[發明專利]一種用于核磁共振顯微檢測芯片的磁路

無效

• 申請號: 201010589378.1
• 申請日: 2010-12-15
• 公開（公告）號: CN102110513A
• 公開（公告）日: 2011-06-29
• 發明（設計）人: 陸榮生;吳衛平;易紅;倪中華
• 申請（專利權）人: 東南大學
• 主分類號: H01F7/02
• 分類號: H01F7/02;G01R33/383
• 代理公司: 南京天翼專利代理有限責任公司 32112
• 代理人: 查俊奎

1.一種用于核磁共振顯微檢測芯片的磁路，其特征在于：所述磁路包括從左到右依次排列的第一永磁體(101)，第一勻場板(201)，第二勻場板(202)，第二永磁體(102)，第一勻場板(201)與第二勻場板(202)之間留有間隙構成工作氣隙(401)，第一永磁體(101)和第二永磁體(102)的磁極方向相同，并通過導磁體連接。

2.按權利要求1所述的用于核磁共振顯微檢測芯片的磁路，其特征在于：所述的第一永磁體(101)和第二永磁體(102)為長方體、圓柱體、正方體或者橢圓柱。

3.按權利要求1或2所述的用于核磁共振顯微檢測芯片的磁路，其特征在于：所述的第一永磁體(101)和第二永磁體(102)由小永磁體拼接組成。

4.按權利要求1所述的用于核磁共振顯微檢測芯片的磁路，其特征在于：所述的第一勻場板(201)為內凹形成凹口(301)的圓柱體、長方體、正方體或者橢圓柱，所述的第二勻場板(202)為形狀規則的圓柱體、長方體、正方體或者橢圓柱。

5.按權利要求4所述的用于核磁共振顯微檢測芯片的磁路，其特征在于：所述的凹口(301)設有傾斜角。

6.按權利要求1所述的用于核磁共振顯微檢測芯片的磁路，其特征在于：所述的導磁體由三部分構成，與第一永磁體(101)外側磁極連接的第一導磁體(501)，與第二永磁體(102)外側磁極連接的第二導磁體(502)和連接第一導磁體(501)和第二導磁體(502)的第三導磁體(503)。