[發(fā)明專利]一種使用靜止環(huán)狀射線阻擋陣列的錐束CT掃描和散射校正方法

無效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201010591774.8
• 申請(qǐng)日: 2010-12-16
• 公開（公告）號(hào): CN102068270A
• 公開（公告）日: 2011-05-25
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 牟軒沁;閆浩
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 西安交通大學(xué)
• 主分類號(hào): A61B6/03
• 分類號(hào): A61B6/03
• 代理公司: 西安通大專利代理有限責(zé)任公司 61200
• 代理人: 陸萬壽

1.一種使用靜止環(huán)狀射線阻擋陣列的錐束CT掃描和散射校正方法，其特征在于：使用靜止環(huán)狀BSA的掃描機(jī)械結(jié)構(gòu)進(jìn)行錐束CT掃描與散射校正，使用基于投影相關(guān)性的角度內(nèi)插PC-VI方法恢復(fù)被靜止環(huán)狀BSA阻擋的原發(fā)射線分量。

2.如權(quán)利要求1所述一種使用靜止環(huán)狀射線阻擋陣列的錐束CT掃描和散射校正方法，其特征在于，使用靜止環(huán)狀BSA的掃描機(jī)械結(jié)構(gòu)進(jìn)行錐束CT掃描：在通常的X光源點(diǎn)軌跡和平板探測器軌跡間內(nèi)，加入靜止的環(huán)狀BSA用來測量散射；環(huán)狀面材料為對(duì)X光低衰減的物質(zhì)，陣列單元材料為鉛或其他原子序數(shù)較高的對(duì)X光強(qiáng)衰減的物質(zhì)；靜止環(huán)狀BSA的結(jié)構(gòu)以及陣列材料的排列符合給定的要求：使PC-VI方法性能有效發(fā)揮的靜止環(huán)狀BSA的設(shè)計(jì)方法。

3.如權(quán)利要求1所述一種使用靜止環(huán)狀射線阻擋陣列的錐束CT掃描和散射校正方法，其特征在于，使用靜止環(huán)狀BSA進(jìn)行散射校正：

(a)投影測量數(shù)據(jù)I_A通常包含原發(fā)射線分量I_P和散射分量I_S，其中I_P為重建圖像所需數(shù)據(jù)；在使用環(huán)狀BSA測量I_S時(shí)，測量像素分兩類，一類為未被BSA遮擋像素，其測量所得信號(hào)為I_A^UB，包含原發(fā)射線分量I_P和散射分量I_S；另一類為有遮擋像素，其測量所得信號(hào)為I_S^B，為散射分量I_S在該位置的采樣值；

(b)對(duì)I_S^B做空域插值得到任意像素I_S的估計(jì)值I_S^～；對(duì)無遮擋像素，從I_A^UB中減去I_S^～即可得到原發(fā)射線分量計(jì)算值I_P^UB～；對(duì)被遮擋像素，其原發(fā)射線I_P^B～全丟失，利用PC-VI方法恢復(fù)被阻擋原發(fā)射線分量，記為I_P^B～；I_P^UB～與I_P^B～的集合I_P^～，即對(duì)CT重建所需原發(fā)射線投影I_P的計(jì)算結(jié)果。