架，其中：第一導(dǎo)軌安裝于第一支架上并為探測(cè)器平臺(tái)的升降提供導(dǎo)向作用。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于等效半徑修正的雙探測(cè)器分段γ掃描測(cè)量裝置，其特征是，所述的透射源平臺(tái)組件包括：透射源平臺(tái)、第二導(dǎo)軌和第二支架，其中：第二導(dǎo)軌安裝于第二支架上并為透射源平臺(tái)的升降提供導(dǎo)向作用。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于等效半徑修正的雙探測(cè)器分段γ掃描測(cè)量裝置，其特征是，所述的平臺(tái)升降驅(qū)動(dòng)組件包括：第二電機(jī)、第一轉(zhuǎn)向器、第二轉(zhuǎn)向器、第三轉(zhuǎn)向器、第一渦輪絲桿升降機(jī)和第二渦輪絲桿升降機(jī)，其中：第二電機(jī)與第一轉(zhuǎn)向器相連，第二轉(zhuǎn)向器和第三轉(zhuǎn)向器同時(shí)與第一轉(zhuǎn)向器相連，第二轉(zhuǎn)向器與第一渦輪絲桿升降機(jī)相連，第三轉(zhuǎn)向器與第二渦輪絲桿升降機(jī)相連，通過第二電機(jī)和第一、二、三轉(zhuǎn)向器帶動(dòng)第一、二渦輪絲桿升降機(jī)運(yùn)動(dòng)，從而使位于第一渦輪絲桿升降機(jī)上的探測(cè)器平臺(tái)和位于第二渦輪絲桿升降機(jī)上的透射源平臺(tái)同步升降。

6.一種根據(jù)權(quán)利要求1所述測(cè)量裝置的掃描方法，其特征在于，包括以下步驟：

第一步、調(diào)整第一高純鍺探測(cè)器及其準(zhǔn)直器、透射源及其屏蔽部件在升降平臺(tái)上的具體位置，使第一探測(cè)器軸線對(duì)準(zhǔn)廢物桶中心并通過透射源準(zhǔn)直孔；

第二步、調(diào)整第二高純鍺探測(cè)器及其準(zhǔn)直器的位置，使第二探測(cè)器軸線偏離廢物桶中心且與第一探測(cè)器軸線平行，兩個(gè)探測(cè)器之間的距離應(yīng)能保證對(duì)于單層填充介質(zhì)均勻的測(cè)量樣品在勻速旋轉(zhuǎn)時(shí)，第二探測(cè)器在當(dāng)層得到的凈計(jì)數(shù)率與第一探測(cè)器在當(dāng)層得到的凈計(jì)數(shù)率的比值與放射源所在的半徑位置存在一一對(duì)應(yīng)關(guān)系；

第三步、開啟旋轉(zhuǎn)臺(tái)，使廢物桶以一定轉(zhuǎn)速勻速旋轉(zhuǎn)，將探測(cè)器平臺(tái)和透射源平臺(tái)移動(dòng)到廢物桶最底層，在垂直方向同時(shí)移動(dòng)透射源與探測(cè)器平臺(tái)，從下而上對(duì)廢物桶每一層進(jìn)行掃描，采集能譜；

第四步、數(shù)據(jù)處理：首先建立每層放射性核素活度與兩個(gè)探測(cè)器凈計(jì)數(shù)率的方程組，采用填充介質(zhì)與放射性核素都在每層內(nèi)均勻分布的假設(shè)，計(jì)算初始效率矩陣，計(jì)算初始活度；然后計(jì)算每一層放射性核素的等效半徑，根據(jù)等效半徑更新效率矩陣，重新計(jì)算活度，重復(fù)此步驟直至活度結(jié)果收斂，實(shí)現(xiàn)雙探測(cè)器分段γ掃描。