[發明專利]磁式位置檢測裝置

有效

• 申請號: 201010576962.3
• 申請日: 2010-12-02
• 公開（公告）號: CN102109359A
• 公開（公告）日: 2011-06-29
• 發明（設計）人: 福岡誠二;木戶利尚;鈴木啟史;毛受良一
• 申請（專利權）人: TDK株式會社
• 主分類號: G01D5/12
• 分類號: G01D5/12;G01D5/243
• 代理公司: 北京三幸商標專利事務所 11216
• 代理人: 劉激揚

1.一種磁式位置檢測裝置，其特征在于其包括磁傳感元件與多個磁性部件，該多個磁性部件的磁極面與上述磁傳感元件相對而排列；

鄰接的磁性部件與上述磁傳感元件相對一側的磁極面為相反極性，并且相互間隔開而設置。

2.一種磁式位置檢測裝置，其特征在于其包括磁傳感元件與多個磁性部件，該多個磁性部件按照磁極面與上述磁傳感元件相對而排列；

鄰接的磁性部件與上述磁傳感元件相對一側的磁極面為相反極性，并且相互間隔開而設置；

上述多個磁性部件還包括位于其間的一對軟磁性部；

上述一對軟磁性部與鄰接的磁性部件間隔開，并且相互磁耦合。

3.根據權利要求1或2所述的磁式位置檢測裝置，其特征在于上述多個磁性部件按照等間距排列。

4.根據權利要求1或2所述的磁式位置檢測裝置，其特征在于上述多個磁性部件為稀土類磁鐵。

5.根據權利要求1或2所述的磁式位置檢測裝置，其特征在于上述磁傳感元件為一對或多對，可專門地指定上述磁傳感元件相對上述多個磁性部件的位置。

6.根據權利要求1或2所述的磁式位置檢測裝置，其特征在于上述多個磁性部件呈直線狀或圓弧狀而排列。

7.根據權利要求1或2所述的磁式位置檢測裝置，其特征在于在上述多個磁性部件的排列間距為P，排列方向的各磁性部件的長度為X時，X/P在40％～60％的范圍內。

8.根據權利要求1或2所述的磁式位置檢測裝置，其特征在于在上述磁傳感元件相對上述多個磁性部件的行程范圍內，磁場在200Oe～700Oe的范圍內(其中，Oe＝(1000/4π)A/m)。

9.根據權利要求1或2所述的磁式位置檢測裝置，其特征在于上述磁傳感元件包括至少兩個霍爾元件，

在至少一個上述霍爾元件上設置磁軛；

上述磁軛在于上述霍爾元件上外加與感磁面平行的規定方向的外部磁場時，與上述感磁面相垂直的方向彎曲作用于上述感磁面位置的磁力線。

10.根據權利要求1或2所述的磁式位置檢測裝置，其特征在于：

上述磁傳感元件包括第1～第4霍爾元件；

上述第1～第4霍爾元件的感磁面與上述多個磁性部件的發生磁場基本平行；

在上述第1～第4霍爾元件上設置磁軛；

上述磁軛在于上述第1和第3霍爾元件上外加與上述多個磁性部件的排列方向平行的方向的外部磁場時，與上述感磁面相垂直的方向彎曲作用于上述第1和第3霍爾元件的上述感磁面位置的磁力線，在于上述第2和第4霍爾元件上外加與上述多個磁性部件的感磁面相垂直的方向的外部磁場時，與上述感磁面相垂直的方向彎曲作用于上述第2和第4霍爾元件的上述感磁面的位置的磁力線。

11.根據權利要求1或2所述的磁式位置檢測裝置，其特征在于：

上述磁傳感元件包括第1～第4霍爾元件；

上述第1～第4霍爾元件的感磁面與上述多個磁性部件相對的磁極面基本平行；

在至少上述第1和第3霍爾元件上設置磁軛；

上述磁軛在于上述第1和第3霍爾元件上外加與上述多個磁性部件的排列方向平行的方向的外部磁場時，與上述感磁面相垂直的方向彎曲作用于上述第1和第3霍爾元件的上述感磁面位置的磁力線。